专利名称：一种变倍自适应速度曲线测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型属于安防监控领域，尤其是一种变倍自适应速度曲线测试系统。
背景技术：
目前，在视频监控领域，当监控不同距离的对象时，需要调整摄像机变倍参数才能看清监控对象。如果此时监控对象处在运动之中，需要云台跟踪速度与其摄像机变倍同时协调工作，才能保证监控对象一直处在最佳观察视场中，这种速度与变倍的配合，就是变倍与速度的自适应。产品的变倍自适应速度测试，也就是测试不同变倍下的速度值，验证其速度与变倍自适应情况并绘制曲线。目前，在进行变倍自适应速度测试时，往往需要三个或更多的测试者进行协同测试，在变倍等级的确定上，要用测试卡对比监视器，再由人工计算将变倍等级转换成测试卡上的刻度；另外，人工秒表计时，也会引入测量的误差。
发明内容本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种设计合理、精度高、速度快的变倍自适应速度曲线测试系统。本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的一种变倍自适应速度曲线测试系统，包括上位机、中央处理器单元、信号触发与采集单元和安装支架，上位机、中央处理器单元和信号触发与采集单元依次相连接，信号触发与采集单元固装在安装支架上对安装支架上的被测设备进行数据采集并发送至中央处理器单元，中央处理器单元进行运算处理后传送给上位机生成不同变倍等级下速度变化曲线图。而且，所述的中 央处理器单元通过串口与上位机相连接，所述的中央处理器单元通过中断接口与信号触发与采集单元相连接。而且，所述的信号触发与采集单元由反相器芯片及三个水平测速光耦构成，三个水平测速光耦连接到反相器芯片上，反相器芯片连接到中央处理器单元的中断接口上。而且，所述的被测设备安装在安装支架的中央位置上，在被测设备一侧的安装支架上安装有测试挡片，三个水平测速光耦安装在被测设备周围的安装支架上。而且，所述的第一水平测速光耦和第二水平测速光耦与安装支架中心所成的角度为60度，用于被测设备的加速测试；所述的第二水平测速光耦和第三水平测试光耦与安装支架中心所成的角度为90度，用于被测设备的匀速测试。本实用新型的优点和积极效果是本实用新型设计合理，其采用上位机、中央处理器单元、安装支架、信号触发与采集单元四个部分协同工作，不仅解决了人工测量带来的误差问题，而且实现了只用上位机发送起始测试指令，中央处理器单元就能自动完成所有的变倍等级以及速度等级的自动测试，提高测试的准确度和和自动化测试水平。
图1是本实用新型的系统原理框图；图2是本实用新型的电路原理图；图3是本实用新型的安装支架与被测设备的位置关系示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步详述。一种变倍自适应速度曲线测试系统，如图1所示，包括上位机11、中央处理器单元12、信号触发与采集单元14和安装支架13，上位机、中央处理器单元和信号触发与采集单元依次相连接，信号触发与采集单元固装在安装支架上并对被测设备进行数据采集并将其发送至中央处理器单元，中央处理器单元进行运算处理后传送给上位机生成不同变倍等级下速度变化曲线图。下面对系统中的各个部分分别进行说明上位机与中央处理器单元相连接，用于向中央处理器单元发送参数测量指令，并将其接收到的上传数据进行相应处理，生成一组不同变倍等级下的平滑速度等级曲线图。该曲线图的水平横轴为O到63个速度等级，垂直纵轴为实测速度值，一个变倍等级绘制成一条曲线，这组曲线的特点是越接近纵轴的曲线，变倍等级越小。如图2所示，中央处理器单元采用Atmegal28单片机，该中央处理器单元通过串口与上位机相连接，通过中断接口与信号触发与采集单元相连接。中央处理器单元用于将接收到上位机的协议命令进行解析，通过协议解析，建立被测设备中摄像机的变倍等级与被测设备运动速度等级的自动测试，同时接受信号触发与采集单元的电平跳变信号，将所接收到的参数值进行运算处理，再通过串口返回给上位机生成不同变倍等级下速度变化曲线图。
