开关控制电路和测试设备的制作方法

本发明涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种开关控制电路和测试设备。

背景技术：

随着电子技术的迅速发展，对电子设备质量的要求越来越高，对电子设备的性能进行全面测试是保证电子设备质量的重要途径。

以电子设备的电磁兼容以及电源特性试验为例，在对受试设备进行电源线瞬态干扰测试时，测试标准要求受试设备的开关能够在各种典型工作状态下进行精准地通断，并能够准确读取该受试设备在开关时刻所产生的尖峰信号幅度最大值等参数。然而测试电压信号的峰值、谷值以零值处对受试设备进行通断电所带来的脉冲干扰是不同的，需要对受试设备的开关进行准确控制。

传统技术提供的方案需要多次接收外部输入的控制信号才能完成受试设备的开关控制，导致开关控制的效率偏低，而且该控制信号通常是借助手动方式进行输入的，手动方式容易受到主观因素的影响，降低开关控制的准确性并导致开关控制的效率下降。

技术实现要素：

基于此，有必要针对传统技术开关控制的效率偏低的问题，提供一种开关控制电路。

一种开关控制电路，包括依次连接的取样电路，延时电路和执行机构；

所述取样电路的输入端连接受试设备的电压输入端，所述执行机构连接受试设备的开关；

所述取样电路用于对所述受试设备的测试电压信号进行取样，检测所述测试电压信号的相位值，并在所述相位值为目标相位值时，输出控制电平至所述延时电路；

所述延时电路用于对所述控制电平进行延时，并输出至执行机构；其中，所述延时与电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间对应设置，所述电压信号传输时间是测试电压信号从电压输入端传输到受试设备的时间；

所述执行机构用于依据所述控制电平控制所述受试设备的开关的通断。

上述开关控制电路，取样电路，延时电路和执行机构依次连接，取样电路的输入端连接受试设备的电压输入端，执行机构连接受试设备的开关，取样电路对所述受试设备的测试电压信号的相位值进行取样，检测测试电压信号的相位值，在所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，输出控制电平至所述延时电路，延时电路对所述控制电平进行延时并输出至执行机构，执行机构依据所述控制电平控制所述受试设备的开关的通断。该方案使得受试设备的开关受到延迟的控制电平的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部信号导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。

