技术总结
一种自动标记坏点的芯片测试机包括芯片测试机，自动标记装置和固定装置，所述自动标记装置可以根据所述芯片测试机的检测结果对芯片上的坏点进行标记；所述固定装置包括硬质板，所述硬质板固定在所述芯片测试机上，所述自动标记装置固定于所述硬质板上；所述自动标记装置通过所述芯片测试机顶部的开口对放置于芯片测试机中的待测芯片的坏点进行标记，能在同一台机器上完成测试与标记坏点的工作，提高了工作效率。
技术研发人员：张会战;袁刚
受保护的技术使用者：广东利扬芯片测试股份有限公司
文档号码：201621156398
技术研发日：2016.10.31
技术公布日：2017.06.20