1.一种宽量程高阻测试电路，其特征在于：包括MCU、信号跟随器、若干标准电阻、滤波电容以及待测电阻；所述若干标准电阻的一端与所述MCU的IO口相连，所述若干标准电阻的另一端相连并连接至所述待测电阻的一端、所述滤波电容的一端、所述信号跟随器的正输入端；所述待测电阻的另一端连接至电源，所述滤波电容的另一端接地，所述信号跟随器的负输入端、输出端均连接至MCU，用以给MCU提供反馈信号。
2.根据权利要求1所述的一种宽量程高阻测试电路，其特征在于：所述若干标准电阻包括4个标准电阻。
3.根据权利要求1所述的一种宽量程高阻测试电路，其特征在于：所述信号跟随器由运算放大器组成。
4.一种基于权利要求1所述宽量程高阻测试电路的方法，其特征在于：所述MCU根据待测电阻的大小自动控制IO口切换不同的高阻态模式进而切换不同的标准电阻的连接状态实现分压，分压后经所述滤波电容进入所述信号跟随器，所述MCU将所述信号跟随器输出的电压值进行处理换算成电阻值后送显示。
5.根据权利要求4所述的一种基于宽量程高阻测试电路的方法，其特征在于：所述MCU控制所述信号跟随器输出的电压稳定在1/2VCC左右，所述VCC为所述待测电阻另一端连接的电源。