一种新型特大型齿轮在位测量方法
【专利摘要】本发明涉及几何量测量领域，特别涉及一种新型特大型齿轮在位测量方法；首先经过对齿轮齿顶圆柱面进行测量，对测量点进行圆柱拟合，以获得轴线方程；将此轴线方程作为特大型齿轮的Z轴坐标；测量齿轮端面，对端面测量点拟合平面，将测量得到的拟合平面与拟合圆柱轴线的交点，作为特大型齿轮工件坐标系的坐标原点；根据点线面关系，构建特大型齿轮工件坐标系；采用分段测量和转位测量的方式；分段依次测量特大型齿轮每个齿，即实现特大型齿轮局部齿面的自动测量；本发明设备及方法具有结构简单，测量效率和精度高等优点；采用齿面点云匹配与拼接技术延伸小型坐标测量机的测量范围，实现了以小型水平悬臂式坐标测量机测量特大型齿轮。
【专利说明】一种新型特大型齿轮在位测量方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及几何量测量领域，特别涉及一种新型特大型齿轮在位测量方法。
【背景技术】
[0002]齿轮是机械传动中最重要的、也是应用最广泛的一种传动型式，具有传动比准确、结构紧凑、传动效率高等优点。齿轮按大小分为微小齿轮、常规齿轮、大齿轮、特大型齿轮。约定俗成，直径大于3000皿的齿轮称为特大型齿轮。特大型齿轮主要用于一些关键的要害领域和影响全局的重要行业，如发电、机车、矿山机械、大型工程机械、大型船舶、钻井平台及火箭发射等，其在国民经济和国防事业中起着十分重要的作用，具有不可替代性。
[0003]齿轮的精度对齿轮的噪声和使用寿命有直接而严重的影响，不同的应用领域对齿轮的精度有不同的要求，特别是在精密传动领域中，其对齿轮的精度有很高要求。为实现重大装备的高性能高效率的传动以及高使用寿命，用户对特大型齿轮的精度提出了越来越高的要求。
[0004]随着齿轮的尺寸以及模数的不断增加并达到超常规的程度，对齿轮精密测量技术手段的要求也发生了从量变到质变的飞跃，造成了特大型齿轮精密测量成为了世界性难题，一直没有实现经济有效的测量。
[0005]造成特大齿轮测量困难的主要因素归结如下:
齿轮尺寸大。如按常规的测量方法，随着齿轮尺寸的增加，测量仪器的结构、体积将相应增大，给仪器制造和装配带来很大困难。
[0006]齿轮的测量基准要求与其设计、制造基准相一致。齿轮的设计基准一般为定位芯轴或内孔，特大型齿轮尺寸较大，用常规测量仪器找定位基准具有一定难度，造成齿轮测量基准和设计、制造基准不统一，使得仪器的测量精度难以保证。
[0007]特大型齿轮测量仪器是在常规齿轮测量仪器的基础上发展而来的，其中齿轮测量中心与大型坐标测量机是常规齿轮测量中心与坐标测量机的放大版本，即测量多大的齿轮就制造相应大小的测量仪器，才测量方法上属于“以大测大”。目前，世界上最大的齿轮测量中心是德国1611261公司的呢14000齿轮测量中心，该仪器可测量4000臟大齿轮，最大承载重量可达300001?。世界上最大的坐标测量机是德国[611:2公司开发的？丽-6大型三坐标量机，测量范围为 700011111^ 400011111^5-100臟。
[0008]但是目前的特大型齿轮的测量装置体积庞大，而且造价高昂，而且目前特大型齿轮测量仪器采用“以大测大”的测量方法已经不能有效解决特大型齿轮的精密测量，需要提出新的测试装置和方法实现特大型齿轮的精密测量。
【发明内容】
[0009]本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种新型特大型齿轮在位测量装置及方法；克服现有的特大型齿轮测量仪器需要开发长导轨，而且无法测量直径超过60的特大型齿轮的缺点，提出一种基于点云匹配方法的特大型齿轮测装置及测量方法。
[0010]为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案:
