技术总结
本发明涉及一种结构几何要素检验方法，特别涉及一种表面复杂结构的位置度与几何尺寸的检验方法。所述的方法，通过将待检测的平面结构，按1:1的比例绘制在透明胶片上，然后将透明胶片覆盖在待检测表面上，判断所检测的结构是否满足设计要求。本发明通过将设计图样绘制在透明胶片上，将绘制有图样的透明胶片作为检验标准样件，直接覆盖在待检测的表面，对表面结构的几何要素进行检测，操作简便，快速直观的获得了检测结果。
技术研发人员：卢成英
受保护的技术使用者：中国航空工业第六一八研究所
文档号码：201510900477
技术研发日：2015.12.08
技术公布日：2017.06.16