一种用于低本底总α、β测量的同向反符合系统的制作方法

技术特征：

1.一种用于低本底总α、β测量的同向反符合系统，其特征在于：包括塑料闪烁体(1)、不锈钢外壳(2)、反符合探测器安装固定结构(3)、样品抽屉结构(4)、反符合探测器螺孔固定结构(5)、三层固定结构(6)、样品层抽屉(7)、主探测器固定结构(8)、反符合探测器过孔结构(9)、主探测器(10)、反符合探测器(11)及外层屏蔽铅室(12)；其中塑料闪烁体(1)外侧包有不锈钢外壳(2)，塑料闪烁体(1)上开有反符合探测器螺孔固定结构(5)，所述不锈钢外壳(2)相应位置预留开口，所述塑料闪烁体(1)上表面设有反符合探测器安装固定结构(3)；所述三层固定结构(6)上表面开有主探测器固定结构(8)、反符合探测器过孔结构(9)，所述三层固定结构(6)下面设有样品层抽屉(7)；所述三层固定结构(6)设于塑料闪烁体(1)上端；所述反符合探测器(11)固定于反符合探测器螺孔固定结构(5)内，主探测器(10)固定于主探测器固定结构(8)；所述反符合探测器(11)外层设有外层屏蔽铅室(12)。

2.如权利要求1所述的一种用于低本底总α、β测量的同向反符合系统，其特征在于：所述所述塑料闪烁体(1)和三层固定结构(6)之间品层抽屉(7)对应位置设有样品抽屉结构(4)。