标本检查装置制造方法

标本检查装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，能够减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响的标本检查装置。标本检查装置（100）包括：具有载置作为被检查物的标本（2）的输送面（10a）并以能够输送标本的方式构成的输送部（10）、位于输送部的输送面侧并产生太赫兹波的太赫兹波产生部（20）、和位于与输送部的输送面相反的一侧的面（10b）侧并检测从太赫兹波产生部射出并透过载置于输送面的标本的太赫兹波的太赫兹波检测部（30），输送部具有连通输送面和与输送面相反的一侧的面的孔部（12），以能够在孔部上载置标本的方式构成。
【专利说明】标本检查装置

【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及标本检查装置。

【背景技术】
[0002]近年来，作为具有10GHz?30THz频率的电磁波的太赫兹波备受瞩目。太赫兹波可以用于成像、光谱测量等各种测量、非破坏检查等。
[0003]例如在专利文献I中，将药剂(标本)载置于作为用于输送药剂的输送部的包装用板上并输送到药剂检查装置，药剂检查装置对包装板上的药剂照射太赫兹波，检测透过药剂的太赫兹波，检查药剂中是否含有异物。
[0004]专利文献1:国际公开第2008/1785号


【发明内容】

[0005]然而，像专利文献I中记载的标本检查装置那样，在检测透过标本的太赫兹波时，有时包装用板会吸收太赫兹波，太赫兹波衰减。另外，即便使包装用板为对太赫兹波透明的物质，有时也会在包装用板内引起多重反射，降低检测精度。
[0006]本发明的几个方式的目的之一在于提供一种在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，能够减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响的标本检查装置。
[0007]本发明涉及的标本检查装置包括:
[0008]输送部，其具有载置作为被检查物的标本的输送面，以能够输送上述标本的方式构成；
[0009]太赫兹波产生部,其位于上述输送部的上述输送面侧,产生太赫兹波；和
[0010]太赫兹波检测部，其位于上述输送部的与上述输送面相反的一侧的面侧，检测从上述太赫兹波产生部射出并透过了载置于上述输送面的上述标本的太赫兹波，
[0011]上述输送部具有连通上述输送面和与上述输送面相反的一侧的面的孔部，以能够在上述孔部上载置上述标本的方式构成。
[0012]根据这种标本检查装置，由于输送部具有连通输送面和与输送面相反的一侧的面的孔部，并以能够在孔部上载置标本的方式构成，所以从太赫兹波产生部射出并透过标本的太赫兹波通过孔部，被太赫兹波检测部检测。即，透过标本并通过孔部的太赫兹波能够被太赫兹波检测部检测，而不被输送部反射、不因输送部引起衰减、多重反射。因此，根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。
[0013]在本发明涉及的标本检查装置中，
[0014]上述输送面可以具有载置上述标本的凹部，
[0015]上述孔部可以连通上述凹部和与上述输送面相反的一侧的面。
[0016]根据这种标本检查装置，能够限制标本在输送面上的移动，能够将标本可靠地保持在孔部上。
[0017]在本发明涉及的标本检查装置中，
[0018]上述孔部的宽度可以比上述标本的宽度小。
[0019]根据这种标本检查装置，能够将标本载置在孔部上，而使标本不从孔部落下。
[0020]在本发明涉及的标本检查装置中，
[0021]上述输送部可以以在I个上述孔部上载置I个上述标本的方式构成。
[0022]根据这种标本检查装置，能够容易地获得孔部与载置于该孔部上的标本的对应。因此，能够容易地确定载置于输送面的标本。
[0023]在本发明涉及的标本检查装置中，
[0024]上述输送部可以以在上述孔部上载置多个上述标本的方式构成。
[0025]根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。
[0026]在本发明涉及的标本检查装置中，
[0027]上述太赫兹波产生部可以具有:
[0028]产生光脉冲的光脉冲产生部、和
[0029]被照射由上述光脉冲产生部产生的光脉冲的光传导天线。
[0030]根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。
[0031]在本发明涉及的标本检查装置中，
