包括浮桥的用于电容式测量的集成电路的制作方法

文档序号:11858481阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种电容式测量设备,包括:

-第一电子系统(1),被电参考至保护电位(4),并且能够连接到电容性电极(11),

-第二电子系统(2),被电参考至接地电位(5),并通过连接装置(6)而连接到所述第一电子系统(1),以及

-激励装置(3、7),分别连接到所述保护(4)和接地(5)电位,从而在这些电位(4、5)之间施加AC电压差,

其特征在于其此外包括以接地为参考的集成电路(20),所述集成电路(20)包括:

-第一安装区域(38),以保护电位(4)为参考,并且在其中实现了所述第一电子系统(1),以及

-第二安装区域(39),以接地电位(5)为参考,并且在其中实现了所述第二电子系统(2)。

当前第2页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1