一种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法。该方法包括：使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定；根据标定后的标定数据设置增益控制参数，并根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节；使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测，得到实际检测数据；根据检测数据计算得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度。通过使用本发明所提供的方法，可以对待检测电晕的辐射亮度进行定量检测。
【专利说明】—种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及紫外成像检测【技术领域】，特别涉及一种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法。
【背景技术】
[0002]在现有技术中，紫外成像检测技术是近几年来新兴的一种远距离检测交流高压线路、输变电设备外部绝缘状态的新技术。该技术主要是通过“日盲”紫外波段(240?280nm)进行电晕放电的检测，从而能够发现引起电场异常的设备缺陷，精确定位放电位置、观察放电情况，再通过分析来判断电晕放电对电气设备外绝缘造成的危害。该项技术因其具有简单高效、直观形象、且不影响设备运行、安全方便等诸多优点，在电力系统中逐渐得到了广泛的推广和应用。
[0003]在该检测技术中，紫外探测器和对应的电晕检测方法是影响最终检测结果的两个关键因素。在紫外探测器方面，由于被探测的紫外信号极其微弱，因此必须对被探测的紫外信号进行增强后才能进行探测。在现有技术中，能够进行增强的成像探测器主要有电子倍增电荷耦合器件(EMCCD)和增强电荷耦合器件(ICCD)两种。其中，EMCCD需要制冷，因此体积和功耗都较大，并且价格也比较贵。ICXD由像增强器和普通可见光CXD经光纤光锥耦合而成，其体积小，无需制冷且价格较便宜，因此，目前市场上成熟的紫外电晕检测设备均采用ICCD作为紫外探测器。在该ICCD探测器中，是通过控制外部电压来调节加载在内部微通道板(MCP)两端的倍增高压，从而实现增益的调节。其中，控制电压与增益之间近似指数关系。然而，在现有技术中的紫外电晕检测设备中，对当前增益的控制都是通过手动调节外部电压的方式来实现，而无法自动对增益进行控制，因此难以随时保证日盲紫外ICCD在特定增益时工作在线性区；而且，由于是通过手动的方式对增益进行控制，因此增益调节的速度也较慢，调节精度也比较低。基于上述的原因，现有技术中成熟的紫外电晕检测方法均是首先通过紫外探测器获取待检测电晕的紫外图像，然后计算紫外图像中目标电晕的光子数，并根据光子数的多少定性(而不是定量)地分析放电量的大小。因此，现有技术中的电晕检测方法都只能对电晕进行定性探测，所以只能确定故障点的位置，而不能提供故障点的电晕所产生的辐射亮度的具体数值，因此难以对待检测电晕的辐射亮度进行定量检测，从而难以准确地反映电力设备损伤的真实情况。
【发明内容】
[0004]有鉴于此，本发明提供一种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法，从而可以对待检测电晕的辐射亮度进行定量检测。
[0005]本发明的技术方案具体是这样实现的:
[0006]—种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法，该方法包括:
[0007]A、使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定；
[0008]B、根据标定后的标定数据设置增益控制参数，并根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节；
[0009]C、使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测，得到实际检测数据；
[0010]D、根据检测数据计算得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度。
[0011]较佳的，所述步骤A包括:
[0012]Al、预先设置一个标准紫外光源；
[0013]A2、保持日盲紫外成像仪的增益不变，在当前增益的增益控制电压的范围内，选择N个电压值作为当前增益的控制点电压；
[0014]A3、对于每一个控制点电压，逐步调节标准紫外光源的辐射亮度，使日盲紫外成像仪输出的紫外图像中的标准紫外光源的亮度由暗到亮发生变化，直至饱和；
