本实用新型涉及加速度传感器领域,尤其涉及一种兼容高低电平自检的加速度传感器。
背景技术:
在加速度传感器被安装到某一设备上之后,用户需要定期检查加速度传感器的工作状态。
大部分的加速度传感器都具有自检功能,在自检端输入定义的信号,加速度传感器就会输出自检信号。一般情况下,定义触发自检的电平是固定的,无法改变,而不同的客户会需要不同的触发电平。
所以,本实用新型提出一种兼容高低电平自检的加速度传感器。
技术实现要素:
本实用新型所要解决的技术问题是,提供一种兼容高低电平自检的加速度传感器,能够被高电平或者低电平触发自检。
为了解决上述问题,本实用新型提供了一种兼容高低电平自检的加速度传感器,包括:传感器芯片;高电平自检模块,与所述传感器芯片相连,用于将高电平信号转化为触发信号,触发所述传感器芯片自检;低电平自检模块,与所述传感器芯片相连,用于将低电平信号转化为触发信号,触发所述传感器芯片自检。
可选的,还包括:信号输出模块,所述信号输出模块与所述传感器芯片相连,用于输出所述传感器芯片自检后的输出信号。
可选的,所述信号输出模块包括:运算放大器和第一电容,所述第一电容的第一端与所述运算放大器的正输入端相连,第二端接地,所述运算放大器的输出端与所述运算放大器的负输入端相连。
可选的,所述传感器芯片包括电源端、信号输出端、以及自检信号输入端,所述传感器芯片的信号输出端与所述运算放大器的正输入端相连。
可选的,所述高电平自检模块包括第一电阻、第二电阻、第二电容、以及二极管,所述第一电阻的第一端与所述二极管的负极相连,第二端与所述二极管的正极相连,所述第二电容的第一端与所述第一电阻的第一端相连,第二端与所述第一电阻的第二端相连,所述第二电容的第二端接地,所述第二电阻的第一端与所述第二电容的第一端相连。
可选的,所述低电平自检功能模块包括:第三电阻、第四电阻、第五电阻、第三电容、以及晶体管,所述第三电阻的第一端与所述晶体管的源极相连,与所述二极管的负极相连,以及与所述传感器芯片自检信号输入端相连,第二端与所述传感器芯片的电源端相连,所述第四电阻的第一端与所述晶体管的栅极相连,第二端与所述第三电阻的第二端相连,所述第三电容的第一端与所述第四电阻的第一端相连,第二端与所述第四电阻的第二端相连,所述第五电阻的第一端与所述第三电容的第一端相连,第二端与所述第二电阻的第二端相连,所述晶体管的漏极接地。
可选的,所述高电平自检模块和低电平自检模块的信号输入端相连,所述信号输入端与所述第二电阻的第二端相连,所述高电平自检模块和低电平自检模块的信号输出端相连,并且所述信号输出端与所述传感器芯片的自检信号输入端相连。
本实用新型的兼容高低电平自检的加速度传感器,通过将高电平自检模块和低电平自检模块连接,并将所述高电平自检模块和低电平自检模块的输入端与所述传感器芯片的自检信号输入端连接,使得所述加速度传感器既能被高电平信号触发自检,又能被低电平信号触发自检。
附图说明
图1为本实用新型一具体实施方式的兼容高低电平自检的加速度传感器的模块图;
图2为本实用新型一具体实施方式的兼容高低电平自检的加速度传感器的电路示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型提供的兼容高低电平自检的加速度传感器的具体实施方式做详细说明。
请参考图1,为本实用新型一具体实施方式的兼容高低电平自检的加速度传感器的模块图。
所述兼容高低电平自检的加速度传感器包括:传感器芯片103;高电平自检模块101,与所述传感器芯片103相连;低电平自检模块102,与所述高电平自检功能模块101和所述传感器芯片103相连。
在该具体实施方式中,所述传感器芯片103为加速度传感器芯片,所述高电平自检模块101用于将高电平信号转化为触发信号,触发所述传感器芯片103自检,所述低电平自检模块102用于将低电平信号转化为触发信号,触发所述传感器芯片103自检。从而使得所述加速度传感器能够在高电平或低电平的激励下均能触发自检,可以满足更多用户的需要。
在另一具体实施方式中,所述加速度传感器还包括信号输出模块,所述信号输出模块与所述传感器芯片相连,用于输出所述传感器芯片自检后的输出信号。
请参考图2,为本实用新型一具体实施方式的兼容高低电平自检的加速度传感器的电路示意图。
所述传感器芯片U2包括电源端Vdd、自检信号输入端ST、信号输出端Vmux、以及接地端GND等,用于接收自检信号以及输出自检结果等。在其他具体实施方式中,可以根据实际需求,选择其他型号的具有合适功能的传感器芯片。