一种新型特大型齿轮在位测量装置，包括底座、水平移动滑块基座、立柱、2向滑板以及I向滑板；其中所述立柱竖直固定安装在所述水平移动滑块基座上，所述水平移动滑块基座可以在底座上水平移动，所述立柱上安装有可以上下滑动的2向滑板，所述2向滑板上还安装有可以前后移动的X向滑板；所述X向滑板安装有测头装置。
[0011]进一步的，I向滑板包括4向测量臂、V向测量滑块以及配重装置；其中V向测量臂的上下方分别具有导轨，所述V向测量滑块可以延上导轨前后移动；所述配重装置可以延下导轨前后移动。
[0012]进一步的，I向测量滑块的前端安装有测头装置。
[0013]进一步的，所述测头装置为触发式或者为扫描式。
[0014]进一步的，所述配置装置为配重块。
[0015]进一步的，所述V向测量滑块和配重装置分别位于所述V向测量臂的两侧。
[0016]进一步的，所述V向测量滑块和配重装置分别安装在所述V向测量臂的上下支撑面上；可以延对应的导轨前后移动。
[0017]进一步的，所述V向测量滑块和配重装置沿导轨的运动方向相反，这样的运动方式可以保证在V向测量滑块的前后移动过程中，测量装置的重力平衡，减少装置的倾斜量，进而减少测量误差。
[0018]现有的在位测量装置的V向滑板，在测量时可以在2向滑板的基础上前后移动，当测量小型齿轮时，由于V向滑板前后的移动量也相应比较小，所以不用考虑V向滑板前后的移动过程中的重心变化，以及由此重心变化所带来的V向滑板测量臂倾斜所引起的测量误差，但是当对测量的精度要求较高时，测量臂的倾斜所引起的误差却是不可忽视的，而当测量特大型齿轮时，相应的V向滑板测量臂前后的移动量也相应变得很大3向滑板测量臂的最远测量位置和最近测量位置之间的移位量增加，由此过程中的测量臂的重心也会发生变化，引起V向滑板测量臂倾斜，进而引起的测量误差会变得不可忽略，当测量特大型齿轮时，累积误差更显著，所以为了保证特大型齿轮的测量准确性，本新型特大型齿轮在位测量装置的测量臂采用了重力平衡设计，将V向测量滑块和配重装置分别设于所述V向测量臂的两侧4向测量滑块和配重装置沿导轨的运动方向相反，以保证测量过程中的重心平衡，减小了由于重心偏移所导致的测量臂倾斜所引起的测量误差，以及由此形成的累积误差，保证了测量的平稳准确进行。
[0019]基于本新型特大型齿轮在位测量装置的一种本新型特大型齿轮在位测量方法，包括以下步骤:
(1)将本新型特大型齿轮在位测量装置移动至被测齿轮旁，将其调整至适合测量的位置。
[0020](2)手动测量被测齿顶圆柱面，对测量点拟合圆柱，以获得轴线方程；将此轴线方程作为2轴坐标；实现了被测齿轮轴线的定位；本步骤中选取齿顶圆柱面为测量基准面；是由于特大型齿轮的加工工艺等原因，实际的加工基准为齿顶圆柱面。
[0021]测量齿轮端面，通过对端面测量点的所测数据拟合平面，将所得到的拟合平面与上述拟合圆柱轴线的交点作为测量工件坐标系的坐标原点； 测量齿面的一点，通过这一点结合上述轴线和拟合平面；根据此点线面关系，构建被测齿轮工件坐标系；这样实现了被测齿轮与测量装置之间的定位。
[0022](3)根据所构建的被测齿轮工件坐标系，分段依次测量被测齿轮的每个齿，即可实现被测齿轮局部齿面的测量。(所谓分段测量，即指被测齿轮整体被分成若干测量段来进行测量，当被测齿轮尺寸很大时，每一段中的每个被测齿也可以被分段测量
[0023](4)采用转位测量的方式，当前一段的测量结束以后，将测量装置移动到新的测量位置，重复以上步骤，直到完成所有齿面的测量。
[0024]本新型特大型齿轮在位测量装置一次仅可实现被测特大型齿轮的部分区域测量；一个测量位置仅能采集有限个齿面数据；为拓展本新型特大型齿轮在位测量装置的测量范围，实现全部轮齿的各项误差测量，本发明采用转位测量的方式:移动位测量装置(或者转动齿轮),分段测量被测齿轮；这样可以用较小型的在位测量装置来实现直径超过60的特大型齿轮的测量。
