专利名称：一种基于usb转iic协议的芯片测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统。
背景技术：
数字集成电路设计(IC设计)一般有以下流程
I.系统功能设计阶段
设计人员产品的应用场合，设定一些诸如功能、操作速度、接口规格、环境温度及消耗功率等规格，以做为将来电路设计时的依据。更可进一步规划软件模块及硬件模块该如何划分。2.设计描述和行为级验证
系统功能设计完成后，可以依据功能将SOC划分为若干功能模块，并决定实现这些功能将要使用的IP核。此阶段将接影响了 SOC内部的架构及各模块间互动的信号，及未来产品的可靠性。决定模块之后，可以用VHDL或Verilog等硬件描述语言实现各模块的设计。 接着，利用VHDL或Verilog的电路仿真器,对设计进行功能验证。3.逻辑综合
确定设计描述正确后，可以使用逻辑综合工具(synthesizer)进行综合。
4.门级验证
门级功能验证是寄存器传输级验证。主要的工作是要确认经综合后的电路是否符合功能需求，该工作一般利用门电路级验证工具完成。5.布局和布线
布局指将设计好的功能模块合理地安排在芯片上，规划好它们的位置。布线则指完成各模块之间互连的连线。6.流片测试
通过半导体工艺制造出所设计的芯片，用以测试。7.大规模量产。
发明内容
本发明应用于芯片流片成功后的板级测试阶段，在芯片大规模生产之前一般需要对其进行“试生产”也就是流片，对流片后的样品进行检测验证，用以检测集成电路设计是否成功，功能是否满足要求等，
为达到上述目的，本发明采用的技术方案是一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，其特征在于包括上位机、测试板、IIC总线；
所述的上位机通过USB接口与测试板连接，用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；
所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。
本发明的第一优选方案为，所述的USB接口为USB2. O接口。本发明的第二优选方案为，所述的USB协议为USB2. O协议。本发明的第三优选方案为，所述的内设测试软件为可视化界面。本发明的第四优选方案为，所述的测试板包括芯片Cy68013。本发明的技术优势在于能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。下面结合附图和具体实施方式
对发明做进一步说明。
图I为本实施例结构示意图。
具体实施例方式参考图1，一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、Iic总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接，用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。USB接口为USB2. O接口。USB协议为USB2. O协议。内设测试软件为可视化界面。测试板包括芯片Cy68013。具体实现方法包括以下步骤
(O操作者通过可视化界面把数据输入上位机,上位机内部软件把数据格式化成 USB2. O协议的数据，然后通过USB接口把数据发送出去；
(2)上位机软件发送来的数据通过USB2. O接口进入到板级芯片Cy68013中，在 Cy68013中完成USB2. O到IIC协议转化，最后IIC总线把数据发送出去。(3) IIC总线根据扇区地址把数据配送到各个寄存器、Memory等接口中。(4)各个接口、寄存器的接收数据，经过芯片功能逻辑运算后，再通过这个链路返回到PC端，显示。上位机软件
上位机内部软件包括read按钮、write按钮、对话框、根据芯片的模块划分成不同的功能页，功能页内包涵着对应的寄存器，使用寄存器ID对其进行排序，每个寄存器有读写两种操作，点击read按钮可以读取寄存器内的数据，并且返回到相应的窗体上；点击write按钮，可以把相应对话框中的数据写到寄存器中，如果读写正常会有相应的提示。 在最下端有记录操作的对话框。b) USB到IIC协议转换
在测试版中搭载了 Cypress公司的Cy68013芯片，芯片连接到PC机的USB接口端可以接受PC传输过来的数据，在Cy68013芯片中集成了 8051单片机，使用8051的两个普通I/ O 口可的模拟出IIC总线协议，数据通过IIC总线发送出去。c) IIC总线到芯片端
在IIC总线搭载的数据中包含了各个寄存器的扇区地址，各个寄存器通过扇区地址寻址找到相应的数据，数据进入相应的寄存器经过逻辑运算后重新返回Iic总线，根据原链路反送回去。
权利要求
1.一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，其特征在于包括上位机、测试板、IIC总线；所述的上位机通过USB接口与测试板连接，用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。
2.一种基于USB转ICC协议的芯片测试系统，其特征在于所述的USB接口为USB2. O接口。
3.根据权利要求I或2所述的一种基于USB转ICC协议的芯片测试系统，其特征在于 所述的USB协议为USB2. O协议。
4.根据权利要求I所述的一种基于USB转ICC协议的芯片测试系统，其特征在于所述的内设测试软件为可视化界面。
5.根据权利要求I所述的一种基于USB转ICC协议的芯片测试系统，其特征在于所述的测试板包括芯片Cy68013。
全文摘要
本发明涉及一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。
文档编号G01R31/28GK102608520SQ20121005912
公开日2012年7月25日 申请日期2012年3月8日 优先权日2012年3月8日
发明者王茂海 申请人:无锡华大国奇科技有限公司