本发明涉及传感器调整技术，尤其是一种接近传感器的校准方法及装置。
背景技术
现有技术中，对终端使用的接近传感器的校准主要是通过软件实现，其主要过程是：获取接近传感器的当前静态检测数据，对获取的静态数据分段分组设置接近和远离判断门限，如果静态数据偏大就减小静态数据值，反之，如果偏小，就增大静态数据值，使得调整后的静态数据值符合门限范围的要求；在实际使用中，经过调整后的静态数据由于偏大经常出现底部噪声饱和，也会由于偏小而经常出现“黑头发零距离”问题。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明实施例期望提供一种接近传感器的校准方法及装置，能够实现实时监控接近传感器的静态数据，并通过调整接近传感器的硬件设备，解决平均静态数据的偏差，使得接近传感器处于最佳状态。
为达到上述目的，本发明实施例的技术方案是这样实现的：
本发明实施例提供了一种接近传感器校准方法，包括：
采集接近传感器的静态数据；
计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；
将所述平均静态数据与预设范围作比较；
如果所述平均静态数据超出所述预设范围，改变到达所述接近传感器的光束的数量，以触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。
上述方案中，所述改变到达所述接近传感器的光束的数量，触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变包括：
通过调整所述接近传感器的透镜位置而改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量跟随所述有效工作距离而改变，使得所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。
上述方案中，所述调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离包括：
通过缩小所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步缩小，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据；或者，
通过增大所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步增大，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据。
上述方案中，所述调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，包括：
向线圈马达发出产生正向电流的正向指令，触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互相吸的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；或者，
向线圈马达发出产生反向电流的反向指令，触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互排斥的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
上述方案中，所述调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离包括：
向线圈马达发出正向运转的正向指令，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴正向运转，使得所述透镜向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；或者，
向线圈马达发出反向运转的反向指令，通过线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴反向运转，使得所述透镜向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
本发明实施例还提供了一种接近传感器校准装置，包括：
数值采集器，用于采集接近传感器的静态数据；
数值计算器，用于计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；
数值比较器，用于将所述平均静态数据与预设范围作比较；
驱动器，用于改变到达所述接近传感器的光束的数量，以触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。
上述方案中，
所述驱动器，还用于通过调整所述接近传感器的透镜位置而改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量跟随所述有效工作距离而改变，使得所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。
上述方案中，
所述驱动器，具体用于：
通过缩小所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步缩小，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据；或者，
通过增大所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步增大，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据。
上述方案中，所述透镜安装有磁性部件，
所述驱动器包括：
控制器，用于向信号接口发出产生正向电流的正向指令；
所述信号接口，用于将来自所述控制器的正向指令传输至线圈马达；