[0015]A4、根据标准紫外光源的各种辐射亮度与对应的日盲紫外成像仪输出的紫外图像，建立并存储每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值、饱和度的关系曲线。
[0016]较佳的，所述步骤A4包括:
[0017]在每个控制点电压，选取标准紫外光源由暗到亮直至饱和过程中对应每个阶段的M帧图像；
[0018]在每帧图像中提取标准紫外光源，并计算该标准紫外光源的目标平均灰度值、饱和度和对应的大气透过率；
[0019]根据计算结果建立并存储每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值、饱和度的关系曲线。
[0020]较佳的，所述步骤B包括:
[0021]B1、在每一个控制点电压的所述关系曲线中，选择一个标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值呈线性关系的线性区；
[0022]B2、将所选择的线性区中的紫外图像的目标平均灰度值的最大值Pmax、最小值Pmin和最大饱和度Smax设置为增益控制参数；
[0023]B3、根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节。
[0024]较佳的，所述步骤B3包括:
[0025]实时计算日盲紫外成像仪的各个输出图像中的目标平均灰度值Pt和饱和度St ；
[0026]当St > Smax或Pt > Pfflax时，调节日盲紫外成像仪的像增强器的增益控制电压，减小像增强器的增益，直到St ( Smax且Pt彡Pfflax ；
[0027]当Pt < Pmin时，调节日盲紫外成像仪的像增强器的增益控制电压，增大像增强器的增￡fL，直到 Pt ^ Pmin°
[0028]较佳的，所述检测数据包括:
[0029]日盲紫外成像仪的输出图像。
[0030]较佳的，所述检测数据中还进一步包括:
[0031]与所述日盲紫外成像仪的输出图像对应的像增强器的增益控制电压、大气条件参数和目标距离。
[0032]较佳的，所述步骤D包括:
[0033]根据检测数据中的像增强器的增益控制电压确定与所述增益控制电压对应的关系曲线；
[0034]在所确定的关系曲线的线性区中选取m个点上的辐射亮度和对应的目标平均灰度值；
[0035]根据所选取的每个点所对应的大气透过率、目标距离、当前增益、辐射亮度和对应的目标平均灰度值，计算得到与每个点对应的系统参数；
[0036]根据每个点对应的系统参数计算系统参数平均值；
[0037]根据所述系统参数平均值、大气透过率、目标距离、当前增益和对应的目标平均灰度值，计算得到目标位置的电晕的辐射亮度。
[0038]较佳的，通过如下所述的公式计算所述每个点对应的系统参数和目标位置的电晕的辐射亮度:
[0039]P XR$GXL
R2
[0040]其中，P为紫外成像仪的输出图像的目标平均灰度值，k为与所述日盲紫外成像仪相关的系统参数，R为目标距离，τ (R)为大气透过率，G为日盲紫外成像仪中的像增强器的增益，L为辐射亮度。
[0041]如上可见，在本发明中的基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法中，由于先使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定，接着根据标定后的标定数据设置增益控制参数，并根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节；然后再使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测，得到实际检测数据，并根据检测数据计算得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度，从而可以实现对待检测电晕的辐射亮度进行定量检测而不仅仅是进行定性分析。另外，由于在本发明的技术方案中，还可以根据所设置的增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节，从而可以证标准紫外光源的辐射亮度与输出图像的目标平均灰度值工作在线性区；此外，由于在本发明的技术方案中，将线性区中的紫外图像的目标平均灰度值和最大饱和度作为上述的增益控制参数，从而大大减少了图像数据处理的工作量，提高了增益调节速度。
【专利附图】
【附图说明】
[0042]图1为本发明实施例中的日盲紫外成像仪的结构示意图；
[0043]图2为本发明实施例中的基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法的流程示意图。
【具体实施方式】
[0044]为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本发明进一步详细说明。
