技术特征：
技术总结
本申请公开了一种天线测试装置、智能卡以及芯片，涉及智能卡技术领域，解决了相关技术中对智能卡进行终端兼容性测试效率较低的问题。本申请的天线测试装置包括：智能卡主体，该智能卡主体上设置有卡槽，该卡槽内设置有第一触点，第一触点的第一端与设置于智能卡主体内的射频天线连接，第一触点的第二端用于在可拆卸芯片装入卡槽的情况下，与可拆卸芯片连接。本申请提高了对智能卡进行终端兼容性测试的效率。
技术研发人员：白光宇;何险峰
受保护的技术使用者：恒宝股份有限公司
技术研发日：2017.08.29
技术公布日：2017.12.15