技术总结
本发明涉及一种测量继电器触点超低阻抗的测试电路，属于电子技术领域，所述的基于R5F212A7单片机测量系统包括被测电阻、精密恒流源、放大模块、信号处理模块、A/D转换模块、MCU控制模块、显示模块；所述的精密恒流源与被测电阻相连，被测电阻连接点M、被测电阻连接点N同时与放大模块相连，放大模块与具有信号处理功能的信号处理模块相连，信号处理模块与A/D转换模块相连，A/D转换模块与MCU控制模块相连，MCU控制模块与显示模块相连，本发明通过采用微处理器R5F212A7的智能化微电阻测量系统，实现了对一些高导电材料电阻率的测量，避免了必须在实验室测量受到的地域限制，同时又避免了购买昂贵的微电阻测量仪，既节约了时间和人力又降低了成本。
技术研发人员：徐月文
受保护的技术使用者：青岛时创智能技术有限公司
文档号码：201610831876
技术研发日：2016.09.20
技术公布日：2017.05.10