[0032]可以包括气体喷射部，上述气体喷射部通过上述孔部向载置于上述输送面的上述标本喷射气体，使上述标本从上述输送面离开。
[0033]根据这种标本检查装置，能够容易地选出含有异物的标本。
[0034]在本发明涉及的标本检查装置中，
[0035]上述孔部被设置在透过上述输送部的上述标本的太赫兹波通过的区域，
[0036]上述太赫兹波检测部检测通过上述孔部的太赫兹波。
[0037]根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。

【专利附图】

【附图说明】
[0038]图1是示意地表示第I实施方式涉及的标本检查装置的结构的图。
[0039]图2是示意地表示第I实施方式涉及的标本检查装置的结构的一部分的图。
[0040]图3是从输送面的法线方向观察输送部的示意图。
[0041]图4是示意地表示太赫兹波产生部的光源的结构的图。
[0042]图5是示意地表示太赫兹波检测部的滤波器和检测部的结构的图。
[0043]图6是表示药剂在太赫兹波段的频谱的图表。
[0044]图7是示出表示药剂中的物质A、物质B、物质C的分布的图像的一个例子的图。
[0045]图8是示意地表示第I变形例涉及的输送部的结构的图。
[0046]图9是示意地表示第2变形例涉及的输送部的结构的图。
[0047]图10是示意地表示第2变形例涉及的输送部的结构的俯视图。
[0048]图11是示意地表示第3变形例涉及的输送部的结构的俯视图。
[0049]图12是示意地表示第3变形例涉及的输送部的结构的俯视图。
[0050]图13是示意地表示第4变形例涉及的太赫兹波检测部的结构的图。
[0051]图14是示意地表示第2实施方式涉及的标本检查装置的结构的图。
[0052]图15是示意地表示第2实施方式涉及的标本检查装置的结构的一部分的图。
[0053]图16是示意地表示第2实施方式的变形例涉及的棒状部件驱动部的结构的图。

【具体实施方式】
[0054]以下，使用附图对本发明的优选的实施方式进行详细说明。另外，以下说明的实施方式并非不恰当限定技术方案中记载的本发明的内容的实施方式。另外，不限定为以下说明的全部结构均为本发明的必须结构要件。
[0055]1.第I实施方式
[0056]1.1.标本检查装置的结构
[0057]首先，参照附图对第I实施方式涉及的标本检查装置进行说明。图1是示意地表示本实施方式涉及的标本检查装置100的结构的图。另外，图2是示意地表示标本检查装置100的结构的一部分的图。
[0058]以下，对用于检查作为被检查物的标本的药剂(片剂)2的标本检查装置100进行说明。在此，药剂2的检查是指分析药剂2是否含有异物(不同种类的元素或分子)。标本检查装置100可以排列并连续检查抽取的标本(药剂2)，例如可以安装在药剂生产线来检查全部标本(药剂2)。
[0059]如图1和图2所示，标本检查装置100包括输送部10、太赫兹波产生部20和太赫兹波检测部30。标本检查装置100可以进一步包括处理部(CPU) 40、操作部50、显示部52和存储部54。
[0060]输送部10具有载置药剂2的输送面10a，以能够输送药剂2的方式构成。在图示的例子中输送部10具有输送面1a和与输送面1a相反的一侧的面(背面)10b。输送面1a是在输送药剂2的状态下,面内方向包括药剂2的输送方向X的面。此时，输送面1a的法线方向P是与药剂2的输送方向X垂直的方向。输送面1a例如是平坦的面。
[0061]输送部10具有连通输送面1a和背面1b的孔部12。S卩，孔部12的一个开口设置于输送面10a，孔部12的另一个开口设置于背面10b。在图示的例子中，孔部12在输送面1a的法线方向P贯通输送部10。孔部12设置于输送部10的透过药剂2的太赫兹波通过的区域。如图1所示，孔部12被设置多个，相邻的孔部12间的间隔例如恒定。
[0062]输送部10以药剂2能够载置于孔部12上的方式构成。例如，如图2所示，通过使孔部12的宽度W12比药剂2的宽度W2小，能够在孔部12上载置药剂2。在图示的例子中，在I个孔部12上载置I片药剂2。
[0063]图3是从输送面1a的法线方向P观察输送部10的示意图。例如，如图3所示从法线方向P观察，孔部12的形状为圆形。在此，从法线方向P观察，药剂2的形状为圆形时，药剂2的宽度W2是药剂2的直径。此时，例如，如图3所示，从法线方向P观察，孔部12的形状为圆形，孔部12的宽度W12是孔部12的直径。另外，孔部12的形状只要能够将药剂2载置在孔部12上便不特别限定。
