激光二维三角法测距仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种激光二维三角法测距仪，包括激光发射二极管和信号处理器，还包括底板、透镜支架、准直透镜、接收支架、接收透镜和二维CCD，透镜支架和接收支架分别设置在底板的两端，透镜支架和接收支架设置在底板的同侧，激光发射二极管和准直透镜设置在透镜支架上，激光发射二极管设置在准直透镜的正上方，接收透镜和二维CCD设置在接收支架上，二维CCD设置在接收透镜的上方，二维CCD与信号处理器相连接。本实用新型的结构简单，其可以同时测量并完成一字线上的所有点的位置距离值，有效的提高了测距效率，且图像接收部分采用二维CCD上，其速度快、线性度高，其测距精度和稳定性好。
【专利说明】激光二维三角法测距仪【技术领域】
[0001]本实用新型属于激光测距仪【技术领域】，具体涉及一种激光二维三角法测距仪。
【背景技术】
[0002]现有技术的激光三角法测距仪中，通常都是采用单点的测距方式，其一般只能一次测量一个点的距离，其适用范围有限，在需要测量一个条线或一个面上很多点的距离数据时，单点测量的效率较低，为了提高测量效率时只能另外增加一个维度方向的移动，从而获得二维测量数据，或是通过在单点三角法测量的基础上增加两个维度方向的移动从而获得三维测量数据，其虽然可以完成距离测量并获得二维或三维测量数据，然而其测量效率较低，一定程度上影响了其实用性。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种结构简单、有效的提高测量效率的激光二维三角法测距仪。
[0004]实现本实用新型目的的技术方案是：一种激光二维三角法测距仪，包括激光发射二极管和信号处理器，还包括底板、透镜支架、准直透镜、接收支架、接收透镜和二维(XD，所述透镜支架和接收支架分别设置在所述底板的两端，所述透镜支架和接收支架设置在所述底板的同侧，所述激光发射二极管和所述准直透镜设置在所述透镜支架上，所述激光发射二极管设置在所述准直透镜的正上方，所述接收透镜和所述二维CCD设置在所述接收支架上，所述二维CXD设置在所述接收透镜的上方，所述二维CXD与所述信号处理器相连接。
[0005]所述底板为弧形或弯折设置，弯折角度大于150度小于180度设置。
[0006]所述信号处理器包括图 像处理电路、中央处理电路和接口电路，所述图像处理电路的输出端与所述中央处理电路相连接，所述中央处理电路的输出端与所述接口电路相连接，所述图像处理电路的输入端与所述二维CXD相连接。
[0007]其工作原理简述如下：激光发射二极管发射激光，激光光线经过准直透镜聚焦后成为一条细线，线状激光在被测物体上发生漫反射，其中一部分激光经过接收透镜在二维CCD上聚焦，由于激光光线是成一条细线，线上各个点就是对应于激光在被测物体上照射光线的成像，由信号处理器经过处理，可以准计算出被测物体上激光光线的位置，从而完成对被测物体上激光一字线照射位置的距离值。
[0008]本实用新型具有积极的效果：本实用新型的结构简单，其可以同时测量并完成一字线上的所有点的位置距离值，有效的提高了测距效率，且图像接收部分采用二维CXD上，其速度快、线性度高，其测距精度和稳定性好。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中：[0010]图1为本实用新型的结构示意图；
[0011]图2为本实用新型的信号处理器的原理框图。
【具体实施方式】
[0012](实施例1)
[0013]图1和图2显示了本实用新型的一种【具体实施方式】，其中图1为本实用新型的结构示意图；图2为本实用新型的信号处理器的原理框图。
[0014]见图1和图2，一种激光二维三角法测距仪，包括激光发射二极管I和信号处理器，还包括底板2、透镜支架3、准直透镜4、接收支架5、接收透镜6和二维(XD7，所述透镜支架3和接收支架5分别设置在所述底板2的两端，所述透镜支架3和接收支架5设置在所述底板2的同侧，所述激光发射二极管I和所述准直透镜4设置在所述透镜支架3上，所述激光发射二极管I设置在所述准直透镜4的正上方，所述接收透镜6和所述二维(XD7设置在所述接收支架5上，所述二维(XD7设置在所述接收透镜6的上方，所述二维(XD7与所述信号处理器相连接。
[0015]所述底板2为弧形或弯折设置，弯折角度大于150度小于180度设置。其设置合理，方便接收激光光线并成像。
[0016]所述信号处理器包括图像处理电路、中央处理电路和接口电路，所述图像处理电路的输出端与所述中央处理电路相连接，所述中央处理电路的输出端与所述接口电路相连接，所述图像处理电路的输入端与所述二维CXD相连接。
[0017]其工作原理简述如下:激光发射二极管I发射激光，激光光线8经过准直透镜聚焦后成为一条细线，线状激光在被测物体9上发生漫反射，其中一部分激光经过接收透镜6在二维CCD7上聚焦，由于激光光线8是成一条细线，线上各个点就是对应于激光在被测物体9上照射光线的成像，由信号处理器经过处理，可以准计算出被测物体上激光光线的位置，从而完成对被测物体上激光一字线照射位置的距离值。
[0018]显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而这些属于本实用新型的实质精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种激光二维三角法测距仪，包括激光发射二极管和信号处理器，其特征在于：还包括底板、透镜支架、准直透镜、接收支架、接收透镜和二维(XD，所述透镜支架和接收支架分别设置在所述底板的两端，所述透镜支架和接收支架设置在所述底板的同侧，所述激光发射二极管和所述准直透镜设置在所述透镜支架上，所述激光发射二极管设置在所述准直透镜的正上方，所述接收透镜和所述二维CXD设置在所述接收支架上，所述二维CXD设置在所述接收透镜的上方，所述二维CXD与所述信号处理器相连接。
2.根据权利要求I所述的激光二维三角法测距仪，其特征在于：所述底板为弧形或弯折设置，弯折角度大于150度小于180度设置。
3.根据权利要求2所述的激光二维三角法测距仪，其特征在于：所述信号处理器包括图像处理电路、中央处理电路和接口电路,所述图像处理电路的输出端与所述中央处理电路相连接，所述中央处理电路的输出端与所述接口电路相连接，所述图像处理电路的输入端与所述二维C⑶相连接。
【文档编号】G01S17/08GK203405574SQ201320515956
【公开日】2014年1月22日 申请日期:2013年8月22日 优先权日:2013年8月22日
【发明者】刘学文 申请人:刘学文