一种火工品电阻时序的测试电路的制作方法

文档序号:6205885阅读:339来源:国知局
一种火工品电阻时序的测试电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种火工品电阻时序的测试电路,包括切换电路、驱动电路、电阻测试电路和光电隔离检测电路;切换电路的输入端用于连接被测电路,所述切换电路的控制端连接所述驱动电路,所述切换电路的第一输出端连接所述光电隔离检测电路,所述切换电路的第二输出端连接至所述电阻测试电路的第一输入端,所述切换电路的第三输出端连接至所述电阻测试电路的第二输入端。本实用新型采用继电器切换的方式,在电阻输出和时序输出共用测试节点的情况下,通过电桥电阻测试和时序检测电路共同完成了火工品电阻及时序电路的检测,该测试电路接口简单,工作可靠。
【专利说明】—种火工品电阻时序的测试电路【技术领域】
[0001]本实用新型属于测试技术应用领域,具体涉及一种火工品电阻时序的测试电路。【背景技术】
[0002]火工品电阻和时序电路测试电路一直广泛应用于测试设备,通常火工品电阻和时序进行分开测试,各自引出测试节点,针对电阻测试一般采用精度较高的电桥法测试,时序检测使用光耦隔离后进行信号上升/下降沿的测试方式进行检测,针对电阻和时序的测试需求,以上两种电路能够较好地满足测试需求,但是在电阻测试与时序测试共用测试节点的情况下,就不能够采用以上电路直接实现电阻和时序的测试需求了。
实用新型内容
[0003]针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本实用新型提供了一种火工品电阻时序的测试电路,其目的在于提高测试精度、使得电路接口简单和工作可靠,由此解决当火工品电阻电路和时序电路共用测试节点时,现有技术不能满足测试需求的技术问题。
[0004]本实用新型提供了一种火工品电阻时序的测试电路,包括切换电路、驱动电路、电阻测试电路和光电隔离检测电路;所述切换电路的输入端用于连接被测电路,所述切换电路的控制端连接所述驱动电路,所述切换电路的第一输出端连接所述光电隔离检测电路,所述切换电路的第二输出端连接至所述电阻测试电路的第一输入端,所述切换电路的第三输出端连接至所述电阻测试电路的第二输入端。
[0005]更进一步地,所述切换电路包括继电器第一触点Kl和继电器第二触点K2 ;所述继电器第一触点Kl的公共端 和所述继电器第二触点K2的公共端作为所述切换电路的输入端分别用于连接被测电路的第一测试节点和第二测试节点;所述继电器第一触点Kl的常闭端作为所述切换电路的第一输出端连接至所述光电隔离检测电路;所述继电器第一触点Kl的常开端作为所述切换电路的第二输出端与所述电阻测试电路的第一输入端连接,所述继电器第二触点K2的常开端作为所述切换电路的第三输出端与所述电阻测试电路的第二输入端连接,所述继电器第二触点K2的常闭端悬空不接。
[0006]更进一步地,所述电阻测试电路包括AD芯片及其外围电路;AD芯片的反相输入端通过依次串联连接的电容C3和电阻R3连接至所述切换电路的第二输出端;AD芯片的正相输入端连接至所述电容C3和电阻Rl的串联连接端;AD芯片的输出端作为所述电阻测试电路的输出端;电阻Rl连接在1.25V电压与所述AD芯片的正相输入端之间;电阻R2和电阻R4依次串联连接在1.25V电压和地之间,所述电阻R2和所述电阻R4的串联连接端与所述AD芯片的反相输入端连接。
[0007]更进一步地,所述光电隔离检测电路包括:光电耦合器、电阻R6、电阻R7和电阻R8;所述光电耦合器中二极管的阳极通过电阻R6连接至所述切换电路的第一输出端,所述光电耦合器中二极管的阴极接地;所述电阻R7连接在二极管的阳极与阴极之间;所述光电耦合器中三极管的集电极连接+5V电压,所述光电耦合器中三极管的发射极通过电阻R8接地,所述光电耦合器中三极管的发射极还作为所述光电隔离检测电路的输出端。
[0008]本实用新型采用继电器切换的方式,在电阻输出和时序输出共用测试节点的情况下,通过电桥电阻测试和时序检测电路共同完成了火工品电阻及时序电路的检测,该测试电路接口简单,工作可靠。
【专利附图】

【附图说明】
[0009]图1是本实用新型提供的火工品电阻及时序的测试电路的原理框图;
[0010]图2是本实用新型提供的火工品电阻及时序的测试电路的具体电路图。
【具体实施方式】