[0064]在图示的例子中，输送部10是传送带。输送部10架设于传送带轮14a、14b。输送部10通过传送带轮14a、14b旋转而循环，能够输送载置于输送面1a上的药剂2。在图1所示的例子中，输送面1a是从供给部60供给药剂2的位置Pl与从输送部10回收药剂2的位置P2之间的面，是朝输送部(传送带)10形成的环的外侧的面。即，输送面1a是位置Pl与位置P2之间的输送部10的上表面。另外，背面1b是从供给部60供给药剂2的位置Pl与从输送部10回收药剂2的位置P2之间的面，是朝输送部(传送带)10形成的环的内侧的面。即，背面1b是位置Pl与位置P2之间的输送部10的下表面。
[0065]输送部10的材质例如为橡胶、树脂、金属、纸、布等。输送部10的材质不特别限定。作为输送部10的材质，可以使用透过太赫兹波的材质，也可以使用不透过太赫兹波的材质。
[0066]由于输送部10以药剂2能够载置于孔部12上的方式构成，所以如图2所示，从太赫兹波产生部20射出并透过药剂2的太赫兹波通过孔部12，被太赫兹波检测部30检测。即，透过药剂2并通过孔部12的太赫兹波能够被太赫兹波检测部30检测，而不被输送部10反射、不因输送部10引起衰减、多重反射。因此，能够减少输送部10对透过药剂2的太赫兹波造成的影响。
[0067]在此，从由太赫兹波产生部20照射的太赫兹波的照射方向观察，与药剂2的孔部12重叠的区域2a成为透过药剂2的太赫兹波被检测而不受输送部10的影响的区域。因此，想要增大能够检测透过药剂2的太赫兹波而不受输送部10的影响的区域时，即，想要增大药剂2的区域2a时，优选增大从太赫兹波的照射方向观察的孔部12的尺寸。因此,例如，在图2所示的例子中，优选使孔部12的宽度W12在小于药剂2的宽度W2的范围内尽量大。
[0068]输送部10可以将药剂2从由供给部60供给药剂2的位置Pl输送到从输送部10回收药剂2的位置P2。在输送部10将药剂2从位置Pl输送到位置P2的期间，太赫兹波产生部20和太赫兹波检测部30进行药剂2的测定。
[0069]供给部60将药剂2供给到输送部10。供给部60将药剂2 —片一片地供给到孔部12上。当孔部12到达位置Pl时，供给部60使药剂2落下，在孔部12上载置药剂2。
[0070]太赫兹波产生部20位于输送部10的输送面1a侧。太赫兹波产生部20产生太赫兹波。太赫兹波是指频率为10GHz以上至30THz以下的电磁波、特别是300GHz以上至1THz以下的电磁波。如图2所示，太赫兹波产生部20包括光源22。
[0071]光源22被设置多个。另外，光源22也可以是单数。图4是示意地表示太赫兹波产生部20的光源22的结构的图。如图4所示，光源22具有光脉冲产生部23和光传导天线24。
[0072]光脉冲产生部23产生作为激发光的光脉冲。在此，光脉冲是指短时间强度急剧变化的光。光脉冲的脉冲宽度(半峰全宽FWHM)例如为Ifs (飞秒)以上至800fs以下。
[0073]作为光脉冲产生部23，例如，使用具备由半导体材料形成的脉冲压缩部的半导体激光器、飞秒光纤激光器、钛蓝宝石激光器。特别是半导体激光器能够实现小型化，因此可优选适用于光脉冲产生部23。
[0074]光传导天线24通过照射由光脉冲产生部23产生的光脉冲而产生太赫兹波。在图示的例子中，光传导天线24是偶极形状的光传导天线(Photo Conductive Antenna:PCA)。光传导天线24具有作为半导体基板的基板25、和设置于基板25上并隔着间隙26对置配置的I对电极27。如果在该电极27间照射光脉冲，则光传导天线24产生太赫兹波。
[0075]基板25具有例如半绝缘性GaAs (SI 一 GaAs)基板和设置于SI — GaAs基板上的低温生长GaAs (LT - GaAs)层。电极27的材质例如为金。I对电极27间的距离不特别限定而可以根据条件适当地设定，例如为Iym以上至10 μ m以下。
[0076]在此，对光源22的工作原理进行说明。在光源22中，首先，光脉冲产生部23产生光脉冲，向光传导天线24的间隙26射出光脉冲。在光传导天线24中，通过对间隙26照射光脉冲，从而激发自由电子。然后，在电极27间对该自由电子施加电压使其加速。由此，产生太赫兹波。
[0077]另外，光源22不限于具有图4所示的光脉冲产生部23和光传导天线24的方式，例如，作为光源22，可以使用量子级联激光器、或采用了非线性光学晶体的差频产生方式、参数化方式。
[0078]如图2所示，太赫兹波产生部20可以具有用于将从光源22射出的太赫兹波平行化而导向药剂2的透镜28。由此，能够将从光源22射出的太赫兹波高效地导向药剂2。另夕卜，透镜28也可是将太赫兹波聚光(使其集束)而导向药剂2的透镜。