所述高电平自检模块201包括二极管D1、第一电阻R1、第二电容C2、第二电阻R2,所述第一电阻R1的第一端与所述二极管D1的负极相连,第二端与所述二极管D1的正极相连,所述第二电容C2的第一端与所述第一电阻R1的第一端相连,第二端与所述第一电阻R1的第二端相连,所述第二电容C2的第二端接地,所述第二电阻R2的第一端与所述第二电容C2的第一端相连。
所述低电平自检模块202包括第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第三电容C3、以及晶体管Q1,所述第三电阻R3的第一端与所述晶体管Q1的源极相连,与所述二极管D1的负极相连,以及与所述传感器芯片U2的自检信号输入端ST相连,第二端与所述传感器芯片U2的电源端Vdd相连,所述第四电阻R4的第一端与所述晶体管Q1的栅极相连,第二端与所述第三电阻R3的第二端相连,所述第三电容C3的第一端与所述第四电阻R4的第一端相连,第二端与所述第四电阻R4的第二端相连,所述第五电阻R5的第一端与所述第三电容C3的第一端相连,第二端与所述第二电阻R2的第二端相连,所述晶体管Q1的漏极接地。
在本具体实施方式中,所述高电平自检模块201和低电平自检模块202具有共同的输入端204和输出端205,两者的输入端204相连,两者的输出端205相连,所述输出端205与所述第二电阻R2的第二端和所述第五电阻R5的第二端相连,并且两者的输出端205同时接入所述传感器芯片U2的自检信号输入端ST。在其他具体实施方式中,所述高电平自检模块201和低电平自检模块202还可以具有单独的输入端。
电平信号从输入端204进入,经过高电平自检模块201和低电平自检模块202的相互配合工作,转变为触发信号输入传感器芯片U2的自检信号输入端ST,触发所述传感器芯片U2自检。当输入端204输入高电平时,所述二极管D1的负极为高电平,低电平自检模块202中晶体管Q1导通接地,所述输出端205的电压与二极管D1负极的电压一致,为高电平,输出至传感器芯片U2,触发所述传感器芯片U2自检。当输入端204输入低电平时,所述低电平自检模块202中晶体管Q1断开,由于第三电阻R3连接至电源端Vdd,所以所述输出端205电压与第三电阻R3的第一端电压相同,为高电平,从而触发所述传感器芯片U2自检。
高电平通过高电平自检模块201,低电平通过低电平自检模块202,将自检信号传送到所述传感器芯片U2,这种连接方式,能够智能的处理电平信号,不论输入的是高电平还是低电平,都可以触发传感器芯片U2自检,更为方便。
具体的,所述高电平自检模块201中的第一电阻R1和二极管D1用于限制输入的电压,防止高压损坏接口,所述第二电阻R2为下拉电阻,用于确保悬空时不会触发自检,所述第二电容C2用于去除高频干扰,防止误触发。
所述低电平自检模块202中的第五电阻R5用于限制输入电流,防止损坏接口,第四电阻R4为下拉电阻,用于确保悬空时不会触发自检,所述晶体管Q1用于使电平反向,所述第三电阻R3用于为晶体管Q1提供静态偏置电流。
在其他具体实施方式中,所述高电平自检模块201和低电平自检模块202可以分别具有各自的输入端,高电平从所述高电平自检模块201的输入端进入,通过所述高电平自检模块201触发传感器芯片U2自检,低电平从所述低电平自检模块202的输入端进入,通过所述低电平自检模块202触发传感器芯片U2自检。
所述兼容高低电平自检的加速度传感器还包括信号输出模块203,所述信号输出模块203包括运算放大器U1和第一电容C1,所述第一电容C1的第一端与所述运算放大器U1的正输入端相连,第二端接地,所述运算放大器U1的输出端与所述运算放大器U1的负输入端相连。
所述信号输出模块203用于接收所述传感器芯片U2的自检结果,并将自检结果输出。
所述传感器芯片U2的信号输出端Vmux与所述信号输出模块203中的运算放大器U1的正输入端相连。自检信号通过信号输出端Vmux传到信号输出模块203中,由所述信号输出模块203输出。
本实用新型的兼容高低电平自检的加速度传感器,通过将高电平自检模块201和低电平自检模块202连接,并将所述高电平自检模块201和低电平自检模块202的输入端204与所述传感器芯片U2的自检信号输入端ST连接,使得所述加速度传感器既能被高电平信号触发自检,又能被低电平信号触发自检。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。