[0045]本实施例提供了一种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法。
[0046]图1为本发明实施例中的日盲紫外成像仪的结构示意图。如图1所示，所述日盲紫外成像仪(即日盲紫外IC⑶成像系统)包括:紫外透镜、紫外滤光片、光电阴极、微通道板、荧光屏和电荷耦合元件(CCD)。
[0047]当使用上述日盲紫外ICXD成像系统时，目标紫外辐射首先经过大气传输到达系统的光学子系统入射面，接着经过紫外透镜和紫外滤光片等组成的光学子系统后到达像增强器(包括光电阴极、微通道板和荧光屏)中的光电阴极，然后经过像增强器中的光电阴极的光电转换和微通道板的电子倍增后到达荧光屏，最后荧光屏上的可见光辐射经过光纤光锥后传到电荷耦合器件(CCD)靶面上，经CCD成像后输出视频信号。
[0048]当上述日盲紫外ICXD成像系统中各组成部分的参数确定并安装调试后，若目标距离成像系统镜头的距离(即目标距离)为R，则C⑶输出图像的平均灰度值P与目标的辐射壳度L存在如下关系:
[0049]P =kXT(R ^GXL( I )
R ^
[0050]其中，k为与所述日盲紫外IC⑶成像系统相关的系统参数，当所述日盲紫外ICXD成像系统确定后，该参数k为固定值，τ (R)为大气透过率，G为像增强器的增益。
[0051]由公式⑴可知，当R确定后，τ (R)即可通过计算得到，此时公式⑴可简化为:
[0052]P = Ii1XGXL (2)
[0053]其中，Ic1为与所述日盲紫外IC⑶成像系统、目标距离和大气参数相关的参数，当日盲紫外ICCD成像系统、目标距离和大气参数确定后，该参数Ic1为固定值。
[0054]由公式⑵可以看出，对于特定距离和大气条件下的目标，当像增强器的增益G为某个固定值时，CCD输出图像的平均灰度值P与目标的辐射亮度L存在一定的线性关系。而当目标的辐射亮度L不变时，CCD输出图像的平均灰度值P与像增强器的增益G也存在一定的线性关系。
[0055]因此，为了能够定量地由CXD输出图像的平均灰度值P计算出目标的辐射亮度L，首先需要找到一个合适的像增强器增益值G对目标进行检测。
[0056]所以，在本发明的技术方案中，提出了使用自动增益控制技术，以保证日盲紫外ICXD成像系统在特定增益时工作在线性区，同时通过预先测定的日盲紫外ICXD成像系统在不同增益下的标定数据，对所需检测的电晕的电晕图像进行处理，从而计算出目标电晕的实际辐射亮度。
[0057]图2为本发明实施例中的基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法的流程示意图。如图1所示，本发明实施例中的基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法主要包括:。
[0058]步骤21，使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定。
[0059]为了实现对待检测电晕的辐射亮度的定量检测，首先必须对电晕探测系统(即日盲紫外成像仪)进行标定，其基本过程是针对已知辐射亮度的标准紫外光源进行测量，从而建立标准紫外光源的辐射亮度与日盲紫外成像仪(例如，日盲紫外ICCD成像系统)所输出的紫外图像的平均灰度值、饱和度之间的关系。
[0060]在本发明的技术方案中，上述步骤21可以使用多种方式来实现。以下将以其中的一种实现方式为例，对本发明的技术方案进行详细的介绍。
[0061]较佳的，在本发明的具体实施例中，所述步骤21可以包括:
[0062]步骤211，预先设置一个标准紫外光源。
[0063]步骤212，保持日盲紫外成像仪的增益G不变，在当前增益G的增益控制电压的范围内，选择N个电压值作为当前增益的控制点电压。
[0064]例如，可以首先在日盲紫外成像仪中确定一个像增强器的增益G，然后保持该当前增益G不变，对于该当前增益G，当所述日盲紫外成像仪的外部的增益控制电压的范围为aV?bV时，则可以在区间[a，b]中选择N个电压值作为该当前增益G的控制点电压。
[0065]在本发明的技术方案中，在实际选择上述N个控制点电压时，可以参照日盲紫外成像仪的增益G随增益控制电压的变化曲线选择N个电压值作为控制点电压。当上述N个电压值选定之后，对应于每一个选定的电压值的像增强器的增益G是一个固定值。
[0066]步骤213，对于每一个控制点电压，逐步调节标准紫外光源的辐射亮度L，使日盲紫外成像仪输出的紫外图像中的目标(即标准紫外光源)的亮度由暗到亮发生变化，直至饱和。
[0067]较佳的，在本发明的具体实施例中，在本步骤中，还可以同步记录并存储对应的大气条件参数和目标距离等信息。
[0068]步骤214，根据标准紫外光源的各种辐射亮度与对应的日盲紫外成像仪输出的紫外图像，建立并存储每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值、饱和度的关系曲线。