所述线圈马达，用于接收来自所述信号接口的正向指令，产生正向电流，形成与所述透镜中的磁性部件相互相吸的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；
所述控制器还用于：向所述信号接口发出产生反向电流的反向指令；
所述信号接口还用于：将来自所述控制器的反向指令传输至所述线圈马达；
所述线圈马达还用于：接收来自所述信号接口的反向指令，产生反向电流，形成与所述透镜中的磁性部件相互排斥的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
上述方案中，
所述透镜安装有与所述驱动器连接的曲轴，
所述驱动器包括：
控制器，用于向信号接口发出正向运转的正向指令；
所述信号接口，用于将来自所述控制器的正向指令传输至线圈马达；
所述线圈马达，用于接收来自所述信号接口的正向指令，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴正向运转，使得所述透镜向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；
所述控制器还用于：向所述信号接口发出反向运转的反向指令；
所述信号接口还用于：将来自所述控制器的反向指令传输至所述线圈马达；
所述线圈马达还用于：接收来自所述信号接口的反向指令，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴反向运转，使得所述透镜向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
本发明实施例期望提供的接近传感器的校准方法及装置，包括：计算接近传感器所采集的静态数据，获得所述接近传感器的平均静态数据；将所述平均静态数据与预设范围作比较；如果所述平均静态数据超出所述预设范围，改变到达所述接近传感器的光束的数量，触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。如此，能够直接调整所述接近传感器，保证接近传感器的平均静态数据的准确，避免了现有技术中通过软件校准而产生的底部噪声饱和问题和黑头发零距离问题。
附图说明
图1为本发明实施例中接近传感器校准方法的实现流程示意图；
图2为本发明实施例中接近传感器校准装置的组成结构示意图；
图3为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器的校准过程实现流程图；
图4为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器的一种侧视图；
图5为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器透镜的一种仰视图；
图6为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器透镜改变有效工作距离的过程示意图；
图7为本发明实施例二中，带有曲轴的接近传感器的校准过程实现流程图；
图8为本发明实施例二中，带有曲轴的接近传感器的侧视图。
具体实施方式
为了能够更加详尽地了解本发明实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本发明实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本发明。
本发明所记载的技术方案既可以单独使用，也可以应用于终端中，所述终端包括但不限于手机、平板电脑、可穿戴智能设备、台式电脑、相机，通过本发明所记载的技术方案可以更加准确地实现接近传感器监控物体接近或离开终端，保证接近传感器处于平均静态数据差值一致性最佳的硬件条件。
对本发明进行进一步详细说明之前，对本发明实施例中涉及的名词和术语进行说明，本发明实施例中涉及的名词和术语适用于如下的解释。
均静态数据，是指接近传感器上方除了滤除与工作光线单元所发射光波长相近的光的装置外无任何遮挡物的情况下，收到的来自工作光线单元的光线，通过模数转换后得到的数据，对所述接近传感器进行数据采集、计算获得的静态数据的平均值，优选的是在固定时间段内对所述接近传感器进行固定频次的数据采集、计算获得平均静态数据。
图1为本发明实施例中接近传感器校准方法的实现流程示意图，如图1所示，本发明实施例中接近传感器校准方法的实现流程包括以下步骤：
步骤101：采集接近传感器的静态数据；
步骤102：计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；
步骤103：将所述平均静态数据与预设范围作比较，判断是否超出预设范围，如果是，执行步骤104，否则，返回执行步骤101；
步骤104：改变到达所述接近传感器的光束的数量，触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。
实际应用中，所述接近传感器的平均静态数据为对所述接近传感器进行固定频次的数据采集、计算所获得的静态数据的平均值；因为现有接近传感器的种类繁多，因此数据采集时间需要根据接近传感器的种类确定；优选的是在固定时间段内对所述接近传感器进行固定频次的数据采集、计算所获得的静态数据的平均值。
所述改变到达所述接近传感器的光束的数量，触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变包括：
调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量跟随所述有效工作距离而改变，使得所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变；具体的，所述调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离包括：