如图2所示，信号触发与采集单元由反相器芯片15的SN74HC14D及三个水平测速光耦构成，光耦一 16、光耦二 17、光耦18连接到SN74HC14D反相器芯片上，该SN74HC14D反相器芯片与中央处理器单元Atmegal28芯片的中断接口相连接，信号触发与采集单元能够将触发信号传递给中央处理器单元进行处理。如图3所示，安装支架用于安装被测设备和三个水平测速光耦。被测设备固装在安装支架的中央位置上，三个光耦固装在被测设备周围，其中光耦一和光耦二与安装支架中心所成的角度为60度，用于被测设备的加速测试，光耦二和光耦三之间与安装支架中心所成的角度为90度，用于被测设备的匀速测试。在安装支架上的被测设备旁安装一个测试挡片19，当被测设备运动时，测试挡片通过光耦时将会使光耦的电平产生跳变，中央处理器单元通过接收到的信号进行外部中断计时。本实用新型的工作过程为首先，上位机将变倍等级和速度等级最大值发送给中央处理器单元，并启动开始测试指令。其次，中央处理器单元收到上位机下达的指令后，通过规定的协议，对指令进行解析，设置变倍速度等级，同时控制被测设备运行。当被测设备上固定的测试挡片经过信号触发与采集单元中的光耦时，电平信号通过信号触发与采集单元的反相器芯片SN74HC14D传递给中央处理器单元，光耦一与光耦二用于被测设备的加速测试，光耦二与光耦三用于被测设备的匀速测试。当测试挡片经过光耦一时，中央处理器单元处于等待接收状态，准备接收光耦二、光耦三的触发信号，当测试挡片经过光耦二时，中央处理器单元开始计时，当测试挡片经过光耦三时，中央处理器单元停止计时。根据光耦二、光耦三的时间间隔，与运行的角度90度，计算出该变倍等级和速度等级下的实测速度值，并返回给上位机。一般从最大变倍等级值开始测试，在该变倍等级下，从速度等级最大值开始测试，一直到最小值，然后变倍等级值减一，接着进行下一变倍等级的速度等级测试，测试过程与上一变倍等级的速度等级测试相同。直到变倍等级值最小时，测试结束。所以一个变倍等级会对应一条速度等级实测速度曲线，最后会生成一组与变倍等级相关联的速度自适应曲线图。垂直方向上的变倍自适应速度曲线测试过程，同水平方向上的类似。需要强调的是，本实用新型所述的实施例是说明性的，而不是限定性的，因此本实用新型包括并不限于具体实施方式
中所述的实施例，凡是由本领域技术人员根据本实用新型的技术方案得出的其他实施方式，同样属于本实用新型 保护的范围。
权利要求1.一种变倍自适应速度曲线测试系统，其特征在于包括上位机、中央处理器单元、信号触发与采集单元和安装支架，上位机、中央处理器单元和信号触发与采集单元依次相连接，信号触发与采集单元固装在安装支架上对安装支架上的被测设备进行数据采集并发送至中央处理器单元，中央处理器单元进行运算处理后传送给上位机生成不同变倍等级下速度变化曲线图。
2.根据权利要求1所述的一种变倍自适应速度曲线测试系统，其特征在于所述的中央处理器单元通过串口与上位机相连接，所述的中央处理器单元通过中断接口与信号触发与采集单元相连接。
3.根据权利要求1或2所述的一种变倍自适应速度曲线测试系统，其特征在于所述的信号触发与采集单元由反相器芯片及三个水平测速光耦构成，三个水平测速光耦连接到反相器芯片上，反相器芯片连接到中央处理器单元的中断接口上。
4.根据权利要求3所述的一种变倍自适应速度曲线测试系统，其特征在于所述的被测设备安装在安装支架的中央位置上，在被测设备一侧的安装支架上安装有测试挡片，三个水平测速光耦安装在被测设备周围的安装支架上。
5.根据权利要求4所述的一种变倍自适应速度曲线测试系统，其特征在于所述的第一水平测速光耦和第二水平测速光耦与安装支架中心所成的角度为60度，用于被测设备的加速测试；所述的第二水平测速光耦和第三水平测试光耦与安装支架中心所成的角度为90度，用于被测设备的匀速测试。
专利摘要本实用新型涉及一种变倍自适应速度曲线测试系统，包括上位机、中央处理器单元、信号触发与采集单元和安装支架，上位机、中央处理器单元和信号触发与采集单元依次相连接，信号触发与采集单元固装在安装支架上对安装支架上的被测设备进行数据采集并发送至中央处理器单元，中央处理器单元进行运算处理后传送给上位机生成不同变倍等级下速度变化曲线图。本实用新型设计合理，不仅解决了人工测量带来的误差问题，而且实现了只用上位机发送起始测试指令，中央处理器单元就能自动完成所有的变倍等级以及速度等级的自动测试，提高测试的准确度和和自动化测试水平。
文档编号G01M11/00GK202907107SQ20122053098
公开日2013年4月24日 申请日期2012年10月17日 优先权日2012年10月17日
发明者赵俊芳, 陈威 申请人:天津市亚安科技股份有限公司