一种锂电池过充、过放保护与延迟时间的测试方法与流程

本发明涉及锂离子电池保护板功能检测技术领域，具体是一种锂电池过充、过放保护与延迟时间的测试方法。

背景技术：

目前3c数码类手持设备，如手机，平板电脑，手环等均采用锂离子电池供电。锂电池优点是能量密度比传统的铅酸电池、镍氢电池、镍镉电池都高很多，但是缺点是化学活性高，必须有完全的保护与监测机制配套使用，因此锂离子电池组上安装保护电路板是非常必要的。保护板其中一个重要作用，就是随时侦测电池组是否有过充电或过放电发生。众所周知，锂电池过充电会导致发热，燃烧甚至爆炸，非常危险；而过放电则会急剧缩短电池的使用寿命，或直接损坏。因此保护板过充与过放的保护功能必须经过严格检测后才能安装到电池组上。

目前业内传统锂电池保护板测试设备采用的软件控制量测过充电电流或过放电电流是否关闭来确认保护动作与保护延迟时间，其缺点是采用的模组资源较多，且时间准确度欠佳。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种锂电池过充、过放保护与延迟时间的测试方法，以解决现有技术中的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种锂电池过充、过放保护与延迟时间的测试方法，包括模拟电池模块、电池芯接入端、电池输出端、电池保护芯片、充放电控制mosfet开关和可程序式电源与负载共体模块，所述模拟电池模块连接电池芯接入端，所述可程序式电源与负载共体模块连接电池的输出端，所述电池保护芯片上连接有充放电控制mosfet开关，所述可程序式电源与负载共体模块内嵌有沿变触发器。

优选的，所述模拟电池模块的初始正常电压设置为4v。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明具配线简单，占用测试设备与治具资源比传统方法少很多，且保护延迟时间的抓取精度更高；该方法完全是硬件计时，精度达到0.1ms，且不受外界因素影响；同时由于生产测试时的配线的大大简化，提高了生产效率。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明的单串电池保护板示意图。

图3为本发明的过程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-3，本发明实施例中，一种锂电池过充、过放保护与延迟时间的测试方法，包括模拟电池模块、电池芯接入端、电池输出端、电池保护芯片、充放电控制mosfet开关和可程序式电源与负载共体模块，模拟电池模块连接电池芯接入端，可程序式电源与负载共体模块连接电池的输出端，电池保护芯片上连接有充放电控制mosfet开关，可程序式电源与负载共体模块内嵌有沿变触发器，模拟电池模块的初始正常电压设置为4v，b+/b-是电池芯接入端；p+/p-是电池输出端；q1、q2是充放电控制mosfet开关；bt是模拟电池模块；ps/ld是可程序式电源与负载共体模块。

本发明的工作原理是：以单串电池保护板举例，图2为单串电池保护板示意图，b+/b-是电池芯接入端；p+/p-是电池输出端；q1、q2是充放电控制mosfet开关；bt是模拟电池模块；ps/ld是可程序式电源与负载共体模块；

测试过程：过充电保护(延迟时间)测试

1.设定bt初始正常电压4v；

2.设定ps/ld4.5v/50ma进行充电动作；

3.设定bt电压到过充保护点，比如4.35v，此时沿变触发器产生第一个上升沿变触发，硬件计时开始tstart；

4.等待保护启动后，电流关闭，此时沿变触发器产生第二个上升沿变触发，硬件计时结束tend，整个过程参见图3；

5.计算tend-tstart，得出保护动作延迟时间。

过放保护(延迟时间)测试过程一样，只是第2步改为ps/ld设定为负载，进行50ma放电，而第3、4步的上升沿变，变成下降沿变。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种锂电池过充、过放保护与延迟时间的测试方法，包括模拟电池模块、电池芯接入端、电池输出端、电池保护芯片、充放电控制MOSFET开关和可程序式电源与负载共体模块，所述模拟电池模块连接电池芯接入端，所述可程序式电源与负载共体模块连接电池的输出端，所述电池保护芯片上连接有充放电控制MOSFET开关。本发明，配线简单，占用测试设备与治具资源比传统方法少很多，且保护延迟时间的抓取精度更高。

技术研发人员：王烨辉
受保护的技术使用者：昆山通达测科电子科技有限公司
技术研发日：2017.12.14
技术公布日：2018.03.27