在一个实施例中，所述取样电路包括：电压幅度检测电路、电压边沿检测电路和第一电压比较电路；

所述第一电压比较电路的输入端分别连接至所述电压幅度检测电路和电压边沿检测电路的输出端，所述第一电压比较电路的输出端连接所述延时电路；

所述电压幅度检测电路和电压边沿检测电路的电压输入端连接所述受试设备的电压输入端；

所述电压幅度检测电路用于检测所述测试电压信号的电压幅值，并在所述电压幅值为目标电压幅值时，输出第一子控制电平至第一电压比较电路；

所述电压边沿检测电路用于检测所述测试电压信号的边沿位置，并在所述边沿位置为目标边沿位置时，输出第二子控制电平至第一电压比较电路；

所述第一电压比较电路用于接收所述第一子控制电平和第二子控制电平，并在接收所述第一子控制电平和第二子控制电平时输出控制电平至延时电路。

在一个实施例中，所述目标相位值为零相位；

所述电压幅度检测电路为过零电压检测电路，所述电压边沿检测电路为上升沿检测电路；

所述电压幅度检测电路用于检测测试电压信号的电压幅值，并在所述电压幅值为过零电压值时，输出第一高电平至所述第一电压比较电路；

所述电压边沿检测电路用于检测测试电压信号的边沿位置，并在所述边沿位置为上升沿位置时，输出第二高电平至所述第一电压比较电路；

所述第一电压比较电路用于接收所述第一高电平和第二高电平，并在接收到所述第一高电平和第二高电平时输出控制电平至延时电路。

在一个实施例中，所述开关控制电路还包括连接在取样电路和延时电路之间的电压保持电路，用于对所述检测单元输出的控制电平进行电压自锁并将该控制电平输出至延时电路。

在一个实施例中，所述过零电压检测电路包括第二电压比较电路；

所述第二电压比较电路的同相输入端连接所述受试设备的电压输入端；所述第二电压比较电路的反相输入端连接参考电压源；

所述第二电压比较电路用于检测同相输入端和反相输入端的电压，并在同相输入端与反相输入端的输入电压相等时，输出第一高电平至所述第一电压比较电路。

在一个实施例中，所述上升沿检测电路包括第三电压比较电路和移相网络；

所述第三电压比较电路的输入端通过移相网络连接取样电路，所述第三电压比较电路的输出端连接第一电压比较电路；

所述移相网络用于将所述第三电压比较电路的同相输入端的输入电压滞后于反相输入端的输入电压信号；

所述第三电压比较电路用于检测输入至同相输入端和反相输入端的输入电压，并在同相输入端的输入电压大于反相输入端的输入电压时，输出第二高电平至所述第一电压比较电路。

在一个实施例中，所述移相网络包括RC滞后型移相电路。

在一个实施例中，所述RC滞后型移相电路包括串联的移相电阻和移相电容；

所述串联的移相电阻和移相电容连接所述受试设备的电压输入端，对测试电压信号进行取样；

所述移相电容并联至所述第三电压比较器的反相输入端，将滞后的测试电压信号输入到第二电压比较器。

在一个实施例中，所述延时电路为RC延时电路。

在一个实施例中，提供一种测试设备，该测试设备包括如上所述的开关控制电路、测试电压源、线路阻抗稳定网络、示波器和连接所述线路阻抗稳定网络的负载电阻；

所述测试电压源通过线路阻抗稳定网络连接受试设备的电压输入端口，向受试设备输入测试电压信号；

所述示波器连接受试设备的电压输入端口，检测受试设备对测试电压信号的响应；

所述开关控制电路连接受试设备的电压输入端口和受试设备的开关，对受试设备的测试电压信号取样和检测，控制受试设备的开关的通断。

附图说明

图1为一个实施例中的开关控制电路的结构示意图；

图2为一个实施例中的电压保持电路的连接示意图；

图3为一个实施例中的电路结构的示意图；

图4为一个实施例中的取样电路的结构示意图；

图5为一个实施例中的延时电路的示意图；

图6为一个实施例中的延时原理的示意图；

图7为一个实施例中的测试设备的结构示意图；

图8为一个实施例中的执行机构的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的开关控制电路的具体实施方式进行详细说明。

在一个实施例中，提供一种开关控制电路，参考图1所述，图1为一个实施例中的开关控制电路的结构示意图，该电路可以包括依次连接的取样电路110，延时电路和执行机构；

所述取样电路110的输入端连接受试设备的电压输入端，所述执行机构130连接受试设备的开关；

所述取样电路110用于对所述受试设备的测试电压信号进行取样，检测所述测试电压信号的相位值，并在所述相位值为目标相位值时，输出控制电平至所述延时电路120；

所述延时电路120用于对所述控制电平进行延时，并输出至执行机构130；其中，所述延时与电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间对应设置，所述电压信号传输时间是测试电压信号从电压输入端传输到受试设备的时间；

所述执行机构130用于依据所述控制电平控制所述受试设备的开关的通断。

在本实施例中，测试电压信号是指在受试设备被测试时，测试电压源向受试设备的电压输入端口输入的测试电压信号，测试电压信号可以包括正弦波、方波或三角波等波形的电压信号。

取样电路110与受试设备的电压输入端连接，对受试设备的电压输入端的测试电压信号进行取样，可以获取测试电压信号的电压幅值、相位值、频率或周期等信息，其中，测试电压信号的相位值的取值范围是从0度到360度，不同的相位取值可以对应测试电压信号不同的波形位置，以正弦波信号为例，相位值为0度对应正弦波信号的零值，90度对应电压信号的谷值，270度对应电压信号的峰值。

取样电路110对测试电压信号的相位值进行检测，当测试电压信号的相位值为目标相位值时，输出控制电平至所述延时电路120。目标相位值可以根据实际情况进行设置为0度到360度中任一相位角度，例如将目标相位值设置为0度，即当检测到测试电压的相位值为0度时，输出控制电平，实现在测试电压信号的任意波形位置处输出控制电平。