[0069]由于日盲紫外ICXD成像系统的输出图像一般都没有复杂的背景信息，背景灰度强度比较低，目标(即标准紫外光源)与背景对比度较高，因此，目标的平均灰度值Pt决定了整幅输出图像的平均灰度值P。同时，由于实际测量的紫外图像中目标一般只占据整幅输出图像中较小的区域，容易出现局部过饱和的现象，因此还需要对目标的饱和度St进行分析。在本发明的技术方案中，可以将St可定义为目标像素中灰度值超过阈值&(例如，典型值为235)的像素数与目标总像素数之比。因此可知，所述日盲紫外成像仪的的输出图像变化情况可通过平均灰度值Pt和饱和度St来体现，所以，根据标准紫外光源的各种辐射亮度与对应的日盲紫外成像仪输出的紫外图像，即可建立每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值、饱和度的关系曲线。
[0070]在本发明的技术方案中，上述步骤214也可以使用多种方式来实现。以下将以其中的一种实现方式为例，对本发明的技术方案进行详细的介绍。
[0071]例如，在本发明的较佳实施例时，所述步骤214可以包括:
[0072]步骤2141，在每个控制点电压，选取标准紫外光源由暗到亮直至饱和过程中对应每个阶段的M帧图像。
[0073]较佳的，在本发明的具体实施例中，所述M的取值可以根据实际情况预先设定。例如，可以预先设置M的取值为5。
[0074]步骤2142，在每帧图像中提取标准紫外光源，并计算该标准紫外光源的目标平均灰度值Pt、饱和度St和对应的大气透过率τ (R)。
[0075]步骤2143，根据计算结果建立并存储每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值Pt、饱和度St的关系曲线。
[0076]通过上述的步骤2141?2143，即可建立并存储每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值Pt、饱和度St的关系曲线。而
[0077]通过上述的步骤211?214，即可使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定。
[0078]步骤22，根据标定后的标定数据设置增益控制参数，并根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节。
[0079]由上述所描述的内容可知，日盲紫外成像仪的的输出图像变化情况可通过目标平均灰度值Pt和饱和度St来体现，因此可以通过计算和分析日盲紫外成像仪的输出图像的目标平均灰度值Pt和饱和度St来调节日盲紫外成像仪中的像增强器的增益G，从而保证标准紫外光源的辐射亮度L与输出图像的目标平均灰度值Pt工作在线性区，即在该线性区中，L与Pt呈线性关系。
[0080]在本发明的技术方案中，上述步骤22也可以使用多种方式来实现。以下将以其中的一种实现方式为例，对本发明的技术方案进行详细的介绍。
[0081]例如，在本发明的较佳实施例时，所述步骤22可以包括:
[0082]步骤221，在每一个控制点电压的所述关系曲线中，选择一个标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值呈线性关系的线性区。
[0083]在本步骤中，可以在每一个控制点电压的所述关系曲线中都选择一个线性区，在该线性区中，标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值呈线性关系。
[0084]步骤222，将所选择的线性区中的紫外图像的目标平均灰度值的最大值、最小值和最大饱和度设置为增益控制参数。
[0085]在本步骤中，可以将所选择的每一个控制点电压的线性区中的目标平均灰度值的最大值Pmax、最小值Pmin和最大饱和度Smax设置为增益控制参数，从而可以保证紫外光源的辐射亮度L与输出图像的目标平均灰度值Pt工作在线性区。
[0086]步骤223，根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节。
[0087]在设置了增益控制参数之后，即可根据所设置的增益控制参数，并使用相应的处理电路和控制电路实现对日盲紫外成像仪(即日盲紫外ICXD成像系统)的增益G的自动调节。
[0088]在本发明的技术方案中，上述步骤223也可以使用多种方式来实现。以下将以其中的一种实现方式为例，对本发明的技术方案进行详细的介绍。
[0089]例如，在本发明的较佳实施例时，所述步骤223可以包括:
[0090]步骤2231，实时计算日盲紫外成像仪的各个输出图像中的目标平均灰度值Pt和饱和度St。
[0091]步骤2232，当St > Sfflax或Pt > Pfflax时，调节日盲紫外成像仪的像增强器的增益控制电压，减小像增强器的增益，直到St ( Sfflax且Pt彡Pfflax ；
