技术特征：
技术总结
根据一个方面，本发明涉及用于通过透射以光学检测在流体样品中运动的纳米粒子的设备(100)，包括：光源(10)，用于发射用于照射样品的空间非相干光束；包括显微镜物镜(31)的成像光学系统(30)；二维光学检测器(40)，其包括通过成像光学系统(30)与显微镜物镜的物焦平面共轭的检测平面(41)，并且允许获取样品的分析体积的一系列图像，每个图像通过入射到样品上的照射光束和在不到1毫秒的预设时间段内由分析体积中存在的每个纳米粒子散射的光束之间的光学干涉产生；图像处理装置(50)，图像处理装置(50)允许取得一系列所述图像的平均值，并且从每个图像中减去该平均值，从而针对分析体积中的每个纳米粒子确定散射光束的振幅。
技术研发人员：A·C·博卡拉;M·博卡拉
受保护的技术使用者：巴黎城市物理化工高等学院
技术研发日：2015.09.29
技术公布日：2017.08.01