专利名称：多温度点同步动态高温加速老化测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子技术领域，特别是涉及ー种多温度点同步动态高温加速老化测试设备。
背景技术：
随着石英晶体产品物理特性之尺寸规格多样化和电气特性之温度环境测试需求的温度与时间的升高与加长以适应不同环境的应用；为满足不同功能类型及各式尺寸的电子元件的高温环境测试需求，必须有对应的不同环境温度的测试设备。因现行的高温环境下动态测试设备采用测试回路与被测元件一同置于相同测试环境下，过程中测试信号的变 化无法界定是被测元件还是测试回路所造成；此ー测试方式受到测试回路元件耐受最高温度的影响，限制了测试温度的上限且因测试回路与被测元件一同置入测是环境下，所以需求较大的测试空间，并提高了不必要的能耗。所以如何能使用较少的能耗及同步完成多种元件及多种高温条件的测试，用以减少测试成本的投入及缩短新产品开发上市的时间变的越来越重要。因此，如何实现不同高温测试环境及超越测试回路耐受温度的限制，变成是满足该需求的最重要的技术环节。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供ー种多温度点同步动态高温加速老化测试设备，能有效区隔能耗需求范围，提供一种可同步多种高温环境及实现高于125°C的高温动态测试环境的晶振测试设备。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是提供ー种多温度点同步动态高温加速老化测试设备，包括十六组独立温度控制烤箱，待测物固定线路板，测试探针子板，隔热板和测试主板以及带有控制软件的计算机，所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板、隔热板和测试探针子板，其中，测试探针子板上的探针与所述待测物固定线路板上的探针接触点相接触；所述测试探针子板上还设有测试主板，测试主板与计算机相连。所述独立温度控制烤箱包括内部加热装置，所述内部加热装置与导热体形成加热盘，所述加热盘上具有加热室，加热室的尺寸与待测物外型匹配。所述的待测物固定线路板是依据不同类型晶振外型焊接脚垫所制作成的PCB板。所述的待测物固定线路板为双面PCB板,一面固定有晶振，另一面固定有探针接触点。所述待测物固定线路板与独立温度控制烤箱之间通过螺丝固定。有益效果由于采用了上述的技术方案，本实用新型与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果本实用新型提供一种可多温度点同步高温加速老化动态测试机，突破了原有ー个测试机只能供一种测试温度使用的局限，该实用新型实现了十六个温度点同步高温老化动态测试及最高180°C的高温测试条件，減少了在使用过程中测试回路在高温下帯来的误差影响，減少设备投资成本，满足了测试稳定性的要求，也给使用操作带来很大方便性。
图I是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例，进ー步阐述本实用新型。应理解，这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解，在阅读了本实用新型讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。本实用新型的实施方式涉及ー种多温度点同步动态高温加速老化测试设备，如图I所示，包括十六组独立温度控制烤箱，待测物固定线路板1，测试探针子板2，隔热板3和测试主板4以及带有控制软件的计算机，所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板I、隔热板3和测试探针子板2，其中，测试探针子板2上的探针与所述待测物固定线路板I上的探针接触点相接触；所述测试探针子板2上还设有测试主板4，测试主板4与计算机相连。其中，所述独立温度控制烤箱包括内部加热装置，所述内部加热装置与导热体形成加热盘5，所述加热盘5上具有加热室，加热室的尺寸与待测物外型匹配，加热盘5放置在保温外层6上。待测物固定线路板I是依据不同类型晶振外型焊接脚垫所制作成的PCB板，所述待测物固定线路板I为双面使用，其中一面固定不同晶振用，另一面为固定大小及间距的测试接点做为探针接触使用。所述的测试探针子板2 (含震荡回路)是由集成电路与配合的被动元件及测试用探针组合而成。所述的计算机控制软件做为各加热箱模块温度及启动/停止的控制及测试时间的计算及测试数据的保存。在测试探针子板2与待测物固定线路板I间加入隔热板3，测试探针接触待测物固定线路板I外侧的固定测试点，使测试探针子板2上的测试回路所用的集成电路及相关配合元件，处于室温环境下。本实用新型中通过独立温度控制烤箱中的多孔模加热盘做为小型加热室以PCB转换隔离在以探针透过隔热层连接测试，达到可以满足高于125°C高温环境测试需求的目的，并通过相同模块多个并连以计算机软件分别进行程序控制，达到可以满足多温度点同步测试。
权利要求1.ー种多温度点同步动态高温 加速老化测试设备，包括十六组独立温度控制烤箱，待测物固定线路板(I)，测试探针子板(2)，隔热板(3)和测试主板(4)以及带有控制软件的计算机，其特征在于，所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板(I)、隔热板(3)和测试探针子板(2)，其中，测试探针子板(2)上的探针与所述待测物固定线路板(I)上的探针接触点相接触；所述测试探针子板(2)上还设有测试主板(4)，测试主板(4)与计算机相连。
2.根据权利要求I所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备，其特征在于，所述独立温度控制烤箱包括内部加热装置，所述内部加热装置与导热体形成加热盘(5)，所述加热盘(5)上具有加热室，加热室的尺寸与待测物外型匹配。
3.根据权利要求I所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备，其特征在于，所述的待测物固定线路板(I)是依据不同类型晶振外型焊接脚垫所制作成的PCB板。
4.根据权利要求I所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备，其特征在于，所述的待测物固定线路板(I)为双面PCB板，一面固定有晶振，另一面固定有探针接触点。
5.根据权利要求I所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备，其特征在于，所述待测物固定线路板(I)与独立温度控制烤箱之间通过螺丝固定。
专利摘要本实用新型涉及一种多温度点同步动态高温加速老化测试设备，包括十六组独立温度控制烤箱，待测物固定线路板，测试探针子板，隔热板和测试主板以及带有控制软件的计算机，所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板、隔热板和测试探针子板，其中，测试探针子板上的探针与所述待测物固定线路板上的探针接触点相接触；所述测试探针子板上还设有测试主板，测试主板与计算机相连。本实用新型能有效区隔能耗需求范围，提供一种可同步多种高温环境及实现高于125℃的高温动态测试环境的晶振测试设备。
文档编号G01R31/00GK202393847SQ20112050627
公开日2012年8月22日 申请日期2011年12月8日 优先权日2011年12月8日
发明者陈定夫 申请人:台晶(宁波)电子有限公司