本实用新型涉及产品精确测试技术领域，具体为一种测试精准的测试组。
背景技术：
原有设备测试时是测试棒与产品不接触的形式进行的，因每一个产品的厚度都有微小的不同，导致测试棒与产品的之间的间距与不同造成测试误差较大。为此，我们提出一种测试精准的测试组。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种测试精准的测试组，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种测试精准的测试组，包括高度计，所述高度计下方设有磁铁测量平台，并且所述磁铁测量平台左侧面设有测量平台X方向调整旋钮，所述测量平台X方向调整旋钮与磁铁测量平台内部的X方向调节装置连接，所述磁铁测量平台前面设有测量平台Y方向调整旋钮，所述测量平台Y方向调整旋钮与磁铁测量平台内部的Y方向调节装置连接，所述磁铁测量平台下方设有支座，且所述磁铁测量平台右侧设有磁铁测试棒，所述磁铁测试棒正下方设有测试棒测量平台，所述测试棒测量平台前侧面设有测试棒前后平台调整旋钮，所述测试棒前后平台调整旋钮与测试棒测量平台内部的前后调整装置连接，并且所述测试棒测量平台底部侧面设有测试棒上下调整旋钮，所述测试棒上下调整旋钮与测试棒测量平台内部的上下调整装置连接，所述磁铁测试棒右侧通过电线与高斯计相连。
优选的，所述磁铁测量平台与测试棒测量平台上表面在同一水平面上。
优选的，所述测试棒上下调整旋钮为两个，且测试棒上下调整旋钮在测试棒测量平台底部两侧对称布置
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该测试精准的测试组，通过高度计的高度补偿，消除了每片产品因厚度不同所造成的误差而导致的测试误差，并且磁铁测试棒下表面与测试棒测试平台上表面在同一水平面上，且通过调整旋钮来精确的调整了测量平台，极大的减小了测量所带来的系统误差。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图。
图中：1高度计、2磁铁测量平台、3测量平台X方向调整旋钮、4测量平台Y方向调整旋钮、5支座、6磁铁测试棒、7测试棒测量平台、8测试棒前后平台调整旋钮、9测试棒上下调整旋钮、10高斯计。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种测试精准的测试组，包括高度计1，高度计1下方设有磁铁测量平台2，并且磁铁测量平台2左侧面设有测量平台X方向调整旋钮3，测量平台X方向调整旋钮3与磁铁测量平台2内部的X方向调节装置连接，磁铁测量平台2前面设有测量平台Y方向调整旋钮4，测量平台Y方向调整旋钮4与磁铁测量平台2内部的Y方向调节装置连接，磁铁测量平台2下方设有支座5，且所述磁铁测量平台2右侧设有磁铁测试棒6，磁铁测试棒6正下方设有测试棒测量平台7，磁铁测试棒6下表面与测试棒测量平台7上表面在同一水平面上，测试棒测量平台7前侧面设有测试棒前后平台调整旋钮8，测试棒前后平台调整旋钮8与测试棒测量平台7 内部的前后调整装置连接，并且测试棒测量平台7底部侧面设有测试棒上下调整旋钮9，测试棒上下调整旋钮9与测试棒测量平台7内部的上下调整装置连接，测试棒上下调整旋钮9为两个，且测试棒上下调整旋钮9在测试棒测量平台7底部两侧对称布置，磁铁测试棒6右侧通过电线与高斯计10相连。该测试精准的测试组，通过高度计1的高度补偿，消除了每片产品因厚度不同所造成的误差而导致的测试误差，磁铁测量平台2与测试棒测量平台7上表面在同一水平面上，且通过调整旋钮来精确的调整了测量平台，极大的减小了测量所带来的系统误差。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。