延时电路120接收取样电路110输出的控制电平，对控制电平进行延时并输出至执行机构130。由于测试电压信号从测试电压信号的电压输入端口传输到受试设备需要一段的时间，而且受试设备的开关进行通断时也存在一定的响应延迟，所以该延时是依据电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间进行对应设置的，以保证测试电压信号到达受试设备时受试设备的开关被准确触发。

执行机构130接收延时电路120发送的控制电平，并依据该控制电平控制受试设备的开关的通断。执行机构130用于执行控制受试设备的开关操作，根据延迟输出的控制电平对受试设备的开关进行控制，使得该受试设备能够准确地在测试电压信号的任一波形位置到达受试设备时进行开关。

上述开关控制电路，取样电路110，延时电路120和执行机构130依次连接，取样电路110的输入端连接受试设备的电压输入端，执行机构130连接受试设备的开关，取样电路110对所述受试设备的测试电压信号的相位值进行取样，检测测试电压信号的相位值，在所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，输出控制电平至所述延时电路120，延时电路120对所述控制电平进行延时并输出至执行机构130，执行机构130依据所述控制电平控制所述受试设备的开关的通断。该方案使得受试设备的开关受到延迟的控制电平的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部信号导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。

在一个实施例中，参考图2，图2为一个实施例中的电压保持电路的连接示意图，所述开关控制电路还包括连接在取样电路110和延时电路120之间的电压保持电路140，用于对所述检测单元输出的控制电平进行电压自锁并输出至延时电路120。

本实施例主要是通过连接在取样电路110和延时电路120之间的电压保持电路140，实现对控制电平进行电压自锁，在一定时间内保持控制电平的稳定性。

具体的，参考图3，图3为一个实施例中的电路结构的示意图，可以采用如图3所示的电压保持电路140，该电压保持电路140采用信号保持运放IC4，例如SF357，基于信号保持运放IC4可以实现对控制电平信号的电压自锁，不随前端输入电压变化而变化。

例如当前端电路输入的高电平并通过电阻R9输入至IC4时，IC4保持住该电平并且使之不随前端电路输出的电平的变化而变化，就可以实现电压的锁定，不论前端的电压如何变化，可以较长时间保持端口1输出的控制电平至延时电路120，从而实现了控制电平的保持。

在一个实施例中，如图4所示，图4为一个实施例中的取样电路的结构示意图，该开关控制电路的取样电路110可以包括：电压幅度检测电路111、电压边沿检测电路112和第一电压比较电路113；

所述第一电压比较电路113的输入端分别连接至所述电压幅度检测电路111和电压边沿检测电路112的输出端，所述第一电压比较电路113的输出端连接所述延时电路120；

所述电压幅度检测电路111和电压边沿检测电路112的电压输入端连接所述受试设备的电压输入端；

所述电压幅度检测电路111用于检测所述测试电压信号的电压幅值，并在所述电压幅值为目标电压幅值时，输出第一子控制电平至第一电压比较电路113；

所述电压边沿检测电路112用于检测所述测试电压信号的边沿位置，并在所述边沿位置为目标边沿位置时，输出第二子控制电平至第一电压比较电路113；

所述第一电压比较电路113用于接收所述第一子控制电平和第二子控制电平，并在接收所述第一子控制电平和第二子控制电平时输出控制电平至延时电路120。

本实施例主要是通过电压幅度检测电路111检测测试电压信号的幅值，通过电压边沿检测电路112检测信号的边沿位置，在检测到目标电压幅值和目标边沿位置时实现目标相位值的检测，通过第一电压比较电路113输出控制电平至延时电路120。

以正弦信号为例，电压信号的幅值大小是指正弦波信号的峰值与谷值之间的电压取值，信号波形的边沿位置是指正弦电压信号的上升沿或下降沿位置，通过对幅值大小和边沿位置的检测，可以准确检测电压信号的相位值以及与相位值相对应的电压信号的波形位置。

具体的，电压幅度检测电路111连接受试设备的电压输入端，对测试电压信号进行取样，检测测试电压信号的电压幅值，输出电平信号到第一电压比较电路113的输入端，在检测到测试电压信号的电压幅值为目标电压幅值时，电压幅度检测电路111输出第一子控制电平至第一电压比较电路113。

