1.一种恒压恒流充电老化测试系统，其特征在于：包括供电系统、上位机监控系统、PLC控制系统、充电供电系统及产品接口模块，
所述供电系统，用于为上位机监控系统提供AC工作电源；
上位机监控系统，用于设定不同的充电电压；
PLC控制系统，用于接收上位机监控系统发出的充电电压命令并将该充电电压命令发送给充电供电系统；
充电供电系统的输出端连接至产品接口模块的输入端，产品接口模块的输出端连接至充电负载，充电供电系统为充电负载提供设定的充电电压。
2.根据权利要求1所述的一种恒压恒流充电老化测试系统，其特征在于：该老化测试系统还包括恒压恒流充电控制模块和恒压DC电源模块，
一方面，所述恒压恒流充电控制模块通过RS232转RS485通信模块与上位机监控系统建立通信连接；另一方面，恒压恒流充电控制模块与产品接口模块相连，恒压恒流充电控制模块为充电负载提供恒压恒流的充电；
所述恒压DC电源模块的输入端连接至供电系统的输出端，恒压DC电源模块的输出端连接至恒压恒流充电控制模块的输入端，恒压DC电源模块用于为恒压恒流充电控制模块提供DC工作电源。
3.根据权利要求2所述的一种恒压恒流充电老化测试系统，其特征在于：所述恒压恒流充电控制模块包括微控芯片单元、充电电流采集单元、充电电压采集单元和恒压恒流控制MOS管单元，
微控芯片单元是型号为STM8S003F3的芯片，STM8S003F3的芯片的PC4脚和PC3脚分别连接至上位机监控系统；PD2脚连接至充电电流采集单元，完成电流采集；UART1—RX脚连接至充电电压采集单元，完成充电电压采集；PC6脚连接至恒压恒流控制MOS管单元的输入端；
充电电流采集单元包括电阻R101、电阻R102、放大器U101和放大器U102；
充电电压采集单元包括电阻R2、电阻R3；
恒压恒流控制MOS管单元包括R109，C108和R110，C109以及R111，C110、运放U103A、电阻R113、电阻R115、电阻R116、MOS管Q101；
一方面：STM8S003F3芯片的PC6脚连接至电阻R109的一端，电阻R109的另一端连接至并联的电阻R110和电容C108的一端，电阻R110的另一端连接至并联的电阻R111和电容C109的一端，电阻R111的另一端连接至电容C1110的一端及运放U103A同相输入端，电容C108、C109、C110的另一端接地，另一方面：充电电流信号经过电阻R113后连接至运放U103A的反相输入端，运放U103A的输出端经过串联的电阻R115、电阻R116后连接至MOS管Q101的栅极；
MOS管Q101的源极一方面连接至电阻R102后与放大器U101的输入端的3引脚连接，另一方面经过串联的取样电阻R126、电阻R127后连接至电阻R101后与放大器U101的输入端的2引脚连接，放大器U101的输出脚6脚连接至放大器U102的输入端3脚，放大器U102的输出脚6脚连接至STM8S003F3的芯片的PD2脚；
充电电压的正极经过电阻R2后一方面连接至STM8S003F3芯片的UART1—RX引脚，另一方面经过电阻R3后接地。
4.根据权利要求3所述的一种恒压恒流充电老化测试系统，其特征在于：所述恒压恒流充电控制模块还包括负载电压采集单元，负载电压采集单元包括电阻R120、电阻R129、运放U103B；其中充电负载的正极经过电阻R120连接至运放U103B的输入端5脚，充电负载的负极经过电阻R119连接至运放U103B的输入端6脚，运放U103B的输出端7脚连接至STM8S003F3芯片的UART1—TX引脚。
5.根据权利要求1-4中任意一项所述的一种恒压恒流充电老化测试系统，其特征在于：所述产品接口模块设置有USB接口、DC母座接口和\或音响夹。