测距方法及装置、测量电路与流程

文档序号:12467493阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种测距方法,其特征在于,包括:

生成第一信号和第二信号;

将所生成的所述第一信号和所述第二信号发射;

接收经目标物反射后的所述第一信号和所述第二信号;

根据所述反射后的所述第一信号获得第一相位;

根据所述反射后的所述第二信号获得第二相位;

根据所述第一相位和所述第二相位获得第三相位;

根据所述第三相位获得所述目标物的距离。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,生成所述第一信号和所述第二信号的步骤,包括:

生成第一正弦信号和第一余弦信号,并根据生成的所述第一正弦信号和生成的所述第一余弦信号获得所述第一信号;

生成第二正弦信号和第二余弦信号,并根据生成的所述第二正弦信号和生成的所述第二余弦信号获得所述第二信号,其中,所述第一信号和所述第二信号的相位差满足预设关系。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据生成的所述第一正弦信号和生成的所述第一余弦信号获得所述第一信号的步骤包括:

生成第一高频正弦信号和第一低频正弦信号;

根据所述第一高频正弦信号生成第一高频余弦信号;

根据所述第一低频正弦信号生成第一低频余弦信号;

将所述第一高频正弦信号和所述第一低频正弦信号混频得到所述第一正弦信号;

将所述第一低频余弦信号和所述第一高频余弦信号混频得到所述第一余弦信号;

将所述第一正弦信号和所述第一余弦信号相加得到所述第一信号。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,根据生成的所述第二正弦信号和生成的所述第二余弦信号获得所述第二信号的步骤包括:

生成第二低频正弦信号;

根据所述第二低频正弦信号生成第二低频余弦信号;

将所述第二低频正弦信号和所述第一高频正弦信号混频得到所述第二正弦信号;

将所述第二低频余弦信号和所述第一高频余弦信号混频得到所述第二余弦信号;

将所述第二余弦信号和所述第二正弦信号相加得到所述第二信号。

5.一种测距装置,其特征在于,包括:

生成单元,用于生成第一信号和第二信号;

传输单元,用于将所生成的所述第一信号和所述第二信号发射;

接收单元,用于接收经目标物反射后的所第一信号和第二信号;

处理单元,用于根据所述反射后的所述第一信号获得第一相位;根据所述反射后的所述第二信号获得第二相位;根据所述第一相位和所述第二相位获得第三相位;根据所述第三相位获得所述目标物的距离。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述生成单元包括:

第一生成子单元,生成第一正弦信号和第一余弦信号,并根据生成的所述第一正弦信号和生成的所述第一余弦信号获得所述第一信号;

第二生成子单元,生成第二正弦信号和第二余弦信号,并根据生成的所述第二正弦信号和生成的所述第二余弦信号获得所述第二信号,其中,所述第一信号和所述第二信号的相位差满足预设关系。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,第一生成子单元具体用于:

生成第一高频正弦信号和第一低频正弦信号;根据所述第一高频正弦信号生成第一高频余弦信号;根据所述第一低频正弦信号生成第一低频余弦信号;

将所述第一高频正弦信号和所述第一低频正弦信号混频得到所述第一正弦信号;将所述第一低频余弦信号和所述第一高频余弦信号混频得到所述第一余弦信号;将所述第一正弦信号和所述第一余弦信号相加得到所述第一信号。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,第二生成子单元用于:

生成第二低频正弦信号;根据所述第二低频正弦信号生成第二低频余弦信号;

将所述第二低频正弦信号和所述第一高频正弦信号混频得到所述第二正弦信号;将所述第二低频余弦信号和所述第一高频余弦信号混频得到所述第二余弦信号;将所述第二余弦信号和所述第二正弦信号相加得到所述第二信号。

9.一种测量电路,其特征在于,包括:控制装置、信号发射装置、信号接收装置;其中:

所述控制装置用于生成第一信号和第二信号;将所生成的所述第一信号和所述第二信号传输到信号发射装置;通过信号接收装置接收经目标物反射后的所述第一信号和所述第二信号;根据所述反射后的所述第一信号获得第一相位;根据所述反射后的所述第二信号获得第二相位;根据所述第一相位和所述第二相位获得第三相位;根据所述第三相位获得所述目标物的距离;

所述信号发射装置用于将所述控制装置生成的所述第一信号和所述第二信号发射;

所述信号接收装置用于接收并解析经目标物反射后的所述第一信号和所述第二信号后将所述第一信号和所述第二信号传输到所述控制装置。

10.根据权利要求9所述的测量电路,其特征在于,所述信号接收装置包括用于解析所述第一信号和所述第二信号的信号解析装置,所述信号解析装置为多通道解析矩阵。

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