通过缩小所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步缩小，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据；或者，
通过增大所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步增大，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据。实际使用中，所述透镜的有效工作距离和所述静态数据之间是负相关的关系，这种负相关的关系既可能是线性的也可能是非线性的，可以根据实际需要进行调整，由于光源和所述接近传感器的位置是不变的，因此，在透镜的有效工作距离增大的情况下，通过透镜的光束发生的散射作用增强，到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据，反之，在透镜的有效工作距离减小的情况下，通过透镜的光束发生的散射作用减弱，到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据。
在调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离的过程中，优选的使用安装有磁性部件的透镜，具体的，在使用安装有磁性部件的透镜时，首先向线圈马达发出产生正向电流的正向指令，触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互相吸的磁性作用力，然后触发所述透镜因所述磁性作用力向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；或者，
首先向线圈马达发出产生反向电流的反向指令，触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互排斥的磁性作用力，然后触发所述透镜因所述磁性作用力向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
在调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离的过程中还可以使用安装有曲轴的透镜，具体的，在使用安装有曲轴的透镜时，首先向线圈马达发出正向运转的正向指令，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴正向运转，然后触发所述透镜向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；或者，
首先向线圈马达发出反向运转的反向指令，通过线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴反向运转，然后触发所述透镜向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
实际应用中，步骤103中判断如果未超出预设范围，可以返回执行步骤101，继续监测所述接近传感的平均静态数据，还可以不作处理结束本次监测流程。
图2为本发明实施例中接近传感器校准装置的组成结构示意图，如图2所示，本发明实施例中接近传感器校准装置的组成结构包括：
数值采集器201，用于采集接近传感器的静态数据；
数值计算器202，用于计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；
数值比较器203，用于将所述平均静态数据与预设范围作比较；
驱动器204，用于改变到达所述接近传感器的光束的数量，触发所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变。
实际使用中，所述所述驱动器，还用于通过调整所述接近传感器的透镜位置而改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离，触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量跟随所述有效工作距离而改变，使得所述接近传感器因感应所述光束的数量而形成的静态数据发生改变，具体的，所述驱动器用于：
通过缩小所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步缩小，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据；或者，
通过增大所述透镜的有效工作距离，触发所述透镜至所述传感器的光源的距离同步增大，并触发通过所述透镜到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据。实际使用中，所述透镜的有效工作距离和所述静态数据之间是负相关的关系，这种负相关的关系既可能是线性的也可能是非线性的，可以根据实际需要进行调整，由于光源和所述接近传感器的位置是不变的，因此，在透镜的有效工作距离增大的情况下，通过透镜的光束发生的散射作用增强，到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据，反之，在透镜的有效工作距离减小的情况下，通过透镜的光束发生的散射作用减弱，到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据。
在调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离的过程中，优选的使用安装有磁性部件的透镜，具体的，在使用安装有磁性部件的透镜时，所述装置还包括：
控制器，用于向信号接口发出产生正向电流的正向指令；
