一种高频测试插座的制作方法

本发明涉及一种测试插座，尤其是涉及一种高频测试插座。

背景技术：

随着芯片信号传递速度越来越快，对芯片测试用的测试插座要求也越来越高；传统测试插座用的探针结构已经不能满足更高频率的传输要求；需要一种特殊结构的测试插座来实现更高频率的传输要求。

现在有探针插座在信号传输过程中，由于探针自身的感抗，容抗比较高，无法实现对高频信号的传输要求。

技术实现要素：

本发明的目的是解决上述提出的问题，提供一种结构简单、提高对高频信号的输送的一种高频测试插座。

本发明的目的是以如下方式实现的：一种高频测试插座，具有测试座主体，所述测试座主体内设有高频探针，所述高频探针为两头具有弯曲结构，所述高频探针的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触。

上述的一种高频测试插座，所述高频探针由弹簧丝绕成。

上述的一种高频测试插座，所述测试座主体通过销子定位和螺丝固定在导向框。

上述的一种高频测试插座，所述测试座主体的背面固定在PCB板上。

本发明的优点：高频探针组装在测试座主体里，高频探针经过变形组装到测试座主体里，高频探针的一段与芯片接触，另一端与PCB接触，从而实现高频信号的传递；由于这种高频探针的结构有别于传统的探针，这种高频探针传输是通过弹簧丝传递的，与其它传统探针相比，减少了传输环节，因此具有稳定的容抗和感抗。

附图说明

为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中

图1是本发明的结构示意图；

图2是实际运用示意图。

具体实施方式：

见图1所示，一种高频测试插座，具有测试座主体2，所述测试座主体2内设有高频探针3，所述高频探针3为两头具有弯曲结构，所述高频探针3的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触。所述高频探针3由弹簧丝绕成。所述测试座主体2通过销子定位和螺丝固定在导向框1。所述测试座主体2的背面固定在PCB板上。

以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。