1.高频变压器共模噪声测试方法，其特征是将变压器单独拆分出来，通过共模噪声测试电路来判断高频变压器的共模噪声的大小，该测试电路由NEC555主要电路和外部电路组成的方波发生器，以及变压器和对该变压器信号的驱动及检测电路组成。
2.根据权利要求1所述的高频变压器共模噪声测试方法，其特征在于所述的NEC555主要电路由NEC555芯片构成；所述555的外部电路由电容C1、C2，电阻RL、R1，以及两个分压电阻构成，其中：两个分压电阻的阻值应根据驱动方波占空比为48-52％的大小来取值，C1为外接电容，C2为给芯片做供电滤波的电容，RL为驱动的输出OUT的上拉电阻，为高电平提供能量源，R1是驱动端的电阻。
3.根据权利要求2所述的高频变压器共模噪声测试方法，其特征在于所述的电阻R1的阻值为471欧姆，使驱动的波形不至于太陡，降低驱动的速度，以免导致尖峰电压。
4.根据权利要求1所述的高频变压器共模噪声测试方法，其特征在于所述的变压器是反激式变压器，由第一初级绕组(1-2)、第二初级绕组(3-4)和次级绕组(5-6)构成。
5.根据权利要求1所述的高频变压器共模噪声测试方法，其特征在于所述的对该变压器信号的驱动电路，由NEC555芯片及外围电路构成，其中：NEC555的外部电路，输入端由分压电阻Ra、Rb和电容C1、C2构成，输出端由上拉电阻RL和驱动端的电阻R1构成。
6.根据权利要求1所述的高频变压器共模噪声测试方法，其特征在于所述的对该变压器信号的检测电路，由示波器对变压器绕组独特的检测方式构成，其中：第二初级绕组(3-4)和次级绕组(5-6)的地之间连接有电阻Rsense，并在该电阻两端连接示波器进行电压信号的测量。
7.根据权利要求1至6中任一所述方法的用途，其特征是该方法用于高频变压器共模噪声干扰测试。
8.根据权利要求7所述方法的用途，其特征是测试时，采用NEC555芯片来产生电压 12V，频率100K，占空比50％的方波信号，来驱动变压器的电压绕组的电压变化点，用示波器来观测Rsense电阻两端的电压波形，以此得出变压器共模噪声的大小。
9.根据权利要求8所述方法的用途，其特征是测试包括以下步骤：
1)采用NEC555芯片来产生电压12V，频率100K，占空比为48-52％的方波信号，来驱动变压器的第一初级绕组(1-2)的电压变化点2端；
2)方波信号通过电阻R1来驱动变压器的第一初级绕组(1-2)的电压变化点2端；
3)第一初级绕组(1-2)和第二初级绕组(3-4)的电压不变点都接地，第二初级绕组(3-4)的电压变化点3端悬空；
4)次级绕组(5-6)的电压变化点5悬空，该电压不变点6端通过一个阻值为100K的电阻Rsense接到第二初级绕组(3-4)的电压不变点4端的GND；
5)用示波器来观测Rsense电阻两端的电压波形，以此得出变压器共模噪声的大小。
10.根据权利要求9所述方法的用途，其特征是用两个10W手机充电器电源的变压器来测试其共模噪声大小，二者变压器的绕组结构不同，分别为1#变压器和2#变压器，其中：
1#变压器绕组结构是：第一步，绕屏蔽绕组，从地绕到顶端悬空；第二步，绕第一初级绕组(1-2)，线径0.16*70圈，绕三层；第三步，绕第二初级绕组(3-4)，线径0.16*23圈，绕一层；第四步，绕制次级绕组(5-6)，线径0.6*6圈，绕一层；
由于在第一步增加了屏蔽绕组，其共模噪声测试改善很多，2#变压器的绕组结构是：第一步，绕第一初级绕组(1-2)，线径0.16*70圈，绕三层；第二步，绕第二初级绕组(3-4)，线径0.16*23圈，绕一层；第三步，绕制次级绕组(5-6)，线径0.6*6圈，绕一层；由于没有任何屏蔽绕组，其共模噪声测试偏大；
将这两个变压器分别装在电源中，其中电源装1#变压器时共模噪声小，电源装2#变压器时共模噪声大，由此证明该方法对手机触控产生的影响。