触控装置的制作方法

本实用新型涉及触控显示技术领域，特别是涉及一种触控装置。

背景技术：

触控装置的柔性电路板一般需要经过热压通过异方性导电胶膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)绑定到触控面板上。FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)具有一定的延展性，在热压后会变形，尤其FPC绑定位比较长的，变形量也相对较大，在热压后可能出现绑定偏位现象，因此需要对绑定效果进行生产过程监控。影响绑定效果的因素主要有两个：一是对位是否准确，二是ACF金球破裂程度是否满足导通要求。

目前，一般通过显微镜检测触控装置绑定区域内的绑定情况。但是，在显微镜检测中观测绑定偏差比较耗时，而且存在较大的人为因素。而且在显微镜下有时不易看清楚异方性导电胶膜金球破裂状况，测试效率相对较低，不利于产品100％检测。对于结构特殊的产品，更是无法准确判断。

技术实现要素：

基于此，针对上述问题，有必要提供一种方便检测绑定区域绑定情况的触控装置。

一种触控装置，包括触控面板及贴设于所述触控面板上的柔性电路板，所述触控面板包括第一绑定区，所述柔性电路板上设置有与所述触控面板的所述第一绑定区对应的第二绑定区，所述第一绑定区内设置有多个相互平行的焊盘及设置于多个所述焊盘至少一侧的测试标，所述测试标包括设置于所述焊盘同侧的两个测试条及连接两个所述测试条的连接条，所述第二绑定区内设置有与多个所述焊盘对应的多个金手指及与所述测试标对应的两个导电条，多个所述金手指与多个所述焊盘一一对应连接，两个所述导电条与两个所述测试条一一对应连接，且两个所述导电条的一端分别向远离所述触控面板的方向延伸形成两个测试点。

在一个实施例中，所述测试标为两组，两组所述测试标分别位于所述焊盘的两侧。

在一个实施例中，所述测试标中的两个所述测试条相互平行，且所述测试标与所述焊盘平行。

在一个实施例中，多个所述焊盘均匀设置于所述第一绑定区，且位于所述焊盘同侧的两个所述测试条之间的间距与两个相邻所述焊盘之间的间距相等。

在一个实施例中，所述测试标靠近所述焊盘的所述测试条与相邻所述焊盘之间的间距等于所述焊盘之间的间距。

在一个实施例中，所述测试条的宽度与所述焊盘的宽度相等。

在一个实施例中，所述连接条设置于所述测试条远离所述柔性电路板的一端。

在一个实施例中，所述连接条与所述测试条垂直设置。

在一个实施例中，所述测试条远离所述连接条的一端与所述焊盘齐平。

在一个实施例中，所述测试标与所述焊盘为一体成型结构。

上述触控装置，由于在第一绑定区内设置有测试标，在第二绑定区内设置有相应的导电条，通过万用表检测即可确定触控面板与柔性电路板之间的绑定情况，操作简单，测试速度较快，测试时间可以缩短到2s，极大的提高了测试效率。

附图说明

图1为一实施例的触控装置的结构示意图；

图2为图1所示的触控面板的结构示意图；

图3为图1所示的柔性电路板的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

本实用新型提供一种触控装置10。请参阅图1，触控装置10包括触控面板100及贴设于所述触控面板100上的柔性电路板200。请一并参阅图2及图3，所述触控面板100包括第一绑定区110，所述柔性电路板200上设置有与所述触控面板100的所述第一绑定区110对应的第二绑定区210。所述第一绑定区110内设置有多个相互平行的焊盘111及设置于多个所述焊盘111至少一侧的测试标113，所述测试标113包括设置于所述焊盘111同侧的两个测试条114及连接两个所述测试条114的连接条116，所述连接条的两端分别与两个所述测试条连接；所述第二绑定区210内设置有与多个所述焊盘111对应的多个金手指211及与所述测试标113对应的两个导电条213，多个所述金手指211与多个所述焊盘111一一对应连接，每一焊盘对应连接一金手指；两个所述导电条213与两个所述测试条114一一对应连接，每一测试条对应连接一导电条；且两个所述导电条213的一端分别向远离所述触控面板100的方向延伸形成两个测试点214；即，每一所述导电条的一端向远离所述触控面板的方向延伸形成一个测试点。具体到本实施例中，触控面板100的焊盘111与测试条114通过ACF分别与柔性电路板200上的金手指211及导电条213导通。

