一种元素检测标样配制及应用方法
【专利摘要】一种元素检测标样配制方法，将可被X射线荧光吸收的纯物质与不被X射线荧光吸收的物质按不同的比例混合,制成单一可被X射线荧光吸收的纯物质梯级标样。应用方法为：将所需不同的可被X射线荧光吸收的纯物质梯级标样组合形成多种元素梯级组合标样，根据多种元素梯级组合标样制测定相应的标准曲线；测其荧光X射线的理论强度，与待检样测定的荧光X射线的实测强度与标准曲线比较，而得到待检样中元素的含量。优点是：操作简单、方便、快捷。
【专利说明】一种元素检测标样配制及应用方法
[0001]【技术领域】
本发明涉及元素检测分析【技术领域】，具体说涉及一种元素检测标样配制及分析技术。
[0002]【背景技术】
目前在水泥、钢铁、冶金、化工、地质、有色、环保、商检、卫生等行业需要对所用矿石、物料等用X-荧光仪通过X射线吸收谱分析法(X射线吸收谱分析法可测量透过样品的X射线强度随波长的变化，根据所揭示的吸收限的波长，即可鉴定样品中所存在的元素，再通过测定各吸收限上所出现的吸收强度的变化，进行定量分析)进行元素检测分析，通常应用的方法是实测强度与理论强度的比较，以水泥为例:先用X-荧光仪检测某个标准产品，得到有含有多个元素(二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、氧化钙、氧化镁)的单个标样，再检测另外几标准产品，得一组含有多个元素的单个标样，从一组含有多个元素的单个标样中筛选若干个合适的单个标样，形成梯级值组合样本，然后根据梯级值组合样本建立检测样品的标准曲线，然后再将待检样通过荧光仪检测分析，得检样曲线，将待检样曲线与标准曲线进行比对计算，而得到待检样中元素的含量。
[0003]本此标准产品比较法的缺点是:用标准产品建立检测样品的标准曲线，检测工作量大，且含有多个元素的单个标样中由于含有多个元素，从而限制了使用范围。
[0004]
【发明内容】
本发明的目的是针对目前X-荧光仪在进行元素检测分析应用领域中，通常应用的方法是标准产品比较法，针对上述之不足，而提供一种元素检测标样配制及应用方法。
[0005]元素检测标样配制方法为:
元素检测标样配制方法为:
将可被X射线荧光吸收的纯物质与不被X射线荧光吸收的物质按不同的比例混合，制成单一可被X射线荧光吸收的纯物质梯级标样。
[0006]不被X射线吸收的物质是是四硼酸锂或偏硼酸锂。
[0007]可被X射线荧光吸收的纯物质是元素或氧化物。
[0008]元素检测标样的应用方法为:将所需不同的可被X射线荧光吸收的纯物质梯级标样组合形成多种元素梯级组合标样，根据多种元素梯级组合标样制测定相应的标准曲线；测其荧光X射线的理论强度，与待检样测定的荧光X射线的实测强度与标准曲线比较，而得到待检样中元素的含量。
[0009]本发明的优点是:本单一元素检测标样配制及应用方法，操作简单、方便、快捷。且由于单一元素梯级标样中只含一种检测元素，因而多个不同元素的单一元素梯级标样可任意组合，形成不同的标准曲线，可广泛用于对水泥、钢铁、冶金、化工产品中的元素分析。
[0010]【具体实施方式】 以水泥检测为例:
将分析纯的二氧化硅与四硼酸锂按质量10:90、9:91、8:92、7:93、6:94，5:95的比例混合，得6个二氧化硅含量不同的单一化合物检测标样，将6个二氧化硅含量不同的单一化合物检测标样组合成二氧化硅梯级标样。以此法再配制得铝元素梯级标样、铁元素梯级标样、铜元素梯级标样和镁元素梯级标样，然后将二氧化硅梯级标样、铝元素梯级标样、铁元素梯级标样、铜元素梯级标样和镁元素梯级标样组合形成5个元素梯级组合标样，根据5个元素梯级组合标样制定相应的标准曲线；然后再将待检样通过荧光仪检测分析，得检样曲线，将待检样曲线与标准曲线进行比对计算，而得到待检样中二氧化硅、铝、铁、铜和镁元素的含量。
【权利要求】
1.一种元素检测标样配制方法，其特征在于元素检测标样配制方法为: 将可被X射线荧光吸收的纯物质与不被X射线荧光吸收的物质按不同的比例混合，制成单一可被X射线荧光吸收的纯物质梯级标样。
2.根椐权利要求1所述的一种元素检测标样配制方法，其特征在于不被X射线吸收的物质是是四硼酸锂或偏硼酸锂。
3.根椐权利要求1或2所述的一种元素检测标样配制方法，其特征在于可被X射线荧光吸收的纯物质是元素或氧化物。
4.根椐权利要求1、2所述的一种元素检测标样配制方法，其特征在于元素检测标样的应用方法为:将所需不同的可被X射线荧光吸收的纯物质梯级标样组合形成多种元素梯级组合标样，根据多种元素梯级组合标样制测定相应的标准曲线；测其荧光X射线的理论强度，与待检样测定的荧光X射线的实测强度与标准曲线比较，而得到待检样中元素的含量。
5.根椐权利要求3所述的一种元素检测标样配制方法，其特征在于元素检测标样的应用方法为:将所需不同的可被X射线荧光吸收的纯物质梯级标样组合形成多种元素梯级组合标样，根据多种元素梯级组合标样制测定相应的标准曲线；测其荧光X射线的理论强度，与待检样测定的荧光X射线的实测强度与标准曲线比较，而得到待检样中元素的含量。
【文档编号】G01N1/28GK103575581SQ201310316055
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2013年7月25日 优先权日:2013年7月25日
【发明者】付晓红, 郭成洲 申请人:葛洲坝集团水泥有限公司