[0025]进一步的，所述步骤(4)中每两个相邻测量位置的测量数据，具有公共齿面测量点；以便实现数据的匹配和拼接；在相邻两次测量中必须具有公共的测量部分，例如第一次测量位置实现第1、第2、第3号齿的测量，第二次测量位置实现第3、第4、第5号齿的测量，此时3号齿就是这两次测量的公共部分，依此类推，直至完成特大型齿轮所有齿的测量；当对每一个齿也进行分段测量时，就需要在被测齿的相邻的测量位置间，选取公共测量部分；依次测量，直到完成所有齿的相应测量。
[0026]进一步的，每两个相邻测量位置的测量数据，通过公共齿面测量点，进行点云匹配与数据拼接计算；将不同测量位置的测量数据统一至唯一一个测量位置下的齿轮工件坐标系中。将后一测量位置的齿面数据与前一位置的齿面数据进行拼接和统一，以便对齿面数据进行整体处理与评定。
[0027]两个测量位置对同一齿面进行测量，通过两个测量位置下同一齿面的点云数据匹配方法进行齿面数据的匹配；具体的，通过点云数据匹配算法找到两个测量位置坐标系之间的关系，将被测齿轮工件坐标系统一至同一个测量位置下，然后在此统一的坐标系统下，对所有齿面测量数据进行数据处理与误差评定，最终实现特大型齿轮全范围测量与统一评定。
[0028]作为一种优选，将被测齿轮工件坐标系统一至第一测量位置下；这样统一坐标系的算法比较简单，容易实现，也符合数据处理的一般习惯。
[0029]进一步的，为了更好的实现数据的统一处理和误差评定，可以将对上述统一到同一测量位置的被测齿轮工件坐标系的所有测量数据进行重构；重新建立被测齿轮新工件坐标系，(优选的，将新工件坐标系的坐标原点建立到被测齿轮底部齿轮端面的中心点，将X轴或X轴建立在被测齿轮的齿后中部或齿槽中部)并对所有齿面测量数据进行统一的误差评定。
[0030]进一步的，对于齿宽超过测量装置测量范围的特大型齿轮，齿面测量可以分段测量，采用齿面点云匹配算法实现各段数据的匹配与拼接，最终实现全齿宽齿面各项误差的测量。
[0031]与现有技术相比，本发明的有益效果:本发明提供一种新型特大型齿轮在位测量装置及测量方法；首先经过对轮齿顶圆柱面进行测量，测量点拟合圆柱，以获得轴线方程；将此轴线方程作为特大型齿轮的2轴坐标，实现特大型齿轮轴线的定位；测量齿轮端面，对端面测量点拟合平面，将测量得到的拟合平面与拟合圆柱轴线的交点，作为特大型齿轮工件坐标系的坐标原点；根据此点线面关系，构建特大型齿轮工件坐标系，实现特大型齿轮与测量装置之间的定位；解决在位测量技术的关键问题。
[0032]本发明方法采用分段测量和转位测量的方式；分段依次测量特大型齿轮每个齿，即现特大型齿轮局部齿面的自动测量；通过两个测量位置对同一齿面进行测量，通过两个测量位置下同一齿面点的云数据进行齿面匹配；找到两个测量位置坐标系之间的关系，将特大型齿轮工件坐标系统一至第一测量位置下；并最终实现特大型齿轮全范围测量与统一评定。总之本发明方法克服了现有成熟齿轮测量仪器需要构建大型导轨、大型结构才可实现的特大型齿轮测量的弊端；采用齿面点云匹配与拼接技术延伸小型坐标测量机的测量范围，实现了以小型水平悬臂式坐标测量机测量特大型齿轮。具有测量精度高，使用的设备结构简单，测量成本低等优势；适用于各种特大型齿轮的误差测量中。
[0033]【专利附图】
【附图说明】:
图1为本新型特大型齿轮在位测量装置结构示意图。
[0034]图2为本新型特大型齿轮在位测量装置的V向滑板结构示意图。
[0035]图3为本新型特大型齿轮在位测量装置的测试位置示意图。
[0036]图4为本新型特大型齿轮在位测量方法示意图。
[0037]图5为直齿轮相邻测量位置的数据匹配示意图。
[0038]图6为斜齿轮相邻测量位置的数据匹配示意图。
【具体实施方式】
[0039]下面结合试验例及【具体实施方式】对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本
【发明内容】
所实现的技术均属于本发明的范围。
[0040]本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种新型特大型齿轮在位测量装置及方法；克服现有的特大型齿轮测量仪器需要开发长导轨，而且无法测量直径超过60的特大型齿轮的缺点，提出一种基于点云匹配方法的特大型齿轮测装置及测量方法。
