自动翻盖式芯片检测系统的制作方法

文档序号:15221506发布日期:2018-08-21 17:31阅读:305来源:国知局

本实用新型涉及器件测试装置,具体涉及一种自动翻盖式芯片检测系统。



背景技术:

随着人们对信息安全的要求越来越高,传统的数字密码或九宫格密码已不能满足人们对信息安全的要求。生物识别广泛应用于新一代的电子设备,而指纹具有的稳定性和唯一性使得指纹检测识别装置的应用非常广泛。随着指纹识别和移动支付浪潮的到来,电容式指纹芯片迎来了爆发增长,而在对电容式指纹芯片应用的过程中,为了得到良好的图像质量,指纹芯片必须经过测试,以判断指纹芯片是否良好。指纹芯片量产时,考虑到效率问题,需要同时测试整板芯片上的多颗芯片。如何在不影响测试精度的情况下提高测试想效率,成为亟待解决的问题。



技术实现要素:

本实用新型的目的是提供一种自动翻盖式芯片检测系统,该自动翻盖式芯片检测系统通过测试座和测试板之间弹簧的设置,使得测试座在不工作的情况下处在自然舒张状态,测试针可以完全没入测试座和测试板之间,起到保护测试针的作用。

为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种自动翻盖式芯片检测系统,包括底板、转盘座、转盘、若干测试载具和开盖机构,所述转盘座、开盖机构均固定安装于底板上表面,所述转盘可转动的设置于转盘座上方,所述若干测试载具沿周向均匀设置于转盘上表面;

所述测试载具进一步包括PCB板、载板、测试板、测试座和压板,所述压板通过一安装柄与载板活动连接,所述测试座嵌入载板的通孔内,所述测试板安装于载板下表面且位于测试座下方,所述PCB板设置于载板下表面;

所述压板一侧具有一缺口部,一卡扣通过一转轴活动安装于压板的缺口部内且卡扣可绕转轴旋转,所述载板一侧且位于卡扣正下方设置有一与卡扣对应的卡接部,所述卡扣进一步包括卡钩部和按压部,所述卡扣的卡钩部用于与卡接部扣接;

所述测试板和测试座上均开有若干供测试针穿入的通孔,所述测试座下表面或和测试板上表面开有若干个弹簧槽,此弹簧槽内嵌有位于测试板和测试座之间的弹簧;

所述开盖机构由安装板、气缸和活动板组成,所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧,所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接,此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接。

上述技术方案中进一步改进的方案如下:

1. 上述方案中,所述弹簧槽位于测试板的上表面。

2. 上述方案中,所述弹簧槽的数目为4个,分别位于测试座或者测试板的四个拐角处。

3. 上述方案中,所述转轴两端套装有弹簧。

4. 上述方案中,所述转盘为圆盘。

由于上述技术方案的运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点:

1、本实用新型自动翻盖式芯片检测系统,其压板一侧具有一缺口部,一卡扣通过一转轴活动安装于压板的缺口部内且卡扣可绕转轴旋转,所述载板一侧且位于卡扣正下方设置有一与卡扣对应的卡接部,所述卡扣进一步包括卡钩部和按压部,所述卡扣的卡钩部用于与卡接部扣接,压板上卡扣的设置灵活方便,便于待测芯片的取放;其次,其开盖机构由安装板、气缸和活动板组成,所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧,所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接,此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接,开盖机构与测试载具卡扣的按压部设置,可以自动实现对测试载具压板的打开,大大节约了劳动力,提高工作效率。

2、本实用新型自动翻盖式芯片检测系统,其测试板和测试座上均开有若干供测试针穿入的通孔,所述测试座下表面或和测试板上表面开有若干个弹簧槽,此弹簧槽内嵌有位于测试板和测试座之间的弹簧,通过测试座和测试板之间弹簧的设置,使得测试座在不工作的情况下处在自然舒张状态,测试针可以完全没入测试座和测试板之间,起到保护测试针的作用,从而延长夹具的使用周期,节约成本,提高生产效率。

附图说明

附图1为本实用新型自动翻盖式芯片检测系统结构示意图;

附图2为本实用新型自动翻盖式芯片检测系统局部结构示意图;

附图3为本实用新型自动翻盖式芯片检测系统局部分解示意图;