[0079]如图2所示，太赫兹波产生部20将从光源22射出的太赫兹波经由透镜28在输送面1a的法线方向P射出。由此，太赫兹波向药剂2照射。即，太赫兹波的照射方向是输送面1a的法线方向P。被照射到药剂2并透过药剂2的太赫兹波通过输送部10的孔部12，被太赫兹波检测部30检测。
[0080]太赫兹波检测部30位于输送部10的背面1b侧。即，相对于输送部10，太赫兹波检测部30位于与太赫兹波产生部20相反的一侧。在图1所示的例子中，太赫兹波检测部30位于输送部(传送带)10形成的环的内侧，太赫兹波产生部20位于输送部(传送带)10形成的环的外侧。
[0081]如图2所示，太赫兹波检测部30检测从太赫兹波产生部20射出的、透过载置于输送面1a的药剂2的太赫兹波。太赫兹波检出部30包括滤波器32和检测部34。
[0082]滤波器32使目标波长的太赫兹波透过。滤波器32的材质例如为金属。图5是示意地表示太赫兹波检测部30的滤波器32和检测部34的图。
[0083]如图5所示，滤波器32具有二维配置的多个像素(单位滤波器部)32a。多个像素32a呈矩阵状配置。像素32a具有使波长相互不同的太赫兹波通过的多个区域，即，具有通过的太赫兹波的波长(以下也称为“通过波长”)相互不同的多个区域。在图示的例子中，像素32a具有第I区域321、第2区域322、第3领域323以及第4区域324。
[0084]作为检测部34例如使用将太赫兹波转换成热来检测的装置，即，使用将太赫兹波转换成热，能够检测到该太赫兹波的能量(强度)的装置。具体而言，检测部34是热释电传感器、辐射热测量计。
[0085]检测部34检测透过滤波器32的目标波长的太赫兹波。检测部34具有分别与像素32a的第I区域321、第2区域322、第3区域323以及第4区域324对应设置的第I单位检测部341、第2单位检测部342、第3单位检测部343以及第4单位检测部344。第I单位检测部341、第2单位检测部342、第3单位检测部343以及第4单位检测部344分别将通过像素32a的第I区域321、第2区域322、第3区域323以及第4区域324的太赫兹波转换成热来检测。由此，在各像素32a中，能够检测4个目标波长的太赫兹波。
[0086]如图2所示，太赫兹波检测部30可以包括用于将透过药剂2的太赫兹波聚光并导向滤波器32的透镜36。由此，能够将透过药剂2的太赫兹波高效地导向滤波器32。
[0087]如图2所示，光源22、透镜28、透镜36、滤波器32以及检测部34在输送面1a的法线方向P排列配置。
[0088]如图1所示，操作部50获取根据用户进行的操作产生的操作信号，并进行向处理部40发送的处理。操作部50例如为触摸板式显示器、按钮、键盘、鼠标等。
[0089]显示部52基于从处理部40输入的显示信号，将处理部40的处理结果等显示为文字、图及其他的信息。例如，显示部52显示由图像生成部42制成的图像(表示药剂2的物质的分布的图像，参照图7)。显示部52例如为CRT (Cathode Ray Tube)、LCD (LiquidCrystal Display)、触摸板式显示器等。另外,也可以在I个的触摸板式显示器中实现操作部50和显示部52的功能。
[0090]存储部54存储了用于处理部40进行各种计算处理、控制处理的程序、数据等。另夕卜，存储部54用作处理部40的作业区域，为了暂时存储从操作部50输入的操作信号、从太赫兹波检测部30获得的数据(检测结果)以及处理部40根据各种程序执行的运算结果等而使用。
[0091]处理部(CPU) 40根据存储在存储部54的程序，进行基于从太赫兹波检测部30获得的数据的各种计算处理、各种控制处理。具体而言，处理部40通过执行存储在存储部54的程序，作为图像生成部42发挥功能。
[0092]1.2.药剂检查处理
[0093]接下来，参照附图对标本检查装置100中的药剂(标本)检查的处理的流程进行说明。
[0094]如图1所示，供给部60将药剂2供给到循环的输送部10的输送面1a上。药剂2载置在位于位置Pl的孔部12上,被输送部10输送。
[0095]如图2所示，药剂2被输送到太赫兹波产生部20与太赫兹波检测部30之间，对药剂2照射由太赫兹波产生部20产生的太赫兹波。
[0096]被照射到药剂2的太赫兹波透过药剂2，通过孔部12，入射到太赫兹波检测部30。太赫兹波检测部30将基于检测结果的信号S30送到处理部40 (图像生成部42)。图像生成部42基于太赫兹波检测部30的检出结果，生成表示药剂2中的物质的分布的图像。
[0097]以下，对药剂2由3种物质A、B、C (物质B、C为异物)构成的情况进行具体说明。图6是表示药剂2在太赫兹波段的频谱的图。