[0041]为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案:
一种新型特大型齿轮在位测量装置，如图1、图2、图3所示(图1和图3为本新型特大型齿轮在位测量装置的两种结构示意),包括底座1、水平移动滑块基座2、立柱3、2向滑板4以及V向滑板5 ；其中所述立柱3竖直固定安装在所述水平移动滑块基座上2，所述水平移动滑块基座2可以在底座1上水平移动，所述立柱3上安装有可以上下滑动的2向滑板4，所述2向滑板4上还安装有可以前后移动的V向滑板5 ；所述X向滑板5安装有测头装置6。
[0042]进一步的，如图2所示，V向滑板5包括X向测量臂5-13向测量滑块5-2以及配重装置5-3 ；其中X向测量臂5-1的上下端面分别具有上导轨和下导轨，所述V向测量滑块5-2可以延上导轨前后移动；所述配重装置5-3可以延下导轨前后移动。
[0043]进一步的，I向测量滑块的前端安装有测头装置6。
[0044]进一步的，所述测头装置6可以为触发式，也可以为扫描式。
[0045]进一步的，所述配置装置5-3为配重块。
[0046]进一步的，所述X向测量滑块5-2和配重装置5-3分别安装在所述X向测量臂5-1的上下端面；可以延对应的导轨前后移动。
[0047]进一步的，所述V向测量滑块和配重装置分别位于所述V向测量臂的两侧。
[0048]进一步的，如图2所示，所述V向测量滑块和配重装置沿导轨的运动方向相反，具体的，当丫向测量滑块向前移动时，所述配重装置向后移动。这样的运动方式可以保证，在V向测量滑块的前后移动过程中，整个测量装置的重力平衡，减少装置的倾斜量，减少测量误差。
[0049]现有的在位测量装置的V向滑板，在测量时可以在2向滑板的基础上前后移动，当测量小型齿轮时，由于V向滑板前后的移动量也相应比较小，所以不用考虑V向滑板前后的移动过程中的重心变化，以及由此重心变化所带来的V向滑板测量臂倾斜所引起的测量误差，但是当对测量的精度要求较高时，测量臂的倾斜所引起的误差却是不可忽视的，而当测量特大型齿轮时，相应的V向滑板测量臂前后的移动量也相应变得很大3向滑板测量臂的最远测量位置和最近测量位置之间的移位量增加，由此过程中的测量臂的重心也会发生变化，引起V向滑板测量臂倾斜，进而引起的测量误差会变得不可忽略，当测量特大型齿轮时，累积误差更显著，所以为了保证特大型齿轮的测量准确性，本新型特大型齿轮在位测量装置的测量臂采用了重力平衡设计，将V向测量滑块和配重装置分别设于所述V向测量臂的两侧4向测量滑块和配重装置沿导轨的运动方向相反，以保证测量过程中的重心平衡，减小了由于重心偏移所导致的测量臂倾斜所引起的测量误差，以及由此形成的累积误差，保证了测量的平稳准确进行。
[0050]基于本新型特大型齿轮在位测量装置的一种本新型特大型齿轮在位测量方法，包括如图4所示的以下步骤:
(1)将本新型特大型齿轮在位测量装置移动至被测齿轮旁，将其调整至适合测量的位置(如图3所示
[0051](2)手动测量被测齿顶圆柱面，对测量点拟合圆柱，以获得轴线方程；将此轴线方程作为2轴坐标；实现了被测齿轮轴线的定位；本步骤中选取齿顶圆柱面为测量基准面；是由于特大型齿轮的加工工艺等原因，实际的加工基准为齿顶圆柱面。
[0052]测量齿轮端面，通过对端面测量点的所测数据拟合平面，将所得到的拟合平面与上述拟合圆柱轴线的交点作为测量工件坐标系的坐标原点；
测量齿面的一点，通过这一点结合上述轴线和拟合平面；根据此点线面关系，构建被测齿轮工件坐标系；这样实现了被测齿轮与测量装置之间的定位。
[0053](3)根据所构建的被测齿轮工件坐标系，分段依次测量被测齿轮的每个齿，即可实现被测齿轮局部齿面的测量。(所谓分段测量，即指被测齿轮整体被分成若干测量段来进行测量，当被测齿轮尺寸很大时，每一段中的每个被测齿也可以被分段测量
[0054](4)采用转位测量的方式，当前一段的测量结束以后，将测量装置移动到新的测量位置，重复以上步骤，直到完成所有齿面的测量。