[0011]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。此外,下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0012]火工品电阻和时序电路作为控制系统的重要信号,一直以来对电路测试都有着较高的精度要求和可靠性要求,在本实用新型采用继电器切换的方式,在电阻输出和时序输出共用测试节点的情况下,通过电桥电阻测试和时序检测电路共同完成了火工品电阻及时序电路的检测,该测试电路接口简单,工作可靠。
[0013]本实用新型可以直接应用于火工品电阻及时序电路测试的设计中,使用方便,应用范围广,测试精度高。测试原理框图如图1所示,一种火工品电阻时序的测试电路,包括切换电路、驱动电路、电阻测试电路和光电隔离检测电路;切换电路的输入端用于连接被测电路,切换电路的控制端连接驱动电路,切换电路的第一输出端连接所述光电隔离检测电路,切换电路的第二输出端连接至电阻测试电路的第一输入端,切换电路的第三输出端连接至所述电阻测试电路的第二输入端。
[0014]本实用新型中,当时序开关闭合时,火工品电阻及时序电路输出+28V时序信号,时序信号流经切换电路的第一输出端进入光电隔离检测电路,检测电路进行时序信号测试;当时序开关断开时,火工品电阻及时序电路变成了电阻Rl和R2的串联电阻回路,此时给测试电路中Kl继电器线包加驱动电流,继电器Kl触点闭合,电阻回路的两个端口分别经过切换电路的第二输出端和第三输出端接入电阻测试电路的第一输入端和第二输入端,电阻测试电路完成对电阻回路的阻值测试。
[0015]本实用新型可以直接应用于各种火工品电阻及时序测试电路中,能够完成电阻和时序的集成测试或单项测试,通过应用该技术,可以简化火工品电阻及时序测试电路接口,在电阻和时序共用测试节点的情况下,能够同时完成电阻和时序电路的指标测试。
[0016]在本实用新型中,切换电路包括继电器第一触点Kl和继电器第二触点K2 ;继电器第一触点Kl的公共端和继电器第二触点K2的公共端作为切换电路的输入端分别用于连接被测电路的第一测试节点和第二测试节点;继电器第一触点Kl的常闭端作为切换电路的第一输出端连接至所述光电隔离检测电路;继电器第一触点Kl的常开端作为切换电路的第二输出端与电阻测试电路的第一输入端连接,继电器第二触点K2的常开端作为切换电路的第三输出端与电阻测试电路的第二输入端连接,继电器第二触点K2的常闭端悬空不接。
[0017]本实用新型采用继电器切换的方式,在电阻输出和时序输出共用测试节点的情况下,通过电桥法电阻测试电路和时序检测电路共同完成了火工品电阻及时序电路的检测,该电路接口简单,工作可靠。
[0018]图2示出了本实用新型提供的火工品电阻及时序的测试电路的具体电路,其中,电阻测试电路包括AD芯片及其外围电路;AD芯片的反相输入端通过依次串联连接的电容C3和电阻R3连接至切换电路的第二输出端;AD芯片的正相输入端连接至所述电容C3和电阻Rl的串联连接端;AD芯片的输出端作为电阻测试电路的输出端;电阻Rl连接在1.25V电压与所述AD芯片的正相输入端之间;电阻R2和电阻R4依次串联连接在1.25V电压和地之间,电阻R2和电阻R4的串联连接端与AD芯片的反相输入端连接。
[0019]光电隔离检测电路包括:光电耦合器、电阻R6、电阻R7和电阻R8 ;所述光电耦合器中二极管的阳极通过电阻R6连接至所述切换电路的第一输出端,所述光电耦合器中二极管的阴极接地;所述电阻R7连接在二极管的阳极与阴极之间;所述光电耦合器中三极管的集电极连接+5V电压,所述光电耦合器中三极管的发射极通过电阻R8接地,所述光电耦合器中三极管的发射极还作为所述光电隔离检测电路的输出端。
[0020]当时序开关断开、继电器第一触点Kl和继电器第二触点K2闭合时,电路Rl和R2回路与电阻测试电路中的R3串联,与其它三只电阻(Rl、R2和R4)组成了桥电路,如果串联后桥电路电阻阻值不对称,则经过电阻分压后电容C3的两端会产生电压差,该电压差直接接入AD芯片的输入端,经过电压采集后可以得出电压差值,电阻测试电路中的R1、R2、R3和R4阻值已知,就可以根据电压差算出火工品电阻回路的电阻值,该电路设计时需要选取高精度电阻和数据采集精度高的AD芯片,以提高测试精度。当时序开关闭合,继电器第一触点Kl和继电器第二触点K2断开时,+28V时序信号进入光电隔离检测电路,时序信号流经限流电阻R6,进入光电耦合器,驱动发光二极管工作(此时电阻R7起到分流作用),光电耦合器的输出端三极管检测到光电流后使三极管处于饱和导通状态,电平输出端输出高电平,证明时序信号输出有效,同理,当时序开关闭合时,+28V时序信号无效,此时发光二极管不工作,光电I禹合器的输出端三极管处于截止断开状态,电平输出端被电阻R8下拉输出低电平,证明时序信号输出无效,完成时序信号采集。
