技术总结
本发明涉及利用解调光纤的光学特性测量系统，其特征在于，包括：光源部，用于射出特定波长的输入光；感测部，通过根据外部环境条件使光特性受到影响的传感器来产生上述信号光；以及测量部，通过由上述感测部传输的信号光来导出变化的物理量，上述测量部包括：光耦合器，用于向两个光路分配上述信号光；以及解调光纤，设置于使上述信号光移动的一侧光路，上述解调光纤在特定波长范围内呈现线性的光吸收特性，通过上述信号光的光强度检测来检测从上述感测部传输的信号光的波长，由此最终导出从外出施加的物理量。
技术研发人员：金福炫;金坰沅;姜埙秀
受保护的技术使用者：光州科学技术院
文档号码：201580034103
技术研发日：2015.06.23
技术公布日：2017.02.15