软磁圆环形产品电感测试的方法
【专利摘要】本发明提供了一种软磁圆环形产品电感测试的方法，包括以下步骤：先固定磁环，再将上治具的第一信号接点与下治具的第二信号接点插置于磁环中空的区域，并使第一信号接点与第二信号接点电性导接，使电信号导通，进而测出磁环的电感量，便于大规模的对磁环进行测试，相对于以往的每测试一个产品要进行相应的圈数绕线，测试完后又要拆线的方式，提高了生产效率，避免铜线的浪费，大大节约了成本。
【专利说明】软磁圆环形产品电感测试的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电感测试的方法，尤其涉及一种软磁圆环形产品电感测试的方法。
【背景技术】
[0002]目前市场上使用的一种磁环的测试方法，具体如下，首先提供一磁环，所述磁环呈封闭的圆环状，再提供一导线，并将导线(铜线)缠绕在所述磁环的表面，在磁环的表面形成多匝线圈，然后再对导线通电测试。上述做法，每测试一个产品要进行相应的圈数绕线，测试完后又要拆线，无法实现自动化操作，极大的浪费铜线，导致效率低下，当产品数量较多时，甚至没办法实现全检，经常有不良品流出。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于克服现有技术之缺陷，提供了一种高效、快捷的软磁圆环形产品电感测试的方法。
[0004]本发明是这样实现的:一种软磁圆环形产品电感测试的方法，包括以下步骤:
[0005](1)、提供一磁环，所述磁环具有中空的一区域；
[0006](2)、提供一测试治具，其具有一上治具、一下治具，以及设置于所述上治具和下治具之间的一固定座，所述上治具的下表面凸设多个第一信号接点，所述下治具的上表面凸设多个第二信号接点，每一所述第一信号接点对应每一所述第二信号接点；
[0007](3)、将所述磁环固定于所述固定座；
[0008](4)、驱动所述上治具向下运动，所述下治具向上运动，使所述第一信号接点进入所述磁环中空的区域，所述第二信号接点进入所述磁环中空的区域，且每一所述第一信号接点与对应的每一所述第二信号接点接触，使电信号通过第一信号接点与所述第二信号接点导接；
[0009]( 5)、分离所述上治具和所述下治具，并取出所述磁环。
[0010]进一步地，所述上治具通过一第一气缸推动，所述下治具通过一第二气缸推动。
[0011]进一步地，所述测试治具具有一支架，所述固定座设置于所述支架，所述上治具和下治具分别设置于所述支架，且可相对所述支架滑动。
[0012]进一步地，所述第一信号接点与所述第二信号接点交错设置。
[0013]进一步地，所述第一信号接点为插针，所述第二信号接点的上表面向下凹设多个凹孔，每一所述插针对应每一所述凹孔。
[0014]更进一步地，所述第一信号接点与所述第二信号接点接触时，形成闭合的一回路，且所述第一信号接点的数量为三。
[0015]进一步地，所述第一信号接点于所述上治具上呈圆环状设置，所述第二信号接点于所述下治具上呈圆环状设置。
[0016]进一步地，所述上治具包括一第一主体部，以及设置于所述第一主体部前端的一第一固定盘，所述第一固定盘突出所述第一主体部上、下表面，所述第一主体部中设置多个第一引线，所述第一固定盘中设置所述第一信号接点，每一所述第一引线对应并焊接在每一所述第一信号接点上。
[0017]进一步地，所述下治具包括一第二主体部，以及设置于所述第二主体部前端的第二固定盘，所述第二固定盘突出所述第二主体部上、下表面，所述第二固定盘对应所述第一固定盘，所述第二主体部中设置多个第二引线，所述第二固定盘中设置所述第二信号接点，每一所述第二引线对应并焊接在每一所述第二信号接点上。
[0018]进一步地，所述测试治具上设置一数字电桥，所述数字电桥用以显示测试值，所述数字电桥分别与第一引线、第二引线电性连接。
[0019]本发明提供一种一种软磁圆环形产品电感测试的方法，包括以下步骤:先固定磁环，再将上治具的第一信号接点与上治具的第二信号接点插置于磁环中空的区域，并使第一信号接点与第二信号接点电性导接，使电信号导通，进而测出磁环的电感量，便于大规模的对磁环进行测试，相对于以往的每测试一个产品要进行相应的圈数绕线，测试完后又要拆线的方式，提高了生产效率，避免铜线的浪费，大大节约了成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0021]图1为本发明提供的先前技术的示意图；
