本实用新型涉及器件高度高精度测试设备技术领域，特别涉及测量仪检测不合格产品的结构。
背景技术：
光电测量技术是利用光纤通信和光电子器件，对处于高电位的各种物理量进行测量和传输的技术。光电测量系统可分为有源系统和无源系统。目前国内光电技术企业内的生产配套仪器设备缺乏，在高度高精度测量这方面主要依靠人工完成，严重影响了产品的精度及生产过程中的效率。
并且在测量过程中存在了如下问题：人工测试精度低、一致性差，并且测试速度慢，严重影响了产品的生产效率。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供测量仪检测不合格产品的结构，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台和千分表，所述测量平台的上方安装有固定件，所述固定件的下方一侧安装有参考点固定部件，所述参考点固定部件的下端安装在测量平台的上表面，所述测量平台上表面在参考点固定部件下端的一侧放置有被测量部件，所述千分表安装在固定件上，并且在所述的参考点固定部件上端的一侧，所述千分表的下端放置在被测量部件的上表面。
优选的，所述测量平台和千分表测针的表面平整度的允许偏差均为0.05毫米。
优选的，所述千分表测针的地平面和测量平台的上表面保持平行。
优选的，所述千分表测针的下端与参考点固定部件的下端之间存在高度差。
优选的，所述参考点固定部件的上端固定安装在固定件的下端一侧。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
1、本实用新型通过将测量平台和千分表测针的表面平整度的允许偏差设置为0.05毫米，有效的保证了测量数据的准确性。
2、本实用新型通过将千分表的测针的地平面设置与测量平台的上表面平行，进一步保证了测量的精度。
3、本实用新型通过在固定件和测量平台之间设置参考点固定部件，并且将千分表的测针下端与参考点固定部件的下端设置一定的高度差，能够快速的进行测试，提高测试的速度，进而提高生产效率。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图。
图中：1-测量平台；2-千分表；3-固定件；4-参考点固定部件；5-被测量部件。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台1和千分表2，所述测量平台1的上方安装有固定件3，所述固定件3的下方一侧安装有参考点固定部件4，所述参考点固定部件4的下端安装在测量平台1的上表面，所述测量平台1上表面在参考点固定部件4下端的一侧放置有被测量部件5，所述千分表2安装在固定件3上，并且在所述的参考点固定部件4上端的一侧，所述千分表2的下端放置在被测量部件5的上表面。
所述测量平台1和千分表2测针的表面平整度的允许偏差均为0.05毫米有效的保证了测量数据的准确性；所述千分表2测针的地平面和测量平台1的上表面保持平行进一步保证了测量的精度；所述千分表2测针的下端与参考点固定部件4的下端之间存在高度差能够快速的进行测量，进而提高生产效率；所述参考点固定部件4的上端固定安装在固定件3的下端一侧。
工作原理：工作时，将被测量部件5放置在测量平台1的上表面，并且放置在参考点固定部件4下端的一侧，将千分表2的测针下端放置在被测两部件5的上表面，通过将千分表2的测针的下端与参考点固定部件4的下端设置高度差进行快速的测量，提高测量的速度，进而提高生产效率，同时通过将测量平台1和千分白表2测针的表面平整度的允许偏差设置为0.05毫米，有效的保证了测量数据的准确性，并且将千分表2的测针的地平面设置为与测量平台1的上表面平行，进一步保证了测量的精度。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。