一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置的制作方法

文档序号:6043700阅读:665来源:国知局
专利名称:一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置的制作方法
技术领域
本实用新型应用于平板显示屏检测装置领域,特别涉及一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置。
背景技术
平板显示屏自动光学检测设备,是针对平板显示行业的TFT-1XD (Thin FilmTransistor Liquid Crystal Display,薄膜场效应晶体管-液晶显不器)、AM_0LED(ActiveMatrix/Organic Light Emitting Diode,主动矩阵有机发光二极体面板)屏质量进行检测的设备。这种设备可以检测显示屏的电测性能及本身固有的缺陷,比如黑点、白点、暗线、亮线、姆拉(mura)等。现有技术中,通常采用一个背光源对点亮的屏幕进行打光,人眼进行识别产品缺陷的。在实际检测过程中,由于检测环境存在光源亮度差,均匀效果不好、可调范围小等问题,严重影响视觉系统对于产品性能的处理。同时在显示屏的表面,大多容易堆积一些灰尘。对于灰尘与异物的有效区分,也是一大难题。

实用新型内容(一)要解决的技术问题本实用新型要解决的技术问题是提供一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,以克服现有技术中的打光装置光源亮度差、可调范围小造成的检测水平有限且不易区别电测缺陷与灰尘的问题。(二)技术方案为了解决上述技术问题,本实用新型提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,包括:背光源,所述背光源位于待测显示屏的底部;侧光源,所述侧光源位于待测显示屏的两侧;承载机构,所述承载机构用于承载背光源和侧光源。 进一步地,所述侧光源通过旋转支架安装于待测显示屏的两侧。进一步地,所述侧光源为LED条形光。进一步地,所述背光源为强度可调、光线均匀的光源。进一步地,还包括算法处理系统,所述算法处理系统通过处理侧光源照射待测物图象,分析存在于待测显示屏上的颗粒物的性质。(三)有益效果本实用新型实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。
图1为本实用新型实施例应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式
作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的范围。如图1所示,本实用新型实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,包括:背光源1、侧光源2、侧光源3和承载机构4。本实用新型实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。其中,该背光源I位于待测显示屏的底部,其发出的光线均匀地照射在显示屏的底部,当待测显示屏具有信号时,为检测作业提供照明条件。其中,该背光源为强度可调、光线均匀的光源。侧光源2、侧光源3位于待测显示屏的两侧,其通过旋转支架安装于待测显示屏的两侧,该旋转支架使得该侧光源可进行旋转,其发出的光线均匀的照射在待测显示屏的表面,用于对待测显示屏表面异物的检测。该双侧侧光源可对待测显示屏的表面异物打光,从而异物表面高亮。通过对待测显示屏表面异物成像,算法处理系统对采集的图像分析该待测显示屏上的颗粒物为显示屏内的异常,还是显示屏表面异物。具体的,该侧光源可以为LED条形光。承载机构4用于承载背光源I和侧光源,该背光源I和侧光源均安装在承载机构4上,承载机构除了安装上述部件外,还可以用于承载相机、镜头5、待测显示屏等。本实施例中的待测平板显示屏为TFT-1XD、AM-OLED等平板显示屏。本实用新型实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,其特征在于,包括: 背光源,所述背光源位于待测显示屏的底部; 侧光源,所述侧光源位于待测显示屏的两侧; 承载机构,所述承载机构用于承载背光源和侧光源。
2.如权利要求1所述的打光装置,其特征在于,所述侧光源通过旋转支架安装于待测显示屏的两侧。
3.如权利要求1所述的打光装置,其特征在于,所述侧光源为LED条形光。
4.如权利要求1所述的打光装置,其特征在于,所述背光源为强度可调、光线均匀的光源。
5.如权利要求1所述的打光装置,其特征在于,还包括算法处理系统,所述算法处理系统通过处理 侧光源照射待测物图象,分析存在于待测显示屏上的颗粒物的性质。
专利摘要本实用新型应用于平板显示屏检测装置领域,特别涉及一种应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置。该打光装置,包括背光源,所述背光源位于待测显示屏的底部;侧光源,所述侧光源位于待测显示屏的两侧;承载机构,所述承载机构用于承载背光源和侧光源。本实用新型实施例提供的应用于平板显示屏自动光学检测的打光装置,既能满足待测显示屏点亮后显示屏图像亮度变化与均匀性的要求,又能满足打亮灰尘的目的。通过检测算法有效滤除灰尘,识别显示屏电测性能缺陷。
文档编号G01N21/95GK203083948SQ20132002396
公开日2013年7月24日 申请日期2013年1月17日 优先权日2013年1月17日
发明者徐江伟, 董新桥 申请人:北京兆维电子(集团)有限责任公司
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