附图4为本实用新型自动翻盖式芯片检测系统的测试载具分解示意图。

以上附图中:1、底板;2、转盘座;3、转盘;4、测试载具;5、开盖机构; 401、PCB板;402、载板;403、测试板;404、测试座;405、压板;407、测试针;408、弹簧槽;409、弹簧;413、缺口部;414、卡扣;415、卡接部;416、卡钩部;417、按压部;418、转轴;501、安装板;502、气缸;503、活动板。

具体实施方式

实施例1:一种自动翻盖式芯片检测系统,包括底板1、转盘座2、转盘3、若干测试载具4和开盖机构5,所述转盘座2、开盖机构5均固定安装于底板1上表面,所述转盘3可转动的设置于转盘座2上方,所述若干测试载具4沿周向均匀设置于转盘3上表面;

所述测试载具4进一步包括PCB板401、载板402、测试板403、测试座404和压板405,所述压板405通过一安装柄与载板402活动连接,所述测试座404嵌入载板402的通孔内,所述测试板403安装于载板402下表面且位于测试座404下方,所述PCB板401设置于载板402下表面;

所述压板405一侧具有一缺口部413,一卡扣414通过一转轴418活动安装于压板405的缺口部413内且卡扣414可绕转轴418旋转,所述载板402一侧且位于卡扣414正下方设置有一与卡扣414对应的卡接部415,所述卡扣414进一步包括卡钩部416和按压部417,所述卡扣414的卡钩部416用于与卡接部415扣接;

所述测试板403和测试座404上均开有若干供测试针407穿入的通孔,所述测试座404下表面或和测试板403上表面开有若干个弹簧槽408,此弹簧槽408内嵌有位于测试板403和测试座404之间的弹簧409;

所述开盖机构5由安装板501、气缸502和活动板503组成,所述气缸502通过所述安装板501安装于底板1上表面且位于转盘3一侧,所述活动板503通过一连接块与气缸502的活塞杆固定连接,此活动板503用于与测试载具4卡扣414的按压部417接触连接。

上述弹簧槽408位于测试板403的上表面;上述转轴418两端套装有弹簧;上述转盘3为圆盘。

实施例2:一种自动翻盖式芯片检测系统,包括底板1、转盘座2、转盘3、若干测试载具4和开盖机构5,所述转盘座2、开盖机构5均固定安装于底板1上表面,所述转盘3可转动的设置于转盘座2上方,所述若干测试载具4沿周向均匀设置于转盘3上表面;

所述测试载具4进一步包括PCB板401、载板402、测试板403、测试座404和压板405,所述压板405通过一安装柄与载板402活动连接,所述测试座404嵌入载板402的通孔内,所述测试板403安装于载板402下表面且位于测试座404下方,所述PCB板401设置于载板402下表面;

所述压板405一侧具有一缺口部413,一卡扣414通过一转轴418活动安装于压板405的缺口部413内且卡扣414可绕转轴418旋转,所述载板402一侧且位于卡扣414正下方设置有一与卡扣414对应的卡接部415,所述卡扣414进一步包括卡钩部416和按压部417,所述卡扣414的卡钩部416用于与卡接部415扣接;

所述测试板403和测试座404上均开有若干供测试针407穿入的通孔,所述测试座404下表面或和测试板403上表面开有若干个弹簧槽408,此弹簧槽408内嵌有位于测试板403和测试座404之间的弹簧409;

所述开盖机构5由安装板501、气缸502和活动板503组成,所述气缸502通过所述安装板501安装于底板1上表面且位于转盘3一侧,所述活动板503通过一连接块与气缸502的活塞杆固定连接,此活动板503用于与测试载具4卡扣414的按压部417接触连接。

上述弹簧槽408的数目为4个,分别位于测试座404或者测试板403的四个拐角处。

采用上述自动翻盖式芯片检测系统时,其盖板上卡扣的设置灵活方便,便于待测芯片的取放;其次,开盖机构与测试载具卡扣的按压部设置,可以自动实现对测试载具压板的打开,大大节约了劳动力,提高工作效率;再次,通过测试座和测试板之间弹簧的设置,使得测试座在不工作的情况下处在自然舒张状态,测试针可以完全没入测试座和测试板之间,起到保护测试针的作用,从而延长夹具的使用周期,节约成本,提高生产效率。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

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