测量装置及投影测量仪的制作方法

本实用新型涉及测量技术领域，特别涉及一种测量装置及应用该测量装置的投影测量仪。

背景技术：

传统的投影测量仪包括玻璃平台、安装于该玻璃平台的一挡块治具、均设于玻璃平台上方的摄像头和顶部照明装置、及设于玻璃平台下方的底部照明装置。在测量时，将工件放置于玻璃平台上，并使工件的贴紧边紧贴挡块治具的抵挡面，而后，顶部照明装置和底部照明装置均朝工件照射光线，利用摄像头进行自动测量。然而，由于挡块治具为不透光结构，且挡块治具的抵挡面与被测工件的贴紧边紧密接触，阻挡了底部光线向上的照射，造成摄像头自动测量时，被测工件的贴紧边显示为阴影或模糊不清。因此，每次测量工件后都需校正工件，也即需进一步将工件校正翻转90度或180度进行测量其未测量的贴紧边，工件的校正翻转影响了测量精度，也增加了测量时间，降低测量效率。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的是提供一种测量装置，旨在解决传统的测量装置在测量工件时测量精度较低、测量时间较长、测量效率较低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的测量装置，应用于投影测量仪，其特征在于，所述测量装置包括承载平台和设于所述承载平台的挡块治具，所述承载平台具有可透光结构，所述挡块治具具有一抵挡面；

所述抵挡面凹设有若干透光凹槽；

且/或，挡块治具具有可透光结构。

可选地，所述承载平台包括承载基座和固定框，所述承载基座的周缘均搭载于所述固定框。

可选地，所述挡块治具包括固定于所述固定框的固定部，所述固定部的端部凸设有一延伸部，所述延伸部与所述承载基座相对设置，所述延伸部远离所述固定部的一端形成所述抵挡面。

可选地，所述测量装置还包括若干连接件，所述固定部开设有若干安装孔，所述连接件的一端贯穿所述安装孔，并与所述固定框连接，另一端抵接于安装孔的周缘。

可选地，所述抵挡面凹设有若干透光凹槽时，所述透光凹槽的宽度范围为5-10mm；且/或，所述透光凹槽的深度范围为5-15mm。

可选地，所述抵挡面凹设有若干透光凹槽时，所述透光凹槽为“U”形槽、“V”形槽、半圆形槽或梯形槽。

可选地，所述挡块治具形成所述抵挡面的端部的长度范围为150-200mm；且/或，所述挡块治具的厚度范围为15-20mm。

可选地，所述承载基座的材质为透明玻璃、透明塑料或透明水晶。

本实用新型还提出一种投影测量仪，包括如上述的测量装置，所述投影测量仪还包括位于所述承载平台上方的顶部照明装置和位于所述承载平台下方的底部照明装置。

可选地，所述投影测量仪还包括位于所述承载平台上方的摄像头，所述摄像头与所述承载平台相对设置。

本实用新型技术方案中测量装置应用于投影测量仪，测量装置包括承载平台和设于承载平台的挡块治具，承载平台为可透光结构，所述挡块治具具有一抵挡面。所述抵挡面凹设有若干透光凹槽；测量装置测量工件时，将工件放置于承载平台上，并使工件的贴紧边紧贴挡块治具的抵挡面，而后，工件受到来自承载平台上方及下方的光线照射，承载平台下方的光线透过承载平台后，进一步通过透光凹槽穿过挡块治具向上照射，以使工件的贴紧边亮光，而使得工件的贴紧边清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边的尺寸，工件摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

且/或，承载平台为可透光结构；测量装置测量工件时，将工件放置于承载平台上，并使工件的贴紧边紧贴挡块治具的抵挡面，而后，工件受到来自承载平台上方及下方的光线照射，由于挡块治具具有可透光结构，承载平台下方的光线透过承载平台后，进一步穿过挡块治具向上照射，以使工件的贴紧边亮光，而使得工件的贴紧边清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边的尺寸，工件摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型投影测量仪实施例一视角的结构示意图；

图2为本实用新型投影测量仪实施例另一视角的结构示意图；

图3为本实用新型投影测量仪实施例中挡块治具一视角的结构示意图；

图4为本实用新型投影测量仪实施例中挡块治具另一视角的结构示意图；

图5为本实用新型投影测量仪实施例中挡块治具又一视角的结构示意图。

附图标号说明：

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

参见图1至图5，本实用新型实施例中一较佳实施方案的测量装置，应用于投影测量仪100，测量装置包括承载平台10和设于承载平台10的挡块治具20，承载平台10具有可透光结构，挡块治具20具有一抵挡面211；抵挡面211凹设有若干透光凹槽2111。