[0055]本新型特大型齿轮在位测量装置一次仅可实现被测特大型齿轮的部分区域测量；一个测量位置仅能采集有限个齿面数据；为拓展本新型特大型齿轮在位测量装置的测量范围，实现全部轮齿的各项误差测量，本发明采用转位测量的方式:移动位测量装置(或者转动齿轮),分段测量被测齿轮；这样可以用较小型的在位测量装置来实现直径超过60的特大型齿轮的测量。
[0056]进一步的，所述步骤(4)中每两个相邻测量位置的测量数据，具有公共齿面测量点；以便实现数据的匹配和拼接；在相邻两次测量中必须具有公共的测量部分，例如第一次测量位置实现第1、第2、第3号齿的测量，第二次测量位置实现第3、第4、第5号齿的测量，此时3号齿就是这两次测量的公共部分，依次类推，直至完成特大型齿轮所有齿的测量；当对每一个齿也进行分段测量时，就需要在被测齿的相邻的测量位置间，选取公共测量部分如图5，图6所示(图5为直齿轮相邻测量位置的数据匹配示意图；图6为斜齿轮相邻测量位置的数据匹配示意图；图中3为位置1的所测量的齿面部分，图中6为位置2的所测量的齿面部分；而处为位置1和位置2所测量的公共部分，应该理解为图中仅为示意性，不代表实际尺寸)；依次测量，直到完成整个齿面的相应测量。
[0057]进一步的，每两个相邻测量位置的测量数据，通过公共齿面测量点，进行点云匹配与数据拼接计算；将不同测量位置的测量数据统一至唯一一个测量位置下的齿轮工件坐标系中。将后一测量位置的齿面数据与前一位置的齿面数据进行拼接和统一，以便对齿面数据进行整体处理与评定。
[0058]两个测量位置对同一齿面进行测量，通过两个测量位置下同一齿面的点云数据匹配方法进行齿面数据的匹配；具体的，通过点云数据匹配算法找到两个测量位置坐标系之间的关系，将被测齿轮工件坐标系统一至同一个测量位置下，然后在此统一的坐标系统下，对所有齿面测量数据进行数据处理与误差评定，最终实现特大型齿轮全范围测量与统一评定。
[0059]作为一种优选，将被测齿轮工件坐标系统一至第一测量位置下；这样统一坐标系的算法比较简单，容易实现，也符合数据处理的一般习惯。
[0060]进一步的，为了更好的实现数据的统一处理和误差评定，可以将对上述统一到同一测量位置的被测齿轮工件坐标系的所有测量数据进行重构；重新建立被测齿轮新工件坐标系，(优选的，将新工件坐标系的坐标原点建立到被测齿轮底部齿轮端面的中心点，将X轴或X轴建立在被测齿轮的齿后中部或齿槽中部)并对所有齿面测量数据进行统一的误差评定。
[0061]进一步的，对于齿宽超过测量装置测量范围的特大型齿轮，齿面测量可以分段测量，采用齿面点云匹配算法实现各段数据的匹配与拼接，最终实现全齿宽齿面各项误差的测量。
[0062]总之，本发明提供一种新型特大型齿轮在位测量装置；本新型特大型齿轮在位测量装置的测量臂采用了重力平衡设计，将V向测量滑块和配重装置分别位于所述立V向测量臂的两侧4向测量滑块和配重装置沿导轨的运动方向相反，以保证测量过程中的重心平衡，减小了由于重心偏移所引起的测量臂倾斜所引起的测量误差，以及由此形成的累积误差，保证了测量的平稳进行。
[0063]总之，本发明提供一种新型特大型齿轮在位测量装置及测量方法；首先经过对轮齿顶圆柱面进行测量，测量点拟合圆柱，以获得轴线方程；将此轴线方程作为特大型齿轮的2轴坐标，实现特大型齿轮轴线的定位；测量齿轮端面，对端面测量点拟合平面，将测量得到的拟合平面与拟合圆柱轴线的交点，作为特大型齿轮工件坐标系的坐标原点；根据此点线面关系，构建特大型齿轮工件坐标系，实现特大型齿轮与测量装置之间的定位；解决在位测量技术的关键问题。
