Idc电子连接器连接状态检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种IDC电子连接器连接状态检测装置，包括机壳、构成所述机壳上表面的面板以及设置在面板上的IDC电子连接器插座、测量孔和波段开关，所述IDC电子连接器插座的引脚与所述波段开关通过导线连接，所述波段开关的公共端与所述测量孔连接，所述波段开关设置有1～8个波段。该检测装置结构简单、成本低，便于携带和操作，提高了检测效率。
【专利说明】IDC电子连接器连接状态检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于电子线路连接件【技术领域】，尤其涉及一种IDC电子连接器连接状态检测装置。
【背景技术】
[0002]IDC (INSULATION DISPLACEMENT CONNECTIONS)连接器是电子仪器不可或缺的电子线路连接器件，常用于电子模块电路之间的连接，在电路内被阻断处或孤立不通的电路之间架起沟通的桥梁，从而使电流流通，使电路实现预定的功能。所以，IDC电子连接器与其接线的可靠导通是其可靠使用的关键。
[0003]目前，该器件导线的压接均由手工完成，压接的成功率有一定的不稳定性，因此，需要对IDC电子连接器的每根连线进行检测。现有的检测办法是在模型机上进行，其过程繁琐、耗时、检测效率低，而且模型机体积大、笨重，不便于携带。
【发明内容】
[0004]本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足，提供一种结构简单、检测效率高、便于携带的IDC电子连接器连接状态检测装置。
[0005]为此，本实用新型的技术方案如下:
[0006]一种IDC电子连接器连接状态检测装置，包括机壳、构成所述机壳上表面的面板以及设置在面板上的IDC电子连接器插座、测量孔和波段开关，所述IDC电子连接器插座的引脚与所述波段开关通过导线连接，所述波段开关的公共端与所述测量孔连接。
[0007]所述波段开关设置有I?8个波段，且所述波段数不少于所述IDC电子连接器插座的引脚数。所述测量孔设置有2个，其中一个为备用测量孔。
[0008]本实用新型只使用三个主要组件就能达到检测IDC电子连接器连接状态的目的，并且所用组件在市场上均能买到，其结构简单、成本低，便于携带和操作，从而提高了检测效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型检测装置的俯视结构示意图；
[0010]图2为本实用新型检测装置的立体结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]为了能更好地对本实用新型的技术方案进行理解，下面结合附图对该检测装置的结构进行详细说明。
[0012]如图所示，所述IDC电子连接器连接状态检测装置包括机壳5、构成机壳5上表面的面板4以及设置在面板4上的IDC电子连接器插座1、测量孔2和波段开关3，所述IDC电子连接器插座I的引脚与所述波段开关3通过导线连接，所述波段开关3的公共端与所述测量孔2连接。
[0013]所述波段开关可以根据需要设置多个，例如:1?8个波段，在图中所示实施例中设置有8个波段。波段开关的波段数应不少于IDC电子连接器插座I的引脚数。在图示的实施例中，测量孔2设置有两个，其中一个为备用测量孔。面板4可以紧扣在机壳5上，在机壳5内可放置连接IDC电子连接器插座、测量孔和波段开关的导线。
[0014]本实用新型装置使用时，将压接完导线的IDC电子连接器插到插座I上；将万用表功能拨到导通功能测量档；将万用表的表笔一支插入测量孔2，另一支与需测量的导线接触；根据IDC电子连接器的接线点，将波段开关3拨在相对应的位置，观测万用表的导通电阻值，如果阻值为0，说明IDC电子连接器与接线连接，反之，如果阻值为无穷大，说明IDC电子连接器与接线未连接。
【权利要求】
1.一种IDC电子连接器连接状态检测装置，其特征在于:包括机壳(5)、构成所述机壳(5)上表面的面板(4)以及设置在面板(4)上的IDC电子连接器插座(I)、测量孔(2)和波段开关(3)，所述IDC电子连接器插座(I)的引脚与所述波段开关(3)通过导线连接，所述波段开关(3)的公共端与所述测量孔(2)连接。
2.根据权利要求1所述的IDC电子连接器连接状态检测装置，其特征在于:所述波段开关设置有I?8个波段且所述波段数不少于所述IDC电子连接器插座(I)的引脚数。
3.根据权利要求1所述的IDC电子连接器连接状态检测装置，其特征在于:所述测量孔(2)设置有2个，其中一个为备用测量孔。
【文档编号】G01R31/02GK203595774SQ201320789716
【公开日】2014年5月14日 申请日期:2013年12月2日 优先权日:2013年12月2日
【发明者】赵会忠, 郭劲松, 魏春明, 张晖, 戚殿卫, 梁鹏 申请人:中国石油集团渤海钻探工程有限公司