[0098]在图5所示的太赫兹波检测部30的滤波器32的像素32a中，使用第I区域321和第2区域322。在将第I区域321的通过波长设为λ 1、第2区域322的通过波长设为λ 2，将透过药剂2的太赫兹波的波长λ I的成分的强度设为α 1、波长λ 2的成分的强度设为α 2时，以其强度a 2与强度α I的差(α2 — a I)用物质Α、物质B和物质C能够相互显著区别的方式设定第I区域321的通过波长λ I和第2区域322的通过波长λ 2。
[0099]如图6所示，在物质A中，透过药剂2的太赫兹波的波长λ 2的成分的强度α 2与波长λ I的成分的强度α I的差(α 2 — α I)为正值。在物质B中，强度α 2与强度α I的差(α 2 — α I)为零。在物质C中，强度α 2与强度α I的差(α 2 — α I)为负值。
[0100]在太赫兹波检测部30中，检测上述强度α I和强度α 2。太赫兹波检测部30将包括该检测结果的信息的信号S30 (参照图1)送到处理部40 (画像生成部42)。另外，对药剂2的太赫兹波的照射和透过药剂2的太赫兹波的检测，针对位于孔部12上(B卩，从太赫兹波的照射方向观察与孔部12重叠)的药剂2的区域2a进行。
[0101]图像生成部42基于太赫兹波检测部30的检测结果，求出强度a 2与强度α?的差(α2 — α I)。然后,在药剂2中，将差(α 2 — α I)为正值的部位确定为物质Α,将差(α 2 — α I)为零的部位确定为物质B,将差(α 2 — α I)为负值的部位确定为物质C。然后，图像生成部42基于该确定结果，生成表示药剂2中物质Α、物质B、物质C的分布的图像。
[0102]图7是图像生成部42生成的表示药剂2 (区域2a)中的物质A、物质B、物质C的分布的图像的一个例子。例如，分类成药剂2的物质A的分布的区域为黑色、物质B的分布的区域为灰色、物质C的分布的区域为白色来显示。
[0103]处理部40将图7所示的图像生成部42生成的表示药剂2中的物质A、物质B、物质C的分布的图像显示到显示部52。这样，在标本检查装置100中，能够将构成药剂2的物质的分布图像化(成像)来显示。
[0104]另外，上述中，示出由强度a 2与强度α I的差的符号确定物质的例子，但不限于该方法。例如，也可以使用强度a 2与强度α I的差值，确定物质。此时，将强度a 2与强度α I的差值与各物质的频谱对照，能够确定物质。
[0105]被太赫兹波产生部20和太赫兹波检测部30测定的药剂2由输送部10输送到图1所示的位置Ρ2被回收。
[0106]标本检查装置100对从供给部60依次供给的各药剂2反复进行上述处理，可以针对于依次供给的各药剂2，将构成药剂2的物质的分布图像化(成像)来显示。
[0107]标本检查装置100例如具有以下的特征。
[0108]在标本检查装置100中，输送部10具有连通输送面1a和位于与输送面1a相反的一侧的面1b的孔部12，并以药剂2能够载置于孔部12上的方式构成。因此，从太赫兹波产生部20射出并透过药剂2的太赫兹波通过孔部12，被太赫兹波检测部30检测。SP，透过药剂2而通过孔部12的太赫兹波能够被太赫兹波检测部30检测，而不被输送部10反射、不因输送部10引起衰减、多重反射。因此，根据标本检查装置100，在对载置于输送部10上的药剂2照射太赫兹波并检测透过药剂2的太赫兹波时，能够减少输送部10对透过药剂2的太赫兹波造成的影响。
[0109]在标本检查装置100中，由于使孔部12的宽度W12小于药剂2的宽度W2，所以能够将药剂2载置于孔部12上，而不会使药剂2从孔部12落下。
[0110]在标本检查装置100中，由于输送部10以在孔部12上可载置I片药剂2的方式构成，所以能够容易地获得孔部12与载置于该孔部12上的药剂2的对应。例如，以在I个孔部12上可载置I片药剂2的方式构成时，通过在输送面1a上在各孔部12标注用于确定孔部12的标记(marker)，能够容易地获得孔部12与载置于孔部12上的药剂2的对应。因此，能够容易地从载置于输送面1a的多片药剂2中确定出所需的药剂2。因此，例如，在从输送部10回收药剂2时，容易选出含异物的药剂2和不含异物的药剂2。
[0111]1.3.变形例
[0112]接下来，对第I实施方式涉及的标本检查装置的变形例进行说明。在以下所示的各变形例中，对具有与上述标本检查装置100同样的功能的部件标记相同的符号，省略其详细的说明。
[0113](I)第I变形例
[0114]首先，对第I变形例进行说明。图8是示意地表示第I变形例涉及的输送部10的结构的图。
[0115]如图2所示，在上述的标本检查装置100中，输送部10的输送面1a为平坦的面。