本实用新型技术方案中测量装置应用于投影测量仪100，测量装置包括承载平台10和设于承载平台10的挡块治具20，挡块治具20具有一抵挡面211，承载平台10为可透光结构，进一步地，承载平台10用于承载工件60，且承载平台10整体为可透光结构，或者承载平台10承载工件60的承载面为可透光结构，测量装置测量工件60时，将工件60放置于承载平台10上，并使工件60的贴紧边61紧贴挡块治具20的抵挡面211，而后，工件60受到来自承载平台10上方及下方的光线照射，承载平台10下方的光线透过承载平台10后，进一步通过透光凹槽2111穿过挡块治具20向上照射，以使工件60的贴紧边61亮光，而使得工件60的贴紧边61清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边61的尺寸，工件60摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件60，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

本实用新型实施例中另一较佳实施方案的测量装置，应用于投影测量仪100，测量装置包括承载平台10和设于承载平台10的挡块治具20，承载平台10具有可透光结构，挡块治具20具有一抵挡面211；挡块治具20具有可透光结构。

本实用新型技术方案中测量装置应用于投影测量仪100，测量装置包括承载平台10和设于承载平台10的挡块治具20，挡块治具20具有一抵挡面211，承载平台10具有可透光结构，进一步地，承载平台10用于承载工件60，且承载平台10整体为可透光结构，或者承载平台10承载工件60的承载面为可透光结构，测量装置测量工件60时，将工件60放置于承载平台10上，并使工件60的贴紧边61紧贴挡块治具20的抵挡面211，而后，工件60受到来自承载平台10上方及下方的光线照射，由于挡块治具20具有可透光结构，进一步地，挡块治具20整体为可透光结构，或者挡块治具20形成抵挡面211的部分均为可透光结构，承载平台10下方的光线透过承载平台10后，进一步穿过挡块治具20向上照射，以使工件60的贴紧边61亮光，而使得工件60的贴紧边61清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边61的尺寸，工件60摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件60，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

本实用新型实施例中又一较佳实施方案的测量装置，应用于投影测量仪100，测量装置包括承载平台10和设于承载平台10的挡块治具20，承载平台10具有可透光结构，挡块治具20具有一抵挡面211；抵挡面211凹设有若干透光凹槽2111，且挡块治具20具有可透光结构。

本实用新型技术方案中测量装置应用于投影测量仪100，测量装置包括承载平台10和设于承载平台10的挡块治具20，挡块治具20具有一抵挡面211，承载平台10为可透光结构，进一步地，承载平台10用于承载工件60，且承载平台10整体为可透光结构，或者承载平台10承载工件60的承载面为可透光结构，测量装置测量工件60时，将工件60放置于承载平台10上，并使工件60的贴紧边61紧贴挡块治具20的抵挡面211，而后，工件60受到来自承载平台10上方及下方的光线照射，由于抵挡面211凹设有若干透光凹槽2111，承载平台10下方的光线透过承载平台10后，进一步通过透光凹槽2111穿过挡块治具20向上照射，以使工件60的贴紧边61亮光，且由于挡块治具20具有可透光结构，进一步地，挡块治具20整体为可透光结构，或者挡块治具20形成抵挡面211的部分均为可透光结构，进一步提升了透光效果，而使得工件60的贴紧边61清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边61的尺寸，工件60摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件60，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

进一步地，一并参照图1和图2，承载平台10包括承载基座11和固定框12，承载基座11的周缘均搭载于固定框12。

本实用新型技术方案中承载平台10包括用于承载被测工件60的承载基座11和用于固定承载基座11的固定框12，通过设置承载基座11的周缘均搭载于固定框12，以使承载基座11的周缘均牢牢固定于固定框12或平稳放置于固定框12，避免放置工件60时承载基座11出现晃动或位移而影响工件60测量结果，其具有更高的稳定性及更高的结构可靠性。

进一步地，一并参照图1至图5，挡块治具20包括固定于固定框12的固定部22，固定部22的端部凸设有一延伸部21，延伸部21与承载基座11相对设置，延伸部21远离固定部22的一端形成抵挡面211。

本实用新型技术方案中固定部22固定于固定框12，以使挡块治具20牢牢固定于固定框12，避免工件60摆正抵接抵挡面211时由于工件60的推力而使得挡块治具20出现位置偏移，进一步保障了测量的精确度，延伸部21远离固定部22的一端形成抵挡面211，测量时将工件60放置于承载基座11上，工件60抵接抵挡面211，延伸部21与承载基座11相对设置，具体地，延伸部21底壁的高度高于固定部22底壁的高度，延伸部21在安装或使用时不直接接触承载基座11，可避免延伸部21安装或使用时刮蹭承载基座11，造成承载基座11留下刮痕。

