偏光仪测定玻璃内应力装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种偏光仪测定玻璃内应力装置，由光源、起偏振片、载物台、1/4波长片和检偏振片组成，所述起偏振片放置于载物台一侧的第一支架上，且第一支架上位于起偏振片的一侧安装有光源，所述试样置于载物台上，所述1/4波长片和检偏振片分别置于载物台另一侧的第二支架上。本发明的装置能够利用补偿器测定法快速有效地测出玻璃的内应力，且本发明的装置结构简单，安装使用方便，测量精度高，适用性广。
【专利说明】偏光仪测定玻璃内应力装置
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【技术领域】
[0002]本发明涉及玻璃应力测量领域，特别涉及一种偏光仪测定玻璃内应力装置。
【背景技术】
[0003]由于生广工艺的特殊性，在制作完成后的玻璃制品中还或多或少地存在内应力。在玻璃成型过程中，由于外部机械力的作用或冷却时热不均匀所产生的应力称为热应力或宏观应力。在玻璃内部由于成分不均匀而形成的微不均匀区所造成的应力称为结构应力或微观应力。在玻璃内相当于晶胞大小的体积范围内所存在的应力称为超微观应力。由于玻璃的结构特性，其中的微观与超微观应力极小，对玻璃的机械强度影响不大。影响最大的是玻璃中的热应力，因为这种应力通常是极不均匀的，严重时会降低玻璃制品的机械强度和热稳定性，影响制品的安全使用，甚至会发生自裂现象。因此，为了保证使用时的安全，对各种玻璃制品都规定其残余的内应力不能超过某一规定值。对于光学玻璃，较大应力的存在将严重影响光透过和成像质量。因此，测量玻璃的内应力是控制质量的一种手段，特别是质量要求较高的贵重的或精密的产品尤其重要。
[0004]
【发明内容】
[0005]为了克服上述缺陷，本发明提供了一种能够快速测量玻璃内应力的偏光仪测定玻璃内应力装置。
[0006]本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种偏光仪测定玻璃内应力装置，由光源、起偏振片、载物台、1/4波长片和检偏振片组成，所述起偏振片放置于载物台一侧的第一支架上，且第一支架上位于起偏振片的一侧安装有光源，所述试样置于载物台上，所述1/4波长片和检偏振片分别置于载物台另一侧的第二支架上。
[0007]作为本发明的进一步改进，所述光源上还连接安装有一镇流器。
[0008]作为本发明的进一步改进，所述第二支架上设有1/4波长度盘和检偏振片度盘，所述1/4波长片和检偏振片分别安装在1/4波长度盘和检偏振片度盘内。
[0009]本发明的有益效果是:本发明的装置能够利用补偿器测定法快速有效地测出玻璃的内应力，且本发明的装置结构简单，安装使用方便，测量精度高，适用性广。
[0010]
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为本发明结构示意图；
图中标示:1_光源；2_起偏振片；3_载物台；4-1/4波长片；5_检偏振片；6_第一支架；
7-试样；8_第二支架；9_镇流器；10-1/4波长度盘；11-检偏振片度盘。
[0012]
【具体实施方式】
[0013]为了加深对本发明的理解，下面将结合实施例和附图对本发明作进一步详述，该实施例仅用于解释本发明，并不构成对本发明保护范围的限定。
[0014]图1示出了本发明一种偏光仪测定玻璃内应力装置的一种实施方式，由光源1、起偏振片2、载物台3、1/4波长片4和检偏振片5组成，所述起偏振片2放置于载物台3 —侧的第一支架6上，且第一支架6上位于起偏振片2的一侧安装有光源1，所述试样7置于载物台3上，所述1/4波长片4和检偏振片5分别置于载物台3另一侧的第二支架8上；所述光源I上还连接安装有一镇流器9 ;所述第二支架8上设有1/4波长度盘10和检偏振片度盘11，所述1/4波长片4和检偏振片5分别安装在1/4波长度盘10和检偏振片度盘11内。
[0015]由光源I发出的光经起偏镜后，变成平面偏振光(假设其振动方向为垂直方向)，当旋转检偏镜与之正交时，偏振光不能通过，用眼睛观察时视场呈黑色。若在光路中放人有应力的玻璃试样时，该偏振光通过玻璃后被分解为具有程差的水平偏振光和垂直偏振光。当两束偏振光通过I / 4波片后，被合成为平面偏振光，但此时的平面偏振光的偏振面对起偏镜产生的平面偏振光的振动方向有一个口角的旋转。因此，在视场中就可看到两条黑色条纹隔开的明亮区。旋转检偏镜，重新使玻璃中心变黑，根据检偏镜的角度差"，就可计算玻璃的光程差。
【权利要求】
1.一种偏光仪测定玻璃内应力装置，其特征在于:由光源(I)、起偏振片(2)、载物台(3)、1/4波长片(4)和检偏振片(5)组成，所述起偏振片(2)放置于载物台(3) —侧的第一支架(6)上，且第一支架(6)上位于起偏振片(2)的一侧安装有光源(I)，所述试样(7)置于载物台(3)上，所述1/4波长片(4)和检偏振片(5)分别置于载物台(3)另一侧的第二支架⑶上。
2.根据权利要求1所述的偏光仪测定玻璃内应力装置，其特征在于:所述光源(I)上还连接安装有一镇流器(9)。
3.根据权利要求1所述的偏光仪测定玻璃内应力装置，其特征在于:所述第二支架(8)上设有1/4波长度盘(10)和检偏振片度盘(11)，所述1/4波长片(4)和检偏振片(5)分别安装在1/4波长度盘(10)和检偏振片度盘(11)内。
【文档编号】G01L1/24GK104296905SQ201410609377
【公开日】2015年1月21日 申请日期:2014年11月4日 优先权日:2014年11月4日
【发明者】尚修鑫 申请人:苏州精创光学仪器有限公司