技术总结
监视厚度均匀性。本文描述了用于监视厚度均匀性的设备、方法和系统。一种系统包括发射器，其被配置成在材料正在移动时发射信号通过材料的一部分，衰减器，其被配置成吸收发射信号的第一部分，反射器，其被配置成反射发射信号的第二部分，接收器，其被配置成接收反射信号，以及计算设备，其被配置成基于信号的发射和反射信号的接收之间的时间延迟来确定该部分材料的厚度。
技术研发人员：A·佩查尔斯基;F·努塞贝
受保护的技术使用者：霍尼韦尔国际公司
文档号码：201611144367
技术研发日：2016.10.01
技术公布日：2017.05.31