[0092]当Pt < Pmin时，调节日盲紫外成像仪的像增强器的增益控制电压，增大像增强器的增￡fL，直到 Pt ^ Pmin°
[0093]通过上述的步骤2231?2232，即可实现对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节，从而保证紫外光源的辐射亮度L与输出图像的目标平均灰度值Pt工作在线性区。
[0094]步骤23，使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测，得到实际检测数据。
[0095]当对日盲紫外成像仪(即日盲紫外IC⑶成像系统)进行标定和实现自动增益控制之后，即可使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行电晕检测，得到实际检测数据。
[0096]较佳的，在本发明的具体实施例中，所述检测数据包括:日盲紫外成像仪的输出图像。通过该日盲紫外成像仪的输出图像即可获知该输出图像的目标平均灰度值Pt、饱和度St。
[0097]另外，在对目标位置的电晕放电进行检测，实时记录紫外电晕检测图像以得到实际检测数据的同时，还可以同步记录对应的像增强器的外部增益控制电压、大气条件参数和目标距离等信息。因此，较佳的，在本发明的具体实施例中，所述检测数据中还可以包括:与所述日盲紫外成像仪的输出图像对应的像增强器的外部增益控制电压、大气条件参数和目标距离等信息。
[0098]步骤24，根据检测数据计算得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度。
[0099]在使用标定后的日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测得到实际检测数据之后，即可对所得到的检测数据进行分析和计算，以得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度。
[0100]在本发明的技术方案中，上述步骤24也可以使用多种方式来实现。以下将以其中的一种实现方式为例，对本发明的技术方案进行详细的介绍。
[0101]例如，在本发明的较佳实施例时，所述步骤24可以包括:
[0102]步骤241，根据检测数据中的像增强器的增益控制电压确定与所述增益控制电压对应的关系曲线。
[0103]步骤242，在所确定的关系曲线的线性区中选取m个点上的辐射亮度和对应的目标平均灰度值。
[0104]较佳的，在本发明的具体实施例中，所述m的取值可以预先设置。例如，可以将m的取值设为3，即在线性区中选取3个点。
[0105]步骤243，根据所选取的每个点所对应的大气透过率、目标距离、当前增益、辐射亮度和对应的目标平均灰度值，计算得到与每个点对应的系统参数。
[0106]较佳的，在本发明的具体实施例中，可以通过上述公式(I)计算得到与每个点对应的系统参数k。如果m的取值为3，则可以计算得到三个系统参数:k1、k2和k3。
[0107]步骤244，根据每个点对应的系统参数计算系统参数平均值。
[0108]步骤245，根据所述系统参数平均值、大气透过率、目标距离、当前增益和对应的目标平均灰度值，计算得到目标位置的电晕的辐射亮度。
[0109]较佳的，在本发明的具体实施例中，当系统参数平均值、大气透过率、目标距离、当前增益和对应的目标平均灰度值已知时，即可通过上述公式(I)计算得到目标位置的电晕的辐射亮度L。
[0110]综上可知，在本发明中的基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法中，由于先使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定，接着根据标定后的标定数据设置增益控制参数，并根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节；然后再使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测，得到实际检测数据，并根据检测数据计算得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度，从而可以实现对待检测电晕的辐射亮度进行定量检测而不仅仅是进行定性分析。另外，由于在本发明的技术方案中，还可以根据所设置的增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节，从而可以证标准紫外光源的辐射亮度与输出图像的目标平均灰度值工作在线性区；此外，由于在本发明的技术方案中，将线性区中的紫外图像的目标平均灰度值和最大饱和度作为上述的增益控制参数，从而大大减少了图像数据处理的工作量，提高了增益调节速度。