电压边沿检测电路112连接受试设备的电压输入端，对测试电压信号进行取样，检测测试电压信号的边沿位置，其中，边沿位置是指电压信号的上升沿或下降沿位置，电压边沿检测电路112输出电平信号至第一电压比较电路113的电压输入端，在测试电压信号的边沿位置为目标边沿位置时，输出第二子控制电平至第一电压比较电路113。

第一电压比较电路113可以通过同相输入端接收电压幅度检测电路111输出的电平信号，通过反相输入端接收电压边沿检测电路112输出的电平信号，在接收到电压幅度检测电路111输入的第一子控制电平，以及电压边沿检测电路112输入的第二子控制电平时，输出控制电平至延时电路120。

在一个实施例中，上述目标相位值可以是零相位；

所述电压幅度检测电路111为过零电压检测电路，所述电压边沿检测电路112为上升沿检测电路；

所述电压幅度检测电路111用于检测测试电压信号的电压幅值，并在所述电压幅值为过零电压值时，输出第一高电平至所述第一电压比较电路113；

所述电压边沿检测电路112用于检测测试电压信号的边沿位置，并在所述边沿位置为上升沿位置时，输出第二高电平至所述第一电压比较电路113；

所述第一电压比较电路113用于接收所述第一高电平和第二高电平，并在接收到所述第一高电平和第二高电平时输出控制电平至延时电路120。

在本实施例中，零相位是指电压信号的相位角取值为0度，过零电压值指是指测试电压信号的信号波形从正半周向负半周转换的时候经过电压零点时的电压值，若检测到测试电压信号的幅值为测试电压信号的过零电压值，并且检测到测试电压信号处于上升沿位置，则判断测试电压信号处于零相位，该电压信号对应的相位角取值为0度。可以理解，若检测到测试电压信号的幅值为测试电压信号的过零电压值但检测到测试电压信号处于下降沿位置，则判断测试电压信号的相位角取值为180度。

具体的，过零电压检测电路对测试电压信号的过零电压值进行检测，当电压幅值为过零电压值时，输出高电平信号至第一电压比较电路113的电压输入端。

上升沿检测电路对测试电压信号的上升沿位置进行检测，当边沿位置为上升沿位置时，输出高电平信号至所述第一电压比较电路113的电压输入端。

参考图3，图3为一个实施例中的电路结构的示意图，第一电压比较电路113可以是具有同相输入端和反相输入端的电压比较器IC3，IC3的两个输入端口分别通过二极管D2和二极管D3接入输入的电压信号，通过二极管D2连接过零电压检测电路的电压输出端，通过二极管D3连接电压边沿检测电路112的电压输出端，当电压比较器IC3的两个电压输入端口同时接收到过零电压检测电路和电压边沿检测电路112输出的高电平信号时，可以通过连接在IC3电压输出端的二极管D4输出控制电平至延时电路120，该控制电平一般是高电平。

在一个实施例中，过零电压检测电路包括第二电压比较电路；

所述第二电压比较电路的同相输入端连接所述受试设备的电压输入端；

所述第二电压比较电路的反相输入端连接参考电压源；

所述第二电压比较电路用于检测同相输入端和反相输入端的电压，并在所述第二电压比较电路的同相输入端与反相输入端的输入电压相等时，输出第一高电平至所述第一电压比较电路113。

在本实施例中，参考电压源是为第二比较电路的反相输入端提供参考电压值的电压源，该参考电压值可以是测试电压信号的过零电压值。

参考图3，图3为一个实施例中的电路结构的示意图，参考电压源可以是5V的电压源，通过分压电阻R4和R5将参考电压值输入至第二电压比较电路的反相输入端。其中，该第二电压比较电路可以采用电压比较器IC1，第二电压比较电路的同相输入端连接受试设备的电压输入端，对输入的测试电压信号进行取样，将测试电压信号的幅值与反相输入端的参考电压进行比较，当同相输入端和反相输入端的电压相等时，说明此时测试电压信号的幅值为过零电压值，输出高电平至所述第一电压比较电路113，该高电平一般采用电压值为5V的电平信号。

