一种噪声系数测量方法及噪声系数标准器的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种噪声系数测量方法及噪声系数标准器，属于测量【技术领域】。所述方法包括：提供一噪声系数标准器，噪声系数标准器在各个低频频点的噪声系数为定值；采用噪声系数测量仪对噪声系数标准器进行测量，得到噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数测量值；采用噪声系数测量仪对待测器件进行测量，得到待测器件在待测低频频点的噪声系数测量值；根据噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数定值、噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数测量值、以及待测器件在待测低频频点的噪声系数测量值，计算待测器件在待测低频频点的噪声系数。本发明解决了现有技术不能对器件的低频噪声系数进行测量的问题。
【专利说明】一种噪声系数测量方法及噪声系数标准器
【技术领域】
[0001]本发明涉及测量【技术领域】，特别涉及一种噪声系数测量方法及噪声系数标准器。【背景技术】
[0002]器件的噪声系数是指器件输入端的信噪比与器件输出端的信噪比的比值，用于衡量该器件本身的噪声水平。
[0003]现在通常采用如下方法测量器件的噪声系数:分别将待测器件的输入端分别接入噪声温度已知的高温噪声源和低温噪声源，并采用功率指示计测量待测器件输出端的功
率；按照如下公式计算待测器件的噪声系数
【权利要求】
1.一种噪声系数测量方法，其特征在于，所述方法包括: 提供一噪声系数标准器，所述噪声系数标准器在各个低频频点的噪声系数为定值，所述噪声系数标准器包括输入匹配单元、第一级放大电路、以及输出匹配单元，所述第一级放大电路分别与所述输入匹配单元和所述输出匹配单元连接，所述第一级放大电路包括多个并联的运算放大器； 采用噪声系数测量仪对所述噪声系数标准器进行测量，得到所述噪声系数标准器在待测低频频点的噪声系数测量值； 采用所述噪声系数测量仪对待测器件进行测量，得到所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数测量值； 根据所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数定值、所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数测量值、以及所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数测量值，计算所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述低频频点的范围为20Hz-100kHz。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数定值、所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数测量值、以及所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数测量值，计算所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数，包括: 按照如下公式计算所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数:
x=x，+ (a_a，)； 其中，X为所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数，X’为所述待测器件在所述待测低频频点的噪声系数测量值，a为所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数定值，a’为所述噪声系数标准器在所述待测低频频点的噪声系数测量值。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述运算放大器的个数为4。
5.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述噪声系数标准器还包括第二级放大电路，所述第二级放大电路串联在所述第一级放大电路和所述输出匹配单元之间。
6.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述噪声系数标准器还包括电源电路，所述电源电路包括二次稳压电路和双T工频陷波器，所述二次稳压电路通过所述双T工频陷波器与所述第一级放大电路电连接。
7.—种噪声系数标准器，其特征在于，所述噪声系数标准器包括输入匹配单元、第一级放大电路、以及输出匹配单元，所述第一级放大电路分别与所述输入匹配单元和所述输出匹配单元连接，所述第一级放大电路包括多个并联的运算放大器。
8.根据权利要求7所述的噪声系数标准器，其特征在于，所述运算放大器的个数为4。
9.根据权利要求7或8所述的噪声系数标准器，其特征在于，所述噪声系数标准器还包括第二级放大电路，所述第二级放大电路串联在所述第一级放大电路和所述输出匹配单元之间。
10.根据权利要求7或8所述的噪声系数标准器，其特征在于，所述噪声系数标准器还包括电源电路，所述电源电路包括二次稳压电路和双T工频陷波器，所述二次稳压电路通过所述双T工频陷波器与所述第一级放大电路电连接。
【文档编号】G01R29/26GK103954851SQ201410134533
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2014年4月3日 优先权日:2014年4月3日
【发明者】毛勇, 杨军, 周志宇, 江传华, 郑松峰 申请人:中国船舶重工集团公司第七二二研究所