使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器进行X射线检查的制作方法

文档序号:11284742阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
提供了一种在通过将波长偏移光纤耦接到一个或多个光电检测器的闪烁体的基础上,通过对光电检测器信号的时间整合,来检查材料的检测器和方法。闪烁介质的非像素化空间将入射的穿透辐射的能量转换成闪烁光,该闪烁光是从闪烁光发出区域由多个光波导发出的。这种几何形状提供了高效且体积小的检测器,实现了以往无法实现的用于对入射辐射进行反向散射检测和能量辨别的几何形状。可使用额外的能量分辨传输配置并可作为倾斜和失准的补偿。

技术研发人员:A.阿罗德泽罗;J.卡勒拉梅;D-C.丁卡;R.苏德;L.格洛德津斯;M.罗梅尔;P.罗斯希尔德;J.舒伯特
受保护的技术使用者:美国科技工程公司
技术研发日:2013.02.04
技术公布日:2017.09.22
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