[0116]与此相对，在本变形例中，输送部10的输送面1a具有载置药剂2的凹部16，孔部12连通凹部16和背面10b。
[0117]输送面1a具有凹部16。在图示的例子中，输送面1a具有与背面1b之间的距离相互不同的第I区域Ila和第2区域Ilb以及连接第I区域Ila和第2区域Ilb的第3区域11c。在图示的例子中，第I区域Ila距背面1b的距离hi比第2区域Ilb距背面1b的距离h2大。凹部16由第2区域Ilb和第3区域Ilc构成。输送面1a的凹部16的深度(阶梯的高度h1- h2)根据药剂2的大小适当地设定。利用第I区域Ila和第2区域Ilb在输送面1a设置了阶梯。通过在凹部16 (第2区域Ilb)载置药剂2，从而设置于输送面1a的阶梯能够限制药剂2在输送面1a上的移动。
[0118]孔部12连通了凹部16和背面10b。在图示的例子中，孔部12连通了输送面1a的第2区域Ilb和背面10b。即，孔部12的一个开口设置于凹部16 (第2区域11b)，孔部12的另一个开口设置于背面10b。
[0119]凹部16的宽度(直径)W16比药剂2的宽度(直径)W2和孔部12的宽度(直径)W12大。例如，从输送面1a的法线方向P观察，凹部16的形状为圆形。另外，凹部16的形状、大小只要能限制药剂2在输送面1a上的移动，将药剂2保持在孔部12上就不特别限定。
[0120]根据本变形例，由于输送部10的输送面1a具有载置药剂2的凹部16，并且孔部12连通了凹部16和背面10b，所以能够限制药剂2在输送面1a上的移动，将药剂2可靠地保持在孔部12上。另外，凹部16也可以被看作孔部12的一部分。即，也可以说与输送面1a连接的孔部12具有比药剂2的宽度W2大的宽度W16，构成凹部。
[0121](2)第2变形例
[0122]接下来，对第2变形例进行说明。图9是示意地表示第2变形例涉及的输送部10的结构的图。图10是示意地表示第2变形例涉及的输送部10的结构的俯视图。另外，图10是从输送面1a的法线方向P观察输送部10的图。
[0123]如图2和图3所示，上述的标本检查装置100的输送部10以在I个孔部12上可载置I片药剂2的方式构成。
[0124]与此相对，如图9和图10所示，本变形例涉及的输送部10以在I个孔部12上可载置多片药剂2的方式构成。在图示的例子中，以在I个孔部12上可载置3片药剂2的方式构成，但其数目没有限定。
[0125]从图10所示输送面1a的法线方向P观察，孔部12的形状是具有与输送方向X平行的长边的长方形。即，孔部12是在输送方向X延伸(搬出方向X为长边方向)的狭缝。因此，在输送部10中，可以使多片药剂2沿输送方向X排列在孔部12上。
[0126]在图示的例子中，孔部12的短边的大小(孔部12的宽度W12)比药剂2的宽度W2小。由此，输送部10能够将药剂2载置在孔部12上。
[0127](3)第3变形例
[0128]接下来，对第3变形例进行说明。图11是示意地表示第3变形例涉及的输送部10的结构的俯视图。另外，图11是从输送面1a的法线方向P观察输送部10的图。
[0129]如图3所示，上述的标本检查装置100的输送部10在输送部10的宽度方向设置了 I个孔部12。S卩，输送部10以能够将药剂2呈一列排列输送的方式构成。
[0130]与此相对，在本变形例中，如图11所示，输送部10在输送部10的宽度方向(从输送面1a的法线方向P观察，与输送方向X垂直的方向)Y排列设置了多个(2个)孔部12。即，输送部10以能够将药剂2呈多列(2列)排列并输送的方式构成。
[0131]另外，如图12所示，输送部10具有在输送部10的宽度方向Y延伸的孔部12，以多片(2片)药剂2能够在输送部10的宽度方向Y排列载置在I个孔部12上的方式构成。如图12所示从输送面1a的法线方向P观察，孔部12的形状是具有与输送部10的宽度方向Y平行的长边的长方形。即，孔部12是在输送部10的宽度方向Y延伸(宽度方向Y为长边方向)的狭缝。
[0132]太赫兹波产生部20 (参照图1、图2)虽未图示，但对在输送部10的宽度方向Y排列的多片(2片)药剂2照射太赫兹波。然后，太赫兹波检测部30 (参照图1、图2)对透过在输送部10的宽度方向Y排列的多片(2片)药剂2并通过孔部12的太赫兹波进行检测。由此，能够同时检查在输送部10的宽度方向Y排列的多片(2片)药剂2。因此，根据本变形例，能够在较短时间内进行大量药剂2的检查。
[0133](4)第4变形例
[0134]接下来，对第4变形例进行说明。图13是示意地表示第4变形例涉及的太赫兹波检测部30的结构的图。
