连续光源固定波长检测装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种连续光源固定波长检测装置，包括光源、分光镜、流通池、狭缝平板、凹面光栅、平面镜以及光电池阵列，所述光源发出的光经过分光镜后进入流通池，从流通池出来的光经过狭缝平板的后照射至凹面光栅上，所述凹面光栅将光反射至平面镜，再由平面镜反射至光电池阵列中。本发明的连续光源固定波长检测装置能够利用氚灯作为测量光源，将光源经过流通池后将光信息最终反射至光电池阵列中，最终通过计算机处理系统计算出连续光源的波长，本发明的装置结构简单，测量结果准确，操作方便，适用于多数连续光源的波长测量。
【专利说明】连续光源固定波长检测装置
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【技术领域】
[0002]本发明涉及光源波长检测装置，特别涉及一种连续光源固定波长检测装置。
【背景技术】
[0003]可见光是电磁波谱中人眼可以感知的部分，可见光谱没有精确的范围；一般人的眼睛可以感知的电磁波的波长在400到800纳米之间，但还有一些人能够感知到波长大约在380到780纳米之间的电磁波。光波长测量是伴随着光纤通信发展起来的一个【技术领域】，它与光纤通信的发展水平是密不可分的.光波长测量技术的高低是决定光通信发展状况的重要因素之一，因此，对光波长测量技术的研宄具有重大的实用价值和理论意义。
[0004]
【发明内容】
[0005]为了克服上述缺陷，本发明提供了一种能够快速测量的连续光源固定波长检测装置。
[0006]本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种连续光源固定波长检测装置，包括光源、分光镜、流通池、狭缝平板、凹面光栅、平面镜以及光电池阵列，所述光源发出的光经过分光镜后进入流通池，从流通池出来的光经过狭缝平板的后照射至凹面光栅上，所述凹面光栅将光反射至平面镜，再由平面镜反射至光电池阵列中。
[0007]作为本发明的进一步改进，所述光源为氚灯。
[0008]本发明的有益效果是:本发明的连续光源固定波长检测装置能够利用氚灯作为测量光源，将光源经过流通池后将光信息最终反射至光电池阵列中，最终通过计算机处理系统计算出连续光源的波长，本发明的装置结构简单，测量结果准确，操作方便，适用于多数连续光源的波长测量。
[0009]
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1为本发明结构示意图；
图中标不:1-光源；2_分光镜；3_流通池；4_狭缝平板；5_凹面光栅；6_平面镜；7-光电池阵列。
[0011]
【具体实施方式】
[0012] 为了加深对本发明的理解，下面将结合实施例和附图对本发明作进一步详述，该实施例仅用于解释本发明，并不构成对本发明保护范围的限定。
[0013]图1示出了本发明一种连续光源固定波长检测装置的一种实施方式，包括光源1、分光镜2、流通池3、狭缝平板4、凹面光栅5、平面镜6以及光电池阵列7，所述光源I发出的光经过分光镜2后进入流通池3，从流通池3出来的光经过狭缝平板4的后照射至凹面光栅5上，所述凹面光栅5将光反射至平面镜6，再由平面镜6反射至光电池阵列7中，所述光源I为氚灯。
【权利要求】
1.一种连续光源固定波长检测装置，其特征在于:包括光源(1)、分光镜(2)、流通池(3)、狭缝平板(4)、凹面光栅(5)、平面镜(6)以及光电池阵列(7)，所述光源⑴发出的光经过分光镜(2)后进入流通池(3)，从流通池(3)出来的光经过狭缝平板(4)的后照射至凹面光栅(5)上，所述凹面光栅(5)将光反射至平面镜￠)，再由平面镜(6)反射至光电池阵列(X)中。
2.根据权利要求1所述的连续光源固定波长检测装置，其特征在于:所述光源(I)为氚灯。
【文档编号】G01J9/00GK104458016SQ201410609400
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年11月4日 优先权日:2014年11月4日
【发明者】尚修鑫 申请人:苏州精创光学仪器有限公司