一种基于自动控制计算机与接口技术的天线测量方法与流程

文档序号:14784763发布日期:2018-06-27 22:02阅读:129来源:国知局

本发明涉及一种基于自动控制计算机与接口技术的天线测量方法,属于计算机软硬件设计技术领域。



背景技术:

天线平面近场测量系统的建立,解决了大口径天线的测量,能够较好的完成低交叉极化天线的测量,由于近场测量采用探头运动,被测天线不动的方式,因此,对完成卫星天线的系统测试非常有利;从长远看,空间技术迅猛发展,星载天线越来越复杂,为了适应高精度卫星天线的测试要求,建立近场测量系统势在必行。天线测量是天线研究、制造过程中一项重要而又繁杂的工作,天线测量技术直接关系到工作量的大小和效率,所以拥有先进且方便的天线测量系统是很必要的。在各种现代测量手段中,计算机扮演着非常重要的角色;计算机以其优越的显示、打印输出及数据处理等功能,与原有的测量系统相结合,可以大大提高测量的效率、精度和灵活性;计算机在测量过程中的作用主要包括:控制测量过程、采集所需信号、对信号进行各种数学逻辑运算,做出判断和估值、以各种方式输出测量结果及测量数据管理等;计算机辅助测量的突出优越性在于用软件提高测量的准确性、可靠性、经济性,投资小,见效大,性能价格比好;而且由于软件的柔性,可以在不改变硬件的情况下,通过软件来实现不同的测量功能,用于不同的测量对象,使测量系统具有通用性;根据现有电波暗室的特点,在天线平面近场自动测量系统中,扫描架控制与数据采集由两台计算机分别实现,为了提高测量系统自动化程度,提高工作人员测试天线的效率,将原有二台计算机完成的工作结合起来,用一台计算机实现控制和采集,测量效率将大大提高。



技术实现要素:

为解决上述问题,本发明提出了一种基于自动控制计算机与接口技术的天线测量方法,分析测量天线时对测量仪器的操作流程和相关设置,根据实际情况将常用的操作键桌面化,提高了测量天线效率;分析了控制步进电机进行天线测试的流程,完成了Win2000/XP下使用ISA接口卡的驱动程序设计;系统集成部分,提出线程间的数据保护机制,并初步给出系统集成的方案。

本发明的基于自动控制计算机与接口技术的天线测量方法,所述方法包括以下步骤:

第一步,通过编程软件编程完成对天线测试装置的初始化,并从矢量网络分析仪上采集数据;

第二步,分析X/Y二维扫描架的控制原理,画出ISA接口板的原理图;

第三步,给出控制步进电机运动的程序流程及关键参数,分析并画出控制扫描架运动测量天线整个流程;

第四步,在WinXP下开发ISA接口卡驱动;

第五步,研究数据采集系统和控制系统的集成,并提出实施方案。

进一步地,所述第一步中的编程软件包括LabWindows编程软件和CVI编程软件。

本发明与现有技术相比较,本发明的基于自动控制计算机与接口技术的天线测量方法,数据采集部分,分析测量天线时对测量仪器的操作流程和相关设置,根据实际情况将常用的操作键桌面化,方便了测试人员,并提高了测量天线效率;控制扫描架部分,分析了控制步进电机进行天线测试的流程,完成了Win2000/XP下使用ISA接口卡的驱动程序设计,满足系统升级的需要,并为系统集成奠定基础;系统集成部分,提出线程间的数据保护机制,并初步给出系统集成的方案,这样在多线程工作模式下就能有效且准确的进行天线测试。

具体实施方式

本发明的基于自动控制计算机与接口技术的天线测量方法,所述方法包括以下步骤:

第一步,通过编程软件编程完成对天线测试装置的初始化,并从矢量网络分析仪上采集数据;

第二步,分析X/Y二维扫描架的控制原理,画出ISA接口板的原理图;

第三步,给出控制步进电机运动的程序流程及关键参数,分析并画出控制扫描架运动测量天线整个流程;

第四步,在WinXP下开发ISA接口卡驱动;

第五步,研究数据采集系统和控制系统的集成,并提出实施方案。

其中,所述第一步中的编程软件包括LabWindows编程软件和CVI编程软件。

本发明的基于自动控制计算机与接口技术的天线测量方法,以电波暗室为研究背景,研究如何将两台计算机完成的测量任务用一台计算机完成;程序设计使用行业软件LabWindows/CVF编写程序,可移植性强;

数据采集部分,分析测量天线时对测量仪器的操作流程和相关设置,设计程序时,根据实际情况将常用的操作键桌面化,加入原软件没有的功能键,增加软件开关RP源,方便了测试人员,并提高了测量天线效率;

控制扫描架部分,研究并改进原承建单位留下的不完整的源程序,并在此基础上分析了控制步进电机进行天线测试的流程,完成了Win2000/XP下使用ISA接口卡的驱动程序设计,满足系统升级的需要,并为系统集成奠定基础;

系统集成部分,提出线程间的数据保护机制,并初步给出系统集成的方案,这样在多线程工作模式下就能有效且准确的进行天线测试。

上述实施例,仅是本发明的较佳实施方式,故凡依本发明专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰,均包括于本发明专利申请范围内。

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