进一步地，一并参照图1和图2，测量装置还包括若干连接件(未图示)，固定部22开设有若干安装孔221，连接件的一端贯穿安装孔221，并与固定框12连接，另一端抵接于安装孔221的周缘。

本实用新型技术方案中固定部22开设有若干安装孔221，连接件的一端固定于固定部22的外壁，另一端贯穿安装孔221，并与固定框12连接，通过连接件将固定部22牢牢固定连接固定框12，具体地，连接件可为螺丝、螺栓或定位销等连接结构。

进一步地，一并参照图4和图5，抵挡面211凹设有若干透光凹槽2111时，透光凹槽2111的宽度W范围为5-10mm。具体地，透光凹槽2111的宽度W范围为5-10mm时，使得挡块治具20具有较佳的透光效果。可以理解的，本实用新型实施例并不对透光凹槽2111的宽度W进行具体限定，其他数值的透光凹槽2111的宽度W也在本实用新型的保护范围之内。

进一步地，参照图4，透光凹槽2111的深度D范围为5-15mm。具体地，透光凹槽2111的深度D范围为5-15mm时，使得挡块治具20具有较佳的透光效果。可以理解的，本实用新型实施例并不对透光凹槽2111的深度D进行具体限定，其他数值的透光凹槽2111的深度D也在本实用新型的保护范围之内。

进一步地，抵挡面211凹设有若干透光凹槽2111时，透光凹槽2111为“U”形槽、“V”形槽、半圆形槽或梯形槽等。具体地，透光凹槽2111为“U”形槽、“V”形槽、半圆形槽或梯形槽，使得挡块治具20具有较佳的透光效果。可以理解的，本实用新型实施例并不对透光凹槽2111的形状进行具体限定，其他形状的透光凹槽2111也在本实用新型的保护范围之内。

进一步地，参照图4，挡块治具20形成抵挡面211的端部的长度L范围为150-200mm。具体地，挡块治具20形成抵挡面211的端部的长度L范围为150-200mm，使得挡块治具20能够更好地适配不同尺寸大小的工件60。可以理解的，本实用新型实施例并不对挡块治具20形成抵挡面211的端部的长度L进行具体限定，其他数值的长度L也在本实用新型的保护范围之内。

进一步地，参照图5，挡块治具20的厚度H范围为15-20mm。具体地，挡块治具20的厚度H范围为15-20mm，使得挡块治具20能够更好地适配不同尺寸大小的工件60。可以理解的，本实用新型实施例并不对挡块治具20的厚度H进行具体限定，其他数值的厚度H也在本实用新型的保护范围之内。

进一步地，承载基座11的材质为透明玻璃、透明塑料或透明水晶等。具体地，承载基座11的材质为透明玻璃、透明塑料或透明水晶，使得承载基座11具有较佳的透光效果。可以理解的，本实用新型实施例并不对承载基座11的材质进行具体限定，其他材质的承载基座11也在本实用新型的保护范围之内。

可选地，挡块治具20的材质也可为透明玻璃、透明塑料或透明水晶等，在此不再一一赘述。

本实用新型还提出一种投影测量仪100，该投影测量仪100包括测量装置，该测量装置的具体结构参照上述实施例，由于本投影测量仪100采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。其中，投影测量仪100还包括位于承载平台10上方的顶部照明装置40、位于承载平台10下方的底部照明装置50。

具体地，承载平台10包括承载基座11和固定框12，承载基座11的周缘均搭载于固定框12，投影测量仪100包括位于承载基座11上方的顶部照明装置40和位于承载基座11下方的底部照明装置50，测量装置测量工件60时，工件60放置于承载基座11，工件60的贴紧边61抵接抵挡面211，顶部照明装置40和底部照明装置50均朝向工件60照射，且底部照明装置50照射朝向工件60照射时，其光线透过承载基座11后，进一步透过挡块治具20，以使工件60的贴紧边61亮光，而使得工件60的贴紧边61清晰可见，从而能够更加清楚地测量贴紧边61的尺寸，工件60摆放一次即可完成测量，而无需进一步校正工件60，因此提高了测量精度，减少了测量时间，提高了测量效率。

进一步地，投影测量仪100还包括位于承载基座11上方的摄像头，摄像头与承载基座11相对设置。摄像头由后台控制系统控制，后台控制系统通过设定软件程序，以控制摄像头自动成像并测量被测工件60的尺寸。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。