当需要检测触控面板100与柔性电路板200之间的绑定是否符合要求时，通过将万用表的探针放在测试点214上测定其电阻值，当电阻值小于一定范围时，则可判定触控面板100与柔性电路板200之间绑定合格，反之，则绑定不合格。当然，当触控装置10出现异常时，也可以根据测试点214之间的电阻值，判断是否是因为触控面板100与柔性电路板200之间的绑定异常引起的。

可以理解，若柔性电路板200与触控面板100对位不准确时，测试条114与导电条116之间的贴合也会发生一定的偏位，这样，导电条116与测试条114之间的接触面积变小或者接触面积为零，测试时，测试点214之间的电阻值会增加或测试点214之间的电路无法导通，或者，柔性电路板200与触控面板100之间的ACF金球破裂不符合要求时，测试点214之间的电路无法导通或者电阻值较大。

上述触控装置10，由于在第一绑定区110内设置有测试标113，在第二绑定区210内设置有相应的导电条213，通过万用表检测即可确定触控面板100与柔性电路板200之间的绑定情况，操作简单，测试速度较快，测试时间可以缩短到2s，极大的提高了测试效率。

为了较准确地判断触控面板100与柔性电路板200之间的绑定是否偏位，进而提高测试准确率，例如，所述测试标113为两组，两组所述测试标113分别位于所述焊盘111的两侧。换言之，测试条114为四根，相应的，导电条213也为四根，分别测定金手指211同侧的两个测试点214之间的电阻值，当金手指211同侧的两个测试点214之间的电阻值均小于一定范围内时，则可以判断触控面板100的焊盘111与柔性电路板200的金手指211之间的绑定偏差在合格范围内，触控面板100与柔性电路板200之间的绑定合格。反之，则绑定不合格。

为了进一步地提高测试准确率，例如，所述测试标113中的两个所述测试条114相互平行，且所述测试标113与所述焊盘111平行。又如，多个所述焊盘111均匀设置于所述第一绑定区110，且位于所述焊盘111同侧的两个所述测试条114之间的间距与两个相邻所述焊盘111之间的间距相等。又如，所述测试标113靠近所述焊盘111的所述测试条114与相邻所述焊盘111之间的间距等于所述焊盘114之间的间距。又如，所述测试条114的宽度与所述焊盘111的宽度相等。这样可以尽可能的排除其他因素的干扰，如由于第一绑定区110中焊盘111之外的区域的对位偏差，或者焊盘111与金手指211对位偏差的累积等因素影响测试条114与导电条213之间的导通，从而进一步的提高测试准确率。

请参阅图2，所述连接条116设置于所述测试条114远离所述柔性电路板200的一端。所述连接条116与所述测试条114垂直设置。具体地，所述测试标113呈U形。

需要说明的是，在其他实施例中，所述连接条116还可以位于测试条114的其他位置。例如，所述测试标113呈H形等。所述连接条116与所述测试条114之间的角度还可以不等于90°。连接条114也并不局限于直线结构，例如，还可以为折线或弧线等结构。

具体到本实施例中，所述测试条114所述连接条116的一端与所述焊盘111齐平。所述测试标113与所述焊盘111为一体成型结构，便于生产，降低生产成本。

上述触控装置10，由于在第一绑定区110内设置有测试标113，在第二绑定区210内设置有导电条213，通过万用表检测即可确定触控面板100与柔性电路板200之间的绑定情况，操作简单，测试速度较快，测试时间可以缩短到2s，极大的提高了测试效率。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。