在一个实施例中，上升沿检测电路包括第三电压比较电路和移相网络；所述第三电压比较电路的输入端通过移相网络连接取样电路110，所述第三电压比较电路的输出端连接第一电压比较电路113；

所述移相网络用于将所述第三电压比较电路的同相输入端的输入电压滞后于反相输入端的输入电压信号；所述第三电压比较电路用于检测输入至同相输入端和反相输入端的输入电压，并在同相输入端的输入电压大于反相输入端的输入电压时，输出第二高电平至所述第一电压比较电路113。

在本实施例中，所述第三电压比较电路和移相网络用于判断测试电压信号是否处于上升沿位置，第三电压比较电路可以采用电压比较器IC2，例如LM393。

电压比较器IC2的两个电压输入端口通过移相网络接入受试设备的测试电压信号，该移相网络使输入至电压比较器IC2的电压虽然都取自测试电压信号，但由于移相作用使得其中一个输入端口的输入电压滞后于另一输入端口的输入电压，使得当电压比较器IC2的同相输入端的输入电压大于反相输入端的输入电压时，可以确定测试电压信号正处于上升沿位置，并通过电压比较器IC2的输出端口输出高电平至第一电压比较电路113，实现对上升沿位置的检测。

在一个实施例中，移相网络可以包括RC滞后型移相电路；该RC滞后型移相电路可以设置在所述受试设备的电压输入端和第三电压比较电路的反相输入端之间的RC滞后型移相电路。

在本实施例中，第三电压比较电路的同相输入端可以通过电阻R7接入测试电压信号，第三电压比较电路的反相输入端通过RC滞后型移相电路接入测试电压信号。

RC滞后型移相电路使得第三电压比较电路的反相输入端的输入电压滞后于同相输入端的电压，当同相输入端的电压幅值高于反相输入端的电压幅值时，第三电压比较电路输出高电平至第一电压比较电路113。

在一个实施例中，RC滞后型移相电路可以包括串联的移相电阻R8和移相电容C1；所述串联的移相电阻R8和移相电容C1连接所述受试设备的电压输入端，对测试电压信号进行取样；

所述移相电容C1并联至所述第三电压比较器的反相输入端，将滞后的测试电压信号输入到第二电压比较器的反相输入端。

在一个实施例中，开关控制电路还包括设置在受试设备的电压输入端和取样电路110之间的分压电路150。分压电路150对测试电压信号进行分压，避免测试电压信号过高而导致开关控制电路损坏。

具体的，参考图3，图3为一个实施例中的电路结构的示意图，上述分压电路150可以采用如图3所示的分压电路150，可以包括电阻R1、电阻R2、电阻R3和二极管D1；其中，R1和R2的作用是构成分压输入端，R3将分压输出的测试电压信号输入至取样电路110。

在一个实施例中，所述延时电路120为RC延时电路。

RC延时电路通过电阻电容的延时作用，通过调节电阻和电容的数值设置延迟时间对控制电平进行延时。

具体的，参考图5，图5为一个实施例中的延时电路的示意图，可以采用图5所示的RC延时电路对控制电平进行延时。其中，可调电阻R11，电阻R12和电容C2依次串联，电容C2通过电阻R11并联至三极管Q1的基极和发射极，所述三极管Q1的集电极连接有并联的电磁开关J1和二极管D5，用于输出延时的控制电平。

在实际使用中，可以通过调节可调电阻R11对RC延时电路的延时进行设置，对端口1输入的控制电平进行延时，在延迟时间达到时，电磁开关J1的端口2和端口3输出延时后的控制电平至执行机构130。

上述实施例的方案实现了对延时的调节以及控制电平的输出，提高了开关控制的准确性和效率。

下面通过一个具体实例阐明本发明的开关控制电路的基本工作原理，参考图6，图6为一个实施例中的延时原理的示意图。

该开关控制电路的基本原理为：通过取样电路110对测试电压信号进行取样检测，在检测到目标相位值时，输出一个控制电平信号，可以以输出控制电平信号的时间作为延时电路120的参考时间起点，延时电路120是一个可调延时电路120，通过调整延时时间，使得执行机构130可以在可控的时间内发生动作控制受试设备开关的通断。

