一种开入开出模件自动化测试装置的制作方法

本实用新型属于工业自动化技术领域，具体涉及的是一种开入开出模件自动化测试装置。

背景技术：

在自动化控制领域，开入开出的使用非常普遍，大部分的自动化装置都包含若干块开入开出模件。现有技术中，为了测试开入开出模件上的各类接口的有效性，需要人工使用信号源、示波器对开出模件上的接口进行逐一测试。人工测试存在测试效率低、误差大的缺陷，因此有必要开发一种新型的开入开出模件的自动化测试装置。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本实用新型一方面提供了一种开入开出模件自动化测试装置，其技术方案如下：

一种开入开出模件自动化测试装置，其特征在于，其包括主控芯片及与所述主控芯片连接的以太网通讯芯片及继电器，所述主控芯片上连接有多路DO接口、多路DI接口和至少一路UART接口，所述以太网通讯芯片上设有至少一路以太网网口；所述以太网网口用于连接上位PC机，所述DO接口用于输出开出信号至待测试的开入开出模件，所述DI接口用于接收来自待测试的开入开出模件的开出信号，所述UART接口用于连接所述待测试的开入开出模件并实现与所述待测试的开入开出模件的信息交互。

在一个具体实施例中，其还包括有多个LED指示灯，所述LED指示灯均连接至所述主控芯片。

在一个具体实施例中，所述主控芯片上连接有10路DO接口，10路DI接口和1路UART接口，所述LED指示灯的设置数目为20个，20个所述LED指示灯与所述10路DO接口和所述10路DI接口一一对应。

在一个具体实施例中，所述主控芯片上设有多个RMII接口和多个IO接口，所述以太网通讯芯片经所述RMII接口连接至所述主控芯片，所述LED指示灯及所述继电器经所述IO接口连接至所述主控芯片。

在一个具体实施例中，所述主控芯片采用型号为STM32F429的主控芯片，所述以太网通讯芯片采用型号为LAN8720的以太网通讯芯片。

与现有技术相比，本实用新型能够实现对开入开出模件的自动化测试，其有效地提升了测试效率，并降低了测试误差。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本实用新型的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。

图1为本实用新型提供的开入开出模件自动化测试装置在一个具体实施例中的系统框架图；

图2是图1中的开入开出模件自动化测试装置的测试连线图。

具体实施方式

在一个具体实施例中，待测试的开入开出模件包括10个DI接口和10个DO接口，需要对其10个DI接口和10个DO接口进行开入及开出测试。

请参考图1所示，本实施例中，本实用新型提供的开入开出模件自动化测试装置100包括主控芯片1及与所述主控芯片1连接的以太网通讯芯片2及继电器3。

所述主控芯片1上连接有10路DO接口、10路DI接口及1路UART接口。10路DO接口分别记为DO1、DO2、…、DO10，10路DI接口分别记为DI1、DI2、…、DI10。其中：10路DO接口与待测试的开入开出模件的10个DI接口一一对应，用于输出开出信号至所述待测试的开入开出模件；10路DI接口与所述待测试的开入开出模件的10个DO接口一一对应，用于接收来自所述待测试的开入开出模件的开出信号，而所述UART接口用于连接待测试的开入开出模件并实现与所述开入开出模件的信息交互。

当所述开入开出模件自动化测试装置100的DI接口接收到来自所述待测试的开入开出模件的开出信号，所述继电器3吸合，主控芯片1记录所述开出信号并进行比较运算。

本实施例中，所述开入开出模件自动化测试装置上还设置有20个与所述主控芯片1的LED指示灯，分别记为LED1、LED2、…、LED20。所述20个LED指示灯与所述10路DO接口和所述10路DI接口一一对应，其提供相应的指示作用，当某路DO接口或DI接口被测试时，相应的LED指示灯被点亮。

本实施例中，所述主控芯片1采用型号为STM32F429的主控芯片，所述以太网通讯芯片2采用型号为LAN8720A的以太网通讯芯片。

所述主控芯片1上包括有丰富的RMII接口和IO接口，所述以太网通讯芯片2经RMII接口连接至所述主控芯片1，所述LED指示灯10均经IO接口连接至所述主控芯片。主控芯片1的10路DO接口、10路DI及UART接口均由其上的IO接口拓展开出。

所述以太网通讯芯片2上设有一路以太网网口21，所述以太网网口21用于连接上位PC机。所述上位机PC经所述太网通讯芯片2与所述主控芯片1实现交互通讯。

请参考图2所示，本实施例提供的开入开出模件自动化测试装置的具体使用方法如下：

1)将测试装置100的10路DO接口经排线对应连接至待测试的开入开出模件300的10路DI接口，将测试装置100的10路DI接口经排线对应连接至待测试的开入开出模件300的10路DO接口，将测试装置100的UART接口经导线连接至待测试的开入开出模件300的UART接口；

2)上位PC机200发送测试命令，测试装置100启动测试；

3)对待测试的开入开出模件300的10路DI接口进行测试：测试装置100的10路DO接口依次输出开出信号(高电平)，待测试的开入开出模件300的对应10路DI接口接收对应的开出信号，并将接收到的开出信号作为反馈信号经UART接口反馈给测试装置100的主控芯片1。主控芯片1依次判断其接受到的反馈信号是否与对应的开出信号一致，如果当前反馈信号与对应的开出信号一致则判定对应的待测试的开入开出模件300的DI接口有效，否则判定为失效。

4)对待测试的开入开出模件300的10路DO接口进行测试：PC上位机200生成10位开出信号序列并发送给测试装置100，测试装置100将10位开出信号序列经UART接口传送至待测试的开入开出模件300。基于10位开出信号序列，待测试的开入开出模件300的10路DO接口对应输出10路相应大小的开出信号(高电平)。测试装置100的10路DI接口接收对应的10路开出信号并传送给主控芯片1，主控芯片1依次对比10路开出信号与PC机200生成的10位开出信号序列，如果当前开出信号的大小与开出信号序列对应位的大小一致，则判定其对应的待测试的开入开出模件300的DI接口有效，否则判定为失效。

整个测试过程中，当待测试的开入开出模件200的某路DI接口或DO接口被测试时，其对应的LED指示灯被点亮，以方便用户跟踪测试过程。

与现有技术相比，本实用新型能够实现对开入开出模件的自动化测试，其有效地提升了测试效率，并降低了测试误差。

以上，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。