[0135]如图2所示，在上述的标本检查装置100的太赫兹波检测部30中，通过使透过药剂2的太赫兹波透过滤波器32而有目的性地获取波长，用检测部34进行检测。
[0136]与此相对，在本变形例中，如图13所示，利用滤波器70获取由太赫兹波产生部20产生的太赫兹波的目标波长后照射到药剂2，用太赫兹波检测部30检测透过药剂2的太赫兹波。
[0137]滤波器70使目标波长的太赫兹波透过。滤波器70的材质例如是金属。在图示的例子中，滤波器70位于光源22与透镜28之间。另外，在本变形例中，太赫兹波检测部30不具有滤波器32 (参照图2)。
[0138]2.第2实施方式
[0139]2.1.标本检查装置的结构
[0140]接下来，参照附图对第2实施方式涉及的标本检查装置进行说明。图14是示意地表示第2实施方式涉及的标本检查装置200的结构的图。另外，图15是示意地表示标本检查装置200的结构的一部分的图。以下，在第2实施方式涉及的标本检查装置200中，对具有与上述标本检查装置100同样的功能的部材标记相同的符号，省略其详细说明。
[0141]如图14和图15所示，标本检查装置200包括气体喷射部210，该气体喷射部210通过输送部10的孔部12向载置于输送面1a的药剂2喷射气体G，使药剂2从输送面1a分离。
[0142]气体喷射部210对位于与照射太赫兹波的位置P3相比在输送部10的下游侧(与照射太赫兹波的位置P3相比在输送方向X侧)的位置P4的药剂2喷射气体G将药剂2吹飞，使药剂2可以从输送面1a分离。由此，例如，能够基于太赫兹波检测部30的检测结果，将判定为含有异物的药剂2从输送部10除去。
[0143]标本检查装置200可以进一步包括判定部44和控制部46。具体而言，处理部40通过执行存储在存储部54的程序，从而作为判定部44、控制部46发挥功能。
[0144]判定部44基于图像生成部42生成的表示药剂2中的物质的分布的图像(参照图7)，进行判定药剂2是否含有异物的处理。
[0145]控制部46基于判定部44的判定结果，进行控制气体喷射部210的处理。
[0146]2.2.药剂检查处理
[0147]接下来，参照附图对标本检查装置200中的药剂(标本)检查的处理的流程进行说明。另外，对上述标本检查装置100中的药剂检查处理不同的点进行说明，对相同点省略其说明。
[0148]如图14所示，供给部60将药剂2供给到循环的输送部10的输送面1a上。药剂2载置在位于位置Pl的孔部12上,被输送部10输送。
[0149]若药剂2被输送到太赫兹波产生部20与太赫兹波检测部30之间，则对药剂2照射由太赫兹波产生部20产生的太赫兹波。
[0150]照射到药剂2的太赫兹波透过药剂2，并通过孔部12入射到太赫兹波检测部30。太赫兹波检测部30将基于检测结果的信号S30送到处理部40 (图像生成部42)。图像生成部42基于太赫兹波检测部30的检出结果，生成表示药剂2中的物质的分布的图像。
[0151]判定部44基于图像生成部42生成的表示药剂2中的物质的分布的图像(例如参照图7)，进行判定药剂2是否含有异物的处理。具体而言，判定部44在图7所示的图像中确认了物质B、物质C时，则判定药剂2含有异物。另外，判定部44在图7所示的图像中无法确认物质B、物质C时，则判定药剂2不含有异物。
[0152]被判定部44判定为药剂2含有异物的情况下，当判定为含有异物的药剂2到达位置P4时，控制部46控制气体喷射部210，向该药剂2喷射气体G，使药剂2从输送面1a离开。由此，能够将含有异物的药剂2从输送部10除去。
[0153]另一方面,被判定部44判定为药剂2不含异物的情况下,药剂2被输送部10输送到位置P2而回收。
[0154]标本检查装置200对从供给部60依次供给的药剂2反复进行上述处理,针对被供给的各药剂2，判定是否含有异物，能够仅回收判定为不含有异物的药剂2。
[0155]另外，在此，判定部44判定药剂2是否含有异物，控制部46基于判定部44的判定结果，进行控制气体喷射部210而除去含有异物的药剂2的处理，但也可以用户(使用者)观察图像生成部42生成的表示药剂2中的物质的分布的图像(参照图7)，判定药剂2是否含有异物，操作气体喷射部210，从输送部10除去含有异物的药剂2。
[0156]根据标本检查装置200,由于气体喷射部210通过孔部12向载置于输送面1a的药剂2喷射气体G，使药剂2从输送面1a离开，所以能够容易地选出含有异物的药剂2。
[0157]2.3.变形例
[0158]接下来，对第2实施方式涉及的标本检查装置的变形例进行说明。图16是示意地表示本变形例涉及的棒状部件驱动部220的结构的图。以下，在本变形例中，对具有与上述标本检查装置200同样的功能的部件标记相同的附图标记，省略其详细说明。
