技术特征：
技术总结
本发明涉及光的干涉测量设备技术领域，尤其是一种高阶干涉仪，其特征在于：所述干涉仪至少包括光源、菲涅尔双棱镜、正柱透镜、光纤阵列和单光子探测器阵列，其中所述光源依次经过所述菲涅尔双棱镜、所述正柱透镜和所述光纤阵列进入至所述单光子探测器阵列，所述菲涅尔双棱镜使所述光源产生干涉，所述正柱透镜将产生干涉的光在竖直方向上进行垂直压缩，所述光纤阵列接收光信号并将光传输至所述单光子探测器阵列，所述单光子探测器阵列用于记录所述光纤阵列中不同光纤所传送的光子计数和光子抵达时间。本发明的优点是：结构简单，保持干涉图案完整性的同时，又增加了耦合效率；能够在空间和时间上观察到干涉图案的积累，同时实现高阶相干测量。
技术研发人员：秦梦瑶;陈凌霄;戎有英;陈昱;李召辉;陈修亮;吴光;武愕;潘海峰
受保护的技术使用者：华东师范大学
技术研发日：2017.10.13
技术公布日：2018.04.20