所述信号接口，用于将来自所述控制器的正向指令传输至线圈马达；
所述线圈马达，用于接收来自所述信号接口的正向指令，产生正向电流，形成与所述透镜中的磁性部件相互相吸的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；
所述控制器还用于：向所述信号接口发出产生反向电流的反向指令；
所述信号接口还用于：将来自所述控制器的反向指令传输至所述线圈马达；
所述线圈马达还用于：接收来自所述信号接口的反向指令，产生反向电流，形成与所述透镜中的磁性部件相互排斥的磁性作用力，使得所述透镜因所述磁性作用力向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
在调整所述接近传感器的透镜位置改变所述接近传感器的透镜的有效工作距离的过程中，还可以使用安装有曲轴的透镜，具体的，在使用安装有曲轴的透镜时，所述装置还包括：
控制器，用于向信号接口发出正向运转的正向指令；
所述信号接口，用于将来自所述控制器的正向指令传输至线圈马达；
所述线圈马达，用于接收来自所述信号接口的正向指令，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴正向运转，使得所述透镜向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；
所述控制器还用于：向所述信号接口发出反向运转的反向指令；
所述信号接口还用于：将来自所述控制器的反向指令传输至所述线圈马达；
所述线圈马达还用于：接收来自所述信号接口的反向指令，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴反向运转，使得所述透镜向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
图3为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器的校准过程实现流程图，如图3所示，本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器的校准过程包括以下步骤：
步骤301：设置平均静态数据范围；
步骤302：采集接近传感器的静态数据；
步骤303：计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；
步骤304：将所述平均静态数据与预设范围作比较，判断是否在预设范围内，如果是，执行步骤305，否则，返回执行步骤302；
步骤305：启动线圈马达，通过磁性部件调整接近传感器透镜的有效工作距离；
步骤306：判断调整后的所述平均静态数据是否在预设范围内，如果是，执行步骤307，否则，返回执行步骤305；
步骤307：关闭线圈马达，保持调整后的接近传感器的透镜的有效工作距离。
本发明实施例一中，安装在终端中的接近式传感器采用11位的模/数转换器，所述传感器的透镜安装有磁性部件，传感器的采样数据范围为0～2047，设置平均静态数据门限范围为20～500；当平均静态数据在20～500之间时，控制器可以判断这组平均静态数据是正常的数据，无需校准；当平均静态数据小于20时，控制器判断这是一组异常的数据，此时，控制器向线圈马达发出产生反向电流的反向指令，线圈马达控制器收到所述反向指令后，线圈马达内部输出一个固定流向并且恒定的反向电流，电流通过线圈产生磁场，与透镜中安装的磁性部件产生相互吸引的磁力作用，触发所述透镜因所述磁性作用力向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离，此时，通过透镜的光束的有效角度增大，通过透镜的光束发生的散射作用减弱，到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据。
在通过线圈马达调整透镜的有效工作距离时，线圈马达可以根据控制器中的遍历表通过分次调整实现有效工作距离的改变，例如，实施例一中，平均静态数据门限范围为20～500，在监测到的平均静态数据低于20时，根据遍历表确定每一次调整的步进为50，通过1次调整后，平均静态数据即可调整至门限范围内；
同样地，在监测的平均静态数据超出500时，控制器判断这是一组异常的数据，此时，控制器向线圈马达发出产生正向电流的正向指令，线圈马达收到所述正向指令后，所述线圈马达内部输出一个固定流向并且恒定的电流，电流通过线圈产生磁场，与所述透镜上的磁性部件产生相互排斥的磁力作用，触发所述透镜因所述磁性作用力向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离，此时，通过透镜的工作光线的有效角度减小，通过透镜的光束发生的散射作用增强，到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据；
在通过线圈马达调整透镜的有效工作距离时，线圈马达可以根据控制器中的遍历表通过分次调整实现有效工作距离的改变，例如，实施例一中，平均静态数据门限范围为20～500，在监测到的平均静态数据大于500时，根据遍历表确定每一次调整的步进为70，通过至少一次调整后，平均静态数据即可调整至门限范围内；优选的，在调整平均静态数据小于500时，继续调整平均静态数据至100～150区间。
图4为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器的一种侧视图，如图4所示，本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器包括：
光束发射管401、磁性部件402、透镜403、光束接收管404；其中，
光束发射管401，用于发出光束；
磁性部件402，用于改变透镜的有效工作距离；
透镜403，用于折射光束；
光束接收管404，用于接收经过所述透镜折射的光束。