如果取样电路110取到了测试电压信号的零相位，那么可以以零相位作为参考时间起点，通过延时电路120的延时控制，可以使得执行机构130的开关动作发生在可控的n个周期T后的任意相位角度，其中，n为自然数，T表示测试电压信号的周期。

其中，延时电路120的延时t4可以根据电压信号传输时间t2以及受试设备的开关响应时间t3进行调节，以满足：t4＝t1+t2+t3+n*T，其中t4表示延时电路120的延时，t1表示参考时间起点，t2表示电压信号传输时间，t3表示受试设备的开关响应时间，n*T表示测试电压信号的n个周期T的时间，n可以取零。

以50Hz的正弦波信号为例，若想使执行机构130的动作发生在测试电压信号的90度时，那么可以首先将该频率转化为周期，也就是周期为20ms，那么一个周期为20ms，当取样电路110取样的相位角度为0度时，以此时为参考时间起点t1，设置t2和t3，调节延时电路120的延时t4，使得执行机构130的动作可以在n个20ms加5ms的时间后触发，其中90度对应1/4周期即5ms。

上述方案可以很准确地使执行机构130在测试电压信号的相位角为90度时触发受试设备的开关，实现对受试设备开关的准确控制。可以理解，采用该开关控制电路，也可以使受试设备的开关在其他相位角取值时被触发。

在一个实施例中，提供一种测试设备，该设备可以包括如上任意一个实施例所述的开关控制电路、测试电压源、线路阻抗稳定网络、示波器以及连接所述线路阻抗稳定网络的负载；

所述测试电压源通过线路阻抗稳定网络连接受试设备的电压输入端口，向受试设备输入测试电压信号；

所述示波器连接受试设备的电压输入端口，检测受试设备对测试电压信号的响应；

所述开关控制电路连接受试设备的电压输入端口和受试设备的开关，对受试设备的测试电压信号进行取样和检测，控制受试设备的开关的通断。

以电磁兼容中脉冲瞬态干扰试验的测试设备为例，参考图7，图7为一个实施例中的测试设备的结构示意图，该设备包括：测试电压源和受试设备，该测试电压源通过LISN(Line Impedance Stabilization Network，线路阻抗稳定网络)将测试电压输入至受试设备的电压输入端口，连接LISN的50欧姆负载以及连接受试设备的电压输入端口的示波器，该示波器可以是高阻态的示波器。

开关控制电路可以通过取样电路110连接受试设备的电压输入端口，并通过执行机构130连接受试设备的开关。

在进行测试时，开关控制电路通过取样电路110对受试设备的电压输入端口的测试电压信号进行取样，对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到相位值为目标相位值的时候，输出控制电平到延时电路120，延时电路120将控制电平进行延时，执行机构130依据延时的控制电平控制受试设备的开关的通断。

参考图8，图8为一个实施例中的执行机构的结构示意图，针对不同的受试设备，可以采用不同的执行机构130控制受试设备的开关。

如图8(a)所示，对于设有物理开关的受试设备，执行机构130可以是具有执行部件的执行机构130，该执行机构130接收控制电平后，触发执行部件发生动作拨动受试设备的开关，实现控制受试设备的开关进行通断。

如图8(b)所示，受试设备也可以是受脉冲信号控制的设备，可以采用具有同步功能的执行机构130，例如采用信号触发脉冲发生器等，该执行机构130接收到控制电平后，同步输出脉冲信号至受试设备实现开关的控制。

如图8(c)所示，受试设备还可以是连接信号触发脉冲发生器的受试设备，而信号触发脉冲发生器上一般设有物理开关，可以采用具有执行部件的执行机构130通过控制信号触发脉冲发生器的物理开关从而对受试设备的开关进行控制。

上述实施例提供的技术方案使得受试设备在进行瞬态干扰试验时能够在测试电压信号的峰值、谷值或零值处进行准确的开关通断，提高开关控制效率，也提高了瞬态干扰试验的测试效率。可以理解，该技术方案还可以应用于CS106，CS115，CS116或电源中断等试验当中。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。