[0021]本实用新型在于火工品电阻测试通路和时序测试通路共用测试节点的情况下能够通过继电器常开和常闭触点完成对电阻测试和时序测试通路的切换,利用电桥法和光电隔离检测的方法完成对火工品电阻及时序的测试,测试电路工作可靠,在共用测试节点的情况下实现了高精度电阻检测和200ms时序测试。
[0022]为了更进一步的说明本实用新型提供的火工品电阻时序的测试电路,现结合具体实例并参照附图详述如下:
[0023]本实用新型所使用的测试电路包括继电器驱动电路、电阻测试电路和光电隔离检测电路;被测电路为火工品电阻、时序电路,该电路的电阻通路和+28V点火时序输出信号共用了测试节点,所以不能采用以往电阻和时序单独测试的电路完成测试。
[0024]被测电路包括28V点火时序和火工品电阻Rl、R2串联的电阻阻值,电阻通路和时序通路共用测试节点SXDZl和SXDZ2,被测电路节点通过测试电缆引入测试电路,连接到继电器Kl的输入触点一端,该测试节点通过常闭触点连接至电阻测试电路,常开触点连接至光电隔离检测电路。
[0025]测试火工品电阻Rl、R2串联的电阻阻值时,被测电路的时序开关断开,测试电路继电器Kl断开,此时被测电路的节点SXDZl和SXDZ2输出等同于电阻Rl、R2串联阻值的引出端,通过电桥电阻测试法完成火工品电阻测试;当被测电路的时序开关吸合,测试电路继电器Kl吸合,此时被测电路的节点输出等同于+28V时序信号输出端,通过继电器Kl后进入光电隔离检测电路,完成对+28V时序信号的测试,测试完毕后断开时序开关和继电器K1,恢复初始状态。通过以上方式可以完成在火工品电阻和时序共用测试节点情况下的电阻和时序测试功能,操作简便,工作可靠。
[0026]本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种火工品电阻时序的测试电路,其特征在于,包括切换电路、驱动电路、电阻测试电路和光电隔离检测电路; 所述切换电路的输入端用于连接被测电路,所述切换电路的控制端连接所述驱动电路,所述切换电路的第一输出端连接所述光电隔离检测电路,所述切换电路的第二输出端连接至所述电阻测试电路的第一输入端,所述切换电路的第三输出端连接至所述电阻测试电路的第二输入端。
2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述切换电路包括继电器第一触点Kl和继电器第二触点K2 ; 所述继电器第一触点Kl的公共端和所述继电器第二触点K2的公共端作为所述切换电路的输入端分别用于连接被测电路的第一测试节点和第二测试节点;所述继电器第一触点Kl的常闭端作为所述切换电路的第一输出端连接至所述光电隔离检测电路;所述继电器第一触点Kl的常开端作为所述切换电路的第二输出端与所述电阻测试电路的第一输入端连接,所述继电器第二触点K2的常开端作为所述切换电路的第三输出端与所述电阻测试电路的第二输入端连接,所述继电器第二触点K2的常闭端悬空不接。
3.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述电阻测试电路包括AD芯片及其外围电路; AD芯片的反相输入端通过依次串联连接的电容C3和电阻R3连接至所述切换电路的第二输出端;AD芯片的正相输入端连接至所述电容C3和电阻Rl的串联连接端;AD芯片的输出端作为所述电阻测试电路的输出端; 电阻Rl连接在1.25V电压与所述AD芯片的正相输入端之间;电阻R2和电阻R4依次串联连接在1.25V电压和地之间,所述电阻R2和所述电阻R4的串联连接端与所述AD芯片的反相输入端连接。
4.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述光电隔离检测电路包括:光电耦合器、电阻R6、电阻R7和电阻R8 ; 所述光电耦合器中二极管的阳极通过电阻R6连接至所述切换电路的第一输出端,所述光电耦合器中二极管的阴极接地; 所述电阻R7连接在二极管的阳极与阴极之间; 所述光电耦合器中三极管的集电极连接+5V电压,所述光电耦合器中三极管的发射极通过电阻R8接地,所述光电耦合器中三极管的发射极还作为所述光电隔离检测电路的输出端。
【文档编号】G01R31/28GK203587694SQ201320723328
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2013年11月15日 优先权日:2013年11月15日
【发明者】刘成强, 屈汝祥, 胡乔朋, 张豪兵 申请人:湖北三江航天红峰控制有限公司
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