[0064]本发明方法采用分段测量和转位测量的方式；分段依次测量特大型齿轮每个齿，即现特大型齿轮局部齿面的自动测量；通过两个测量位置对同一齿面进行测量，通过两个测量位置下同一齿面点的云数据进行齿面匹配；找到两个测量位置坐标系之间的关系，将特大型齿轮工件坐标系统一至第一测量位置下；并最终实现特大型齿轮全范围测量与统一评定。总之本发明方法克服了现有成熟齿轮测量仪器需要构建大型导轨、大型结构才可实现的特大型齿轮测量的弊端；采用齿面点云匹配与拼接技术延伸小型坐标测量机的测量范围，实现了以小型水平悬臂式坐标测量机测量特大型齿轮。具有测量精度高，使用的设备结构简单，测量成本低等优势；适用于各种特大型齿轮的误差测量中。
[0065]以上实施例仅用以说明本发明而并非限制本发明所描述的技术方案，尽管本说明书参照上述的各个实施例对本发明已进行了详细的说明，但本发明不局限于上述【具体实施方式】，因此任何对本发明进行修改或等同替换；而一切不脱离发明的精神和范围的技术方案及其改进，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
【权利要求】
1.一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，包括以下步骤: (1)将齿轮在位测量装置移动至被测齿轮旁，调整至适合测量齿面的位置； (2)测量齿轮齿顶圆柱面，对测量点拟合圆柱，以获得轴线方程；将此轴线方程作为被测齿轮的Z轴坐标； 测量齿轮端面，对端面测量点拟合平面，将测量得到的拟合平面与拟合圆柱轴线的交点，作为被测齿轮工件坐标系的坐标原点； 测量齿面的一点，通过这一点结合所述轴线和拟合平面；构建特大型齿轮工件坐标系; (3)根据步骤(2)根据所构建的被测齿轮工件坐标系，分段依次测量被测齿轮的每个齿，即可实现被测齿轮局部齿面的测量； (4)采用转位测量的方式，将测量装置移动到新的测量位置，重复以上步骤，直到完成被测齿轮所有齿面的测量。
2.如权利要求1所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(3)中被测齿轮整体被分成I个以上测量段，依次对每一个测量段进行测量，直到完成所有齿面的测量。
3.如权利要求2所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(3)中，将每一个被测齿面分成I个以上的测量段，依次对每一个测量段进行测量，直到完成该齿面的全部测量。
4.如权利要求3所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(4)中，每两个相邻测量位置的测量数据，具有公共齿面测量点；以便实现数据的匹配和拼接。
5.如权利要求4所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(4)中，每两个相邻测量位置的测量数据，通过对公共齿面测量点，使用点云匹配算法进行数据拼接和计算。
6.如权利要求5所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(4)中；将被测齿轮工件坐标系统一至同一个测量位置下。
7.如权利要求6所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(4)中；将被测齿轮工件坐标系统一至第一测量位置下。
8.如权利要求7所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(4)中；对上述统一到同一测量位置的被测齿轮工件坐标系的所有测量数据进行重构；重新建立被测齿轮新工件坐标系。
9.如权利要求6、7或8所述一种新型特大型齿轮在位测量方法，其特征是，所述步骤(4)中；在统一的坐标系统下，对所有齿面测量数据，进行数据处理与误差评定，最终实现被测齿轮的全范围测量与统一的误差评定。
【文档编号】G01B21/00GK104501753SQ201410842885
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月30日 优先权日:2014年12月30日
【发明者】张白, 康学亮, 潘俊涛 申请人:北方民族大学