[0159]如图14和图15所示，在上述的标本检查装置200中，气体喷射部210通过孔部12向载置于输送面1a的药剂2喷射气体G，使药剂2从输送面1a分离。
[0160]与此相对,如图16所示,本变形例的标本检查装置200包括棒状部件驱动部220代替气体喷射部210，该棒状部件驱动部220通过使棒状部材222通过孔部12向载置于输送面1a的药剂2突出，使药剂2从输送面1a分离。
[0161]棒状部件驱动部220通过使棒状部件222通过孔部12向载置于输送面1a的药剂2突出，能够使药剂2被撞飞而从输送面1a分离。由此，例如，能够根据太赫兹波检测部30的检测结果，将判定为含有异物的药剂2从输送部10除去。
[0162]另外，上述的实施方式和各变形例仅是一个例子，本发明不限于这些实施方式和各变形例。
[0163]例如，在上述的各实施方式和各变形例涉及的标本检查装置中，对作为被检查物的标本为药剂2的情况进行了说明，但该标本不限于药剂，例如，可以是盐、糕点类等食品，粮食、水果等农作物，肥皂、口红等化妆品，半导体基板、超导材料等电子材料，皮肤、骨等生物体。
[0164]另外，例如也可以适当地组合各实施方式和各变形例。
[0165]本发明包括与实施方式中说明的结构实质上相同的结构(例如，功能、方法和结果相同的结构或者目的和效果相同的结构)。另外，本发明包括置换了实施方式中说明的结构的非本质部分的结构。另外，本发明包括与实施方式中说明的结构起到相同的作用效果的结构或能够实现相同的目的的结构。另外，本发明包括向实施方式中说明的结构中添加了公知技术的结构。
[0166]附图标记说明:
[0167]2…药剂;2a…区域；10...输送部;10a…输送面;10b…背面;lla…第I领域;Ilb…第2区域；llc…第3区域;12…孔部;14a、14b…传送带轮；16…凹部;20…太赫兹波产生部；22…光源；23…光脉冲产生部；24…光传导天线；25…基板；26…间隙;27…电极；28…透镜;30…太赫兹波检测部;32…滤波器;32a…像素;34…检测部;36…透镜;40…处理部;42…图像生成部;44…判定部；46…控制部;50…操作部;52…显示部；54…存储部；60…供给部；70…滤波器；100…标本检查装置；200…标本检查装置；210…气体喷射部；220…棒状部件驱动部；222…棒状部件；321…第I区域；322…第2区域；323…第3区域；324…第4区域；341…第I单位检测部；342…第2单位检测部；343…第3单位检测部；344…第4单位检测部。
【权利要求】
1.一种标本检查装置，其特征在于，包括: 输送部，其具有载置作为被检查物的标本的输送面，以能够输送所述标本的方式构成； 太赫兹波产生部，其位于所述输送部的所述输送面侧，产生太赫兹波；以及太赫兹波检测部，其位于所述输送部的与所述输送面相反的一侧的面侧，检测从所述太赫兹波产生部射出并透过载置于所述输送面的所述标本的太赫兹波， 所述输送部具有连通所述输送面以及与所述输送面相反的一侧的面的孔部，以能够在所述孔部上载置所述标本的方式构成。
2.根据权利要求1所述的标本检查装置，其特征在于， 所述输送面具有载置所述标本的凹部， 所述孔部连通所述凹部以及与所述输送面相反的一侧的面。
3.根据权利要求1或2所述的标本检查装置，其特征在于， 所述孔部的宽度比所述标本的宽度小。
4.根据权利要求1?3中任一项所述的标本检查装置，其特征在于， 所述输送部以能够在I个所述孔部上载置I个所述标本的方式构成。
5.根据权利要求1?3中任一项所述的标本检查装置，其特征在于， 所述输送部以能够在所述孔部上载置多个所述标本的方式构成。
6.根据权利要求1?5中任一项所述的标本检查装置，其特征在于， 所述太赫兹波产生部具有: 产生光脉冲的光脉冲产生部；和 被照射由所述光脉冲产生部产生的光脉冲的光传导天线。
7.根据权利要求1?6中任一项所述的标本检查装置，其特征在于， 包括气体喷射部，所述气体喷射部通过所述孔部向载置于所述输送面的所述标本喷射气体，使所述标本从所述输送面离开。
8.根据权利要求1?7中任一项所述的标本检查装置，其特征在于， 所述孔部被设置于透过所述输送部的所述标本的太赫兹波通过的区域， 所述太赫兹波检测部检测通过所述孔部的太赫兹波。
【文档编号】G01N21/89GK104048972SQ201410085601
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2014年3月10日 优先权日:2013年3月12日
【发明者】中山人司 申请人:精工爱普生株式会社