1.一种食品检测专用实验操作台，包括机壳、控制电路及光路系统，机壳内安装控制电路及光路系统，其特征在于，在机壳内的光路系统采用卤素灯作为光源，并将该光源分成检测光路和监测光路，检测光路分为若干检测分光路，监测光路就一路，检测分光路通向检验样品并根据检测样品的出射光强度，经过光路聚光后照在A/D检测电路板的光电池上，检测光路包括芯片U1、电阻R1、电容C1、双向可控硅VS和传感器PIR，所述芯片U1引脚1分别连接电阻R12和电容C8、电容C10和电容C11，芯片U1引脚3分别连接电阻R12另一端、电阻R13和电容C10，电阻R13另一端连接电容C9，电容C9另一端连接电源VCC，所述芯片U1引脚13连接电容C8另一端，芯片U1引脚14分别连接电阻R15、电阻R14和电容C12，电阻R14另一端连接电容C11另一端，所述电容C12另一端分别连接电阻R15另一端和芯片U1引脚16，芯片U1引脚5接地，芯片U1引脚10连接电阻R7，电阻R7另一端分别连接电阻R7，电阻R7另一端分别连接二极管D1正极、电阻R9和双向可控硅VS的G极，电阻R9另一端分别连接电容C4和电阻R10，电阻R10另一端分别连接电容C4另一端、负载RL、电阻R5和220V交流电一端，负载RL另一端连接双向可控硅VS的T1极，双向可控硅VS的T2极连接电阻R8，电阻R8另一端分别连接220V交流电另一端、二极管D1负极、电容C3、电阻R3和芯片U1引脚15，电容C3另一端连接二极管D2正极并接地，所述芯片U1引脚12分别连接接地电阻R4和电阻R5另一端，所述电阻R3另一端分别连接电阻R2和电阻R6，电阻R6另一端分别连接接地电容C5和芯片U1引脚6，所述电阻R2另一端分别连接接地电容C2和芯片U1引脚8，芯片U1引脚9分别连接接地电容C1和接地光敏电阻R1芯片U1引脚4分别连接接地电容C1和传感器PIR引脚1，芯片U1引脚2分别连接电容C7、电阻R11和传感器PIR引脚2，传感器PIR引脚3分别连接电阻R11另一端和电容C7另一端。
2.根据权利要求1所述的一种食品检测专用实验操作台，其特征在于，所述芯片U1型号为DSP5402。
3.根据权利要求1所述的一种食品检测专用实验操作台，其特征在于，所述光路系统的结构是：卤素灯光源发出的发射光经过光线束的总光纤头进入石英的光纤束，其中光纤束包括检测分光束及监测光束，检测分光束所发射的每一路入射光通过样品检测集成板，样品检测集成板上的样品吸收入射光的一定强度而发出出射光，该出射光经过光路聚光后照在A/D检测电路板的光电池上。