[0022]图2为本发明实施例提供的立体图；
[0023]图3为本发明实施例提供的剖视图。
【具体实施方式】
[0024]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0025]请参见图1、图2和图3，本发明实施例提供一种软磁圆环形产品电感测试的方法，其包括一磁环4和一测试治具，具体使用方法请参见以下说明。
[0026]第一步，请参见图1、图2和图3，提供一磁环4，所述磁环4呈一封闭的环状，其中部镂空，即所述磁环具有中空的一区域。
[0027]第二步，请参见图1、图2和图3，提供一测试治具，其具有一上治具1、一下治具2，以及设置于所述上治具1和下治具2之间的一固定座3，所述上治具1通过一第一气缸推动，所述下治具2通过一第二气缸推动。所述测试治具还具有一支架5，所述固定座3设置于所述支架5，所述上治具1和下治具2分别设置于所述支架5，且可相对所述支架5滑动，以便于所述上治具1和下治具2的自由移动。
[0028]请参见图1、图2和图3，所述上治具1的下表面凸设多个第一信号接点13，所述下治具2的上表面凸设多个第二信号接点23，每一所述第一信号接点13对应每一所述第二信号接点23，所述第一信号接点13于所述上治具1上呈圆环状设置，所述第二信号接点23于所述下治具2上呈圆环状设置，以对应所述磁环4中空的区域，便于所述第一信号接点13和所述第一信号接点13插入所述磁环4中空的区域。所述第一信号接点13与所述第二信号接点23交错设置，所述第一信号接点13为插针，所述第二信号接点23的上表面向下凹设多个凹孔，每一所述插针对应每一所述凹孔。所述第一信号接点13与所述第二信号接点23接触时，形成闭合的一回路，且所述第一信号接点13的数量为三，所述第二信号接点23的数量为三。当然，不能限制所述第一信号接点13和第二信号接点23的数量，应当根据实际的需要，选择所述第一信号接点13和第二信号接点23的数量。
[0029]请参见图1、图2和图3，所述上治具1包括一第一主体部11，以及设置于所述第一主体部11前端的一第一固定盘12,所述第一固定盘12突出所述第一主体部11上、下表面，便于所述第一固定盘12的拆卸和维修，所述第一主体部11中设置多个第一引线，所述第一固定盘12中设置所述第一信号接点13，每一所述第一引线对应并焊接在每一所述第一信号接点13上，使所述第一引线与所述第一信号接点13电性导接，便于更换和维修。
[0030]请参见图1、图2和图3，所述下治具2包括一第二主体部21，以及设置于所述第二主体部21前端的第二固定盘22，所述第二固定盘22突出所述第二主体部21上、下表面，便于所述第二固定盘22的拆卸和维修，所述第二固定盘22对应所述第一固定盘12，所述第二主体部21中设置多个第二引线，所述第二固定盘22中设置所述第二信号接点23，每一所述第二引线对应并焊接在每一所述第二信号接点23上，使所述第一引线与所述第一信号接点13电性导接，便于更换和维修。所述测试治具上设置一数字电桥，所述数字电桥用以显示测试值，所述数字电桥分别与第一引线、第二引线电性连接。
[0031]第三步，请参见图1、图2和图3，将所述磁环4固定于所述固定座3，使所述磁环4中空的区域对准所述第一信号接点13和第二信号接点23，便于所述第一信号接点13和第二信号接点23进入中空的区域，防止第一信号接点13和第二信号接点23与所述磁环4发生撞击，导致第一信号接点13和第二信号接点23损坏，或者磁环4被破坏。
[0032]第四步，请参见图1、图2和图3，驱动所述上治具1向下运动，所述下治具2向上运动，使所述第一信号接点13进入所述磁环4中，所述第二信号接点23进入所述磁环4中，且每一所述第一信号接点13与对应的每一所述第二信号接点23接触，即所述所述第一信号接点13与所述第二信号接点23电性导接，所述插针插置于所述凹孔中，也可防止所述插针在与所述凹孔对接时产生错位，保证所述第一信号接点13与所述第二信号接点23电性导接时，电信号的良好传输。
[0033]第五步，请参见图1、图2和图3，分离所述上治具1和所述下治具2，并取出所述磁环4，由于所述第一引线连接所述第一信号接点13，所述第二引线连接所述第二信号接点23，且所述第一信号接点13与所述第二引线接点23连接形成回路，故所述第一信号接点13与所述第二引线连接时，产生了一个闭合的线圈，可测出软磁环4型产品的电感量，再将相应的数据显示在数字电桥中，读取数字电桥中显示的数字或者信号，便于判断磁环4的相关设计是否符合要求。最后再驱动所述上治具1向上运动，所述下治具2向下运动，使所述所述上治具与所述下治具2分离，将所述磁环4从所述固定座3上取出。