图4所示的侧视图仅为所述带有磁性部件的接近传感器的一种侧视图，在实际使用中，所述光束发射管401和所述光束接收管404既可以位于所述透镜403的同一侧，也可以分别位于所述透镜403的两侧，所述光束发射管401和所述光束接收管404位置的选择可以由终端安装所述带有磁性部件的接近传感器的空间大小决定。
图5为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器透镜仰视图，如图5所示，实施例一中，透镜带有a、b、c、d四个磁性部件，通过线圈马达的正向电流触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互相吸的磁性作用力，然后触发所述透镜因所述磁性作用力向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离；或者，
通过所述线圈马达的反向电流触发所述线圈马达形成与所述接近传感器的透镜中的磁性部件相互排斥的磁性作用力，然后触发所述透镜因所述磁性作用力向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离。
图6为本发明实施例一中，带有磁性部件的接近传感器透镜改变有效工作距离的过程示意图；如图6所示，接近传感器的透镜由1位置移动到2位置，缩小所述透镜的有效工作距离，即缩小了透镜与接近传感器的光束发射管之间的距离，光线通过透镜的有效角度增大，通过透镜的光束发生的散射作用减弱，到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据。
图7为本发明实施例二中，带有曲轴的接近传感器的校准过程实现流程图，如图7所示，本发明实施例二中带有曲轴的接近传感器的校准过程包括以下步骤：
步骤701：设置平均静态数据范围；
步骤702：采集接近传感器的静态数据；
步骤703：计算所述静态数据的平均值，获得所述接近传感器的平均静态数据；
步骤704：将所述平均静态数据与预设范围作比较，判断是否在预设范围内，如果否，执行步骤705，否则，返回执行步骤702；
步骤705：启动线圈马达，通过曲轴调整接近传感器透镜的有效工作距离；
步骤706：判断调整后的所述平均静态数据是否在预设范围内，如果是，执行步骤707，否则，返回执行步骤705；
步骤707：关闭线圈马达，保持调整后的接近传感器的透镜的有效工作距离。
本发明实施例二中，安装在终端中的接近式传感器采用11位的模/数转换器，所述传感器的透镜安装有曲轴，所述曲轴的一端连接至所述透镜，另一端连接至所述线圈马达，所述传感器的采样数据范围为0～2047，设置平均静态数据门限范围为20～500；当平均静态数据在20～500之间时，控制器可以判断这组平均静态数据是正常的数据，无需校准；当平均静态数据小于20时，控制器判断这是一组异常的数据，此时，控制器向线圈马达发出产生反向电流的反向指令，线圈马达控制器收到所述反向指令后，线圈马达内部输出一个固定流向并且恒定的反向电流，所述反向电流带动所述线圈马达反向运转，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴反向运转，触发所述透镜向接近所述传感器的光源的方向运动，以缩小所述接近传感器的透镜的有效工作距离，此时，通过透镜的光束的有效角度增大，通过透镜的光束发生的散射作用减弱，到达所述传感器的光束数量同步增多，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的增多而形成同步增大的静态数据。
在通过线圈马达调整透镜的有效工作距离时，线圈马达可以根据控制器中的遍历表通过分次调整实现有效工作距离的改变，例如，实施例二中，平均静态数据门限范围为20～500，在监测到的平均静态数据低于20时，根据遍历表确定每一次调整的步进为50，通过1次调整后，平均静态数据即可调整至门限范围内；
同样地，在监测的平均静态数据超出500时，控制器判断这是一组异常的数据，此时，控制器向线圈马达发出产生正向电流的正向指令，线圈马达收到所述正向指令后，所述线圈马达内部输出一个固定流向并且恒定的正向电流，通过所述线圈马达带动与所述接近传感器的透镜相连接的曲轴正向运转，触发所述透镜向远离所述传感器的光源的方向运动，以增大所述接近传感器的透镜的有效工作距离，此时，通过透镜的工作光线的有效角度减小，通过透镜的光束发生的散射作用增强，到达所述传感器的光束数量同步减少，使得所述接近传感器因感应到所述光束的数量的减少而形成同步减小的静态数据；
在通过线圈马达调整透镜的有效工作距离时，线圈马达可以根据控制器中的遍历表通过分次调整实现有效工作距离的改变，例如，实施例二中，平均静态数据门限范围为20～500，在监测到的平均静态数据大于500时，根据遍历表确定每一次调整的步进为70，通过至少一次调整后，平均静态数据即可调整至门限范围内；优选的，在调整平均静态数据小于500时，继续调整平均静态数据至100～150区间。
图8为本发明实施例二中，带有曲轴的接近传感器的侧视图，如图8所示，
本发明实施例二中，带有曲轴的接近传感器包括：
光束发射管801、曲轴802、透镜803、光束接收管804；其中，
光束发射管801，用于发出光束；
曲轴802，用于改变透镜的有效工作距离；
透镜803，用于折射光束；
光束接收管804，用于接收经过所述透镜折射的光束。
图8所示的侧视图仅为所述带有曲轴的接近传感器的一种侧视图，在实际使用中，所述光束发射管801和所述光束接收管804既可以位于所述透镜803的同一侧，也可以分别位于所述透镜803的两侧，所述光束发射管801和所述光束接收管804位置的选择可以由终端安装所述带有曲轴的接近传感器的空间大小决定。
本领域内的技术人员应明白，本发明实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。