[0111]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
【权利要求】
1.一种基于日盲紫外成像仪的电晕检测方法，其特征在于，该方法包括: A、使用预设的标准紫外光源对日盲紫外成像仪进行标定； B、根据标定后的标定数据设置增益控制参数，并根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节； C、使用所述日盲紫外成像仪对目标位置的电晕放电进行检测，得到实际检测数据； D、根据检测数据计算得到对应的目标位置的电晕的辐射亮度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤A包括: Al、预先设置一个标准紫外光源； A2、保持日盲紫外成像仪的增益不变，在当前增益的增益控制电压的范围内，选择N个电压值作为当前增益的控制点电压； A3、对于每一个控制点电压，逐步调节标准紫外光源的辐射亮度，使日盲紫外成像仪输出的紫外图像中的标准紫外光源的亮度由暗到亮发生变化，直至饱和； A4、根据标准紫外光源的各种辐射亮度与对应的日盲紫外成像仪输出的紫外图像，建立并存储每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值、饱和度的关系曲线。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述步骤A4包括: 在每个控制点电压，选取标准紫外光源由暗到亮直至饱和过程中对应每个阶段的M帧图像； 在每帧图像中提取标准紫外光源，并计算该标准紫外光源的目标平均灰度值、饱和度和对应的大气透过率； 根据计算结果建立并存储每一个控制点电压的标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值、饱和度的关系曲线。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤B包括: B1、在每一个控制点电压的所述关系曲线中，选择一个标准紫外光源的辐射亮度与对应紫外图像的目标平均灰度值呈线性关系的线性区； B2、将所选择的线性区中的紫外图像的目标平均灰度值的最大值Pmax、最小值Pmin和最大饱和度Smax设置为增益控制参数； B3、根据增益控制参数对日盲紫外成像仪的增益进行自动调节。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述步骤B3包括: 实时计算日盲紫外成像仪的各个输出图像中的目标平均灰度值Pt和饱和度St ； 当St > Smax或Pt > Pfflax时，调节日盲紫外成像仪的像增强器的增益控制电压，减小像增强器的增益，直到St ( S-且Pt彡Pfflax ； 当Pt < Pfflin时，调节日盲紫外成像仪的像增强器的增益控制电压，增大像增强器的增 直到 Pt ^ Pmin°
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测数据包括: 日盲紫外成像仪的输出图像。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述检测数据中还进一步包括: 与所述日盲紫外成像仪的输出图像对应的像增强器的增益控制电压、大气条件参数和目标距离。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤D包括: 根据检测数据中的像增强器的增益控制电压确定与所述增益控制电压对应的关系曲线.在所确定的关系曲线的线性区中选取m个点上的辐射亮度和对应的目标平均灰度值；根据所选取的每个点所对应的大气透过率、目标距离、当前增益、辐射亮度和对应的目标平均灰度值，计算得到与每个点对应的系统参数； 根据每个点对应的系统参数计算系统参数平均值； 根据所述系统参数平均值、大气透过率、目标距离、当前增益和对应的目标平均灰度值，计算得到目标位置的电晕的辐射亮度。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，通过如下所述的公式计算所述每个点对应的系统参数和目标位置的电晕的辐射亮度:
P _k xt(R )xG xL ~ F2 其中，P为紫外成像仪的输出图像的目标平均灰度值，k为与所述日盲紫外成像仪相关的系统参数，R为目标距离，τ (R)为大气透过率，G为日盲紫外成像仪中的像增强器的增益，L为辐射亮度。
【文档编号】G01R31/12GK104280670SQ201410505956
【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年9月26日 优先权日:2014年9月26日
【发明者】宋亚军 申请人:北京环境特性研究所