[0034]本发明所述测试治具自动的测试方式，实现了所述磁环4的快速测试，所述第一信号接点13和所述第二信号接点23采用对接的方式，插置于所述磁环4中空的区域，所述第一信号接点13和所述第二信号接点23形成回路，使电信号导通，进而测出磁环4的电感量，便于大规模的对磁环4进行测试，相对于以往的每测试一个产品要进行相应的圈数绕线，测试完后又要拆线的方式，提高了生产效率，避免铜线的浪费，大大节约了成本。
[0035]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于，包括以下步骤: (1)、提供一磁环，所述磁环具有中空的一区域； (2)、提供一测试治具，其具有一上治具、一下治具，以及设置于所述上治具和下治具之间的一固定座，所述上治具的下表面凸设多个第一信号接点，所述下治具的上表面凸设多个第二信号接点，每一所述第一信号接点对应每一所述第二信号接点； (3)、将所述磁环固定于所述固定座； (4)、驱动所述上治具向下运动，所述下治具向上运动，使所述第一信号接点进入所述磁环中空的区域，所述第二信号接点进入所述磁环中空的区域，且每一所述第一信号接点与对应的每一所述第二信号接点接触，使电信号通过第一信号接点与所述第二信号接点导接； (5)、分离所述上治具和所述下治具，并取出所述磁环。
2.如权利要求1所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述上治具通过一第一气缸推动，所述下治具通过一第二气缸推动。
3.如权利要求1所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述测试治具具有一支架，所述固定座设置于所述支架，所述上治具和下治具分别设置于所述支架，且可相对所述支架滑动。
4.如权利要求1所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述第一信号接点与所述第二信号接点交错设置。
5.如权利要求1所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述第一信号接点为插针，所述第二信号接点的上表面向下凹设多个凹孔，每一所述插针对应每一所述凹孔。
6.如权利要求5所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述第一信号接点与所述第二信号接点接触时，形成闭合的一回路，且所述第一信号接点的数量为三。
7.如权利要求1所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述第一信号接点于所述上治具上呈圆环状设置，所述第二信号接点于所述下治具上呈圆环状设置。
8.如权利要求1所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述上治具包括一第一主体部，以及设置于所述第一主体部前端的一第一固定盘，所述第一固定盘突出所述第一主体部上、下表面，所述第一主体部中设置多个第一引线，所述第一固定盘中设置所述第一信号接点，每一所述第一引线对应并焊接在每一所述第一信号接点上。
9.如权利要求8所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述下治具包括一第二主体部，以及设置于所述第二主体部前端的第二固定盘，所述第二固定盘突出所述第二主体部上、下表面，所述第二固定盘对应所述第一固定盘，所述第二主体部中设置多个第二引线，所述第二固定盘中设置所述第二信号接点，每一所述第二引线对应并焊接在每一所述第二信号接点上。
10.如权利要求8所述的软磁圆环形产品电感测试的方法，其特征在于:所述测试治具上设置一数字电桥，所述数字电桥用以显示测试值，所述数字电桥分别与第一引线、第二引线电性连接。
【文档编号】G01R33/12GK104345287SQ201310315323
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2013年7月24日 优先权日:2013年7月24日
【发明者】周维波 申请人:惠州铂科磁材有限公司