石英晶体测试插座的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及的是一种石英晶体测试插座，其特征是包括底座1，压盖2，弹性探针3，限位挡块4，卡扣5，其中限位挡块4设在底座1上，压盖2的一端与底座1连接，压盖2的另一端上设有卡扣5，弹性探针3的下端部露出于底座1的底部。本实用新型的优点：1）石英晶体与探针始终保持弹性接触，保证了在温度变化和震动环境中的电气连接可靠性；2）对插座的操作方便，可靠性高；很好的电气连接可靠性，从而优化了石英晶体的测试过程。
【专利说明】石英晶体测试插座
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及的是一种石英晶体测试插座，用于优化石英晶体的测试过程。
【背景技术】
[0002]石英晶体属于高精度电子元件，在石英晶体的测试过程中，测试工装与石英晶体的接触不良会造成测试结果的严重失真。特别是在温频特性测试中，测试工装要在高温和低温环境中与石英晶体保持良好的电气接触，对测试工装提出了更高的要求。传统的温频特性测试工装通常是在基板上设置限位槽，限位槽中有凸起的与石英晶体进行电气连接的金属触点，把晶体分别放入限位槽中，然后压紧弹性压片。这样的安装方式通常会出现以下故障:1)弹性压片为整体结构，有时因为操作不当而造成压力不均匀的情况，导致部分石英晶体与金属触点接触不良；2)弹性压片在长期的使用中难免会造成局部的变形而影响施压效果；4)石英晶体的外形尺寸越来越小，与限位槽以及金属触点的配合也越来越困难，操作中通常会出现石英晶体倾斜在限位槽内的情况，极大的影响了作业效率。以上情况在石英晶体的生产中均有待解决。
【发明内容】
[0003]本实用新型提出的是一种石英晶体测试插座，其目的旨在克服现有技术所存在的上述缺陷，具有良好的电气连接可靠性。
[0004]本实用新型的技术解决方案:石英晶体测试插座，其结构包括底座，压盖，弹性探针，限位挡块，卡扣，其中限位挡块设在底座上，压盖的一端与底座连接，压盖的另一端上设有卡扣，弹性探针的下端部露出于底座的底部。
[0005]本实用新型的优点:1)石英晶体与探针始终保持弹性接触，保证了在温度变化和震动环境中的电气连接可靠性；2)对插座的操作方便，可靠性高。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1为石英晶体测试插座的打开示意图。
[0007]图2为石英晶体测试插座的扣合示意图。
[0008]图中的I是底座，2是压盖，3是弹性探针，4是限位挡块，5是卡扣，6是凸起结构。
【具体实施方式】
[0009]对照附图，石英晶体测试插座，其结构包括底座1，压盖2，弹性探针3，限位挡块4，卡扣5，其中限位挡块4、弹性探针3设在底座I上，压盖2的一端与底座I连接，压盖2的另一端上设有卡扣5，弹性探针3的下端部露出于底座2的底部。
[0010]凸起结构6和底座I的间距离是弹性探针3和石英晶体电极的弹性接触距离。
[0011]凸起结构6是压盖2和石英晶体正对的部位。实施例
[0012]在底座上设有限位挡块和弹性探针，限位挡板精确地确限制石英晶体的位置，弹性探针的位置与石英晶体的电极相对应。压盖的一端与底座进行铰链连接，另一端设有卡扣，当压盖被按下时，卡扣就会和底座扣合在一起。压盖和石英晶体正对的部位设有突出起结构，用于提升对石英晶体的施压平衡度。凸起接结构和底座的距离恰好使弹性探针和石英晶体电极进行弹性接触。
【权利要求】
1.石英晶体测试插座，其特征是包括底座，压盖，弹性探针，限位挡块，卡扣，其中限位挡块设在底座上，压盖的一端与底座连接，压盖的另一端上设有卡扣，弹性探针的下端部露出于底座的底部。
2.根据权利要求1所述的石英晶体测试插座，其特征是所述弹性探针和石英晶体电极的弹性接触距离是凸起结构和底座的间距离。
3.根据权利要求2所述的石英晶体测试插座，其特征是所述凸起结构是压盖和石英晶体正对的部位。
【文档编号】G01R1/04GK204065152SQ201420435698
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年8月4日 优先权日:2014年8月4日
【发明者】王后峰, 金鑫 申请人:南京中电熊猫晶体科技有限公司