技术总结
本发明涉及一种宽量程高阻测试电路，包括MCU、信号跟随器、若干标准电阻、滤波电容以及待测电阻；所述若干标准电阻的一端与所述MCU的IO口相连，所述若干标准电阻的另一端相连并连接至所述待测电阻的一端、所述滤波电容的一端、所述信号跟随器的正输入端；所述待测电阻的另一端连接至电源，所述滤波电容的另一端接地，所述信号跟随器的负输入端、输出端均连接至MCU，用以给MCU提供反馈信号。本发明电路简洁，灵活简单，测量线性度好一致性佳，可测量高达200G的电阻，无需任何电位器调节。
技术研发人员：曾宇;曾繁建;张文灿
受保护的技术使用者：漳州市东方智能仪表有限公司
文档号码：201710201277
技术研发日：2017.03.30
技术公布日：2017.05.24