技术特征：
技术总结
本发明公开了一种1‑40GHz在片S参数测量方法，涉及微波/毫米波在片S参数计量技术领域，包括步骤：1）、设计在片S参数验证件的实现形式；2）、设计在片S参数验证件的结构；3）、仿真优化在片S参数验证件；4）、在片S参数验证件定标；5）、定标结果不确定度评定；本发明通过设计1‑40GHz在片S参数测量方法，通过设计在片S参数验证件的实现形式、设计在片S参数验证件的结构、仿真优化在片S参数验证件、在片S参数验证件定标、定标结果不确定度评定等步骤实现在片S参数的测量，同时此种方法使用温度为‑55℃‑125℃，增大了测试温度范围。
技术研发人员：刘晨;吴爱华;孙静;梁法国;王一帮;栾鹏
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第十三研究所
技术研发日：2017.05.25
技术公布日：2017.09.15