本实用新型涉及一种激光粒度仪的仪器配件，具体的说是一种用于激光粒度仪进行颗粒粒度测试时使用的新型光电探测器。
背景技术：
激光粒度仪在颗粒粒度测试涉及领域发挥着日益重要的作用，其工作原理基于MIE散射理论。光电探测器为核心部件，其作用是将不同散射角的光信号转化为电信号，进而实现颗粒粒度的分析。激光粒度仪光电探测器的结构形貌不仅影响着信号的收集，而且决定着动态测量范围内粒度的划分和测量衍射角的大小，直接影响到整个仪器的测试能力。现有技术中的光电探测器的弧度较大，探测面积较大，较难全面的获取颗粒信息，分辨率较低，如何提高光电探测器的性能，成为激光粒度仪改进的重要指标。
技术实现要素：
为了克服现有技术中存在的缺陷，本实用新型是在现有光电探测器的基础上，提供一种无间隙、高分辨率的激光粒度仪新型光电探测器，光电一致性好，利于信号采集，可全面收集探测角度内的颗粒信息，并细分探测小角度，使得较大颗粒测试分辨率大大提升。
本实用新型的技术方案为：包括多个探测区间及相应的引线，探测器的中心为通光孔，其特征在于：每个探测区间为具有相同弧度的两个同心圆的非相交扇形区域，每个探测区间具有内弧线和外弧线，内弧线到通光孔中心的距离为内半径，外弧线到通光孔中心的距离为外半径，所述多个探测区间的内、外弧线与通光孔居于一系列具有不同半径的同心圆上；多个探测区间的前若干个探测区间以圆形通光孔为中心，奇数环探测区间位于通光孔上侧，偶数环探测区间位于通光孔下侧；后若干个探测区间以通光孔为中心，均位于通光孔及前若干个探测区间左侧。
进一步的，所述多个探测区间的内、外半径及探测面积均呈指数函数分布。
进一步的，所述多个探测区间的扇形弧度不完全相同，且均小于180°。
进一步的，所述前若干个探测区间的相邻两个奇偶探测区间满足：奇数探测区间的外半径与偶数探测区间的内半径相同。
进一步的，所述多个探测区间的个数为38个，其中所述前若干个探测区间为18个，后若干个探测区间为20个。
进一步的，前18个探测区间的弧度不完全相同，第19个-第28个探测区间具有相同的弧度，第29个-第38个探测区间具有相同的弧度。
进一步的，第19个—第28个探测区间的弧度大于第29个—第38个探测区间的弧度。
进一步的，前18个探测区间中的第6-16个探测区间的弧度相同、其余的探测区间的弧度各不相同。
进一步的，第19个-第38个探测区间的相邻探测区间之间有空白区，空白区间距呈递增趋势。
进一步的，每个探测区间的引线数不同。
附图说明
图1为本实用新型提供的一种激光粒度仪新型光电探测器的结构示意图。
图中，1.通光孔，2.探测区间，3.空白区间距，4.第17个探测区间，5.第18个探测区间，6.第19个探测区间，7.第28个探测区间，8.第29个探测区间，9.第38个探测区间。
具体实施方式
如图1所示，为本实用新型提供的新型光电探测器，多个探测区间2及相应的读取光电信号的引线，探测器的中心为圆形通光孔1；每个探测区间为具有相同弧度的两个同心圆的非相交扇形区域，扇形区域具有各自的扇形弧度，且均小于180°，每个探测区间具有内弧线和外弧线，内弧线到通光孔1中心的距离为内半径，外弧线到通光孔1中心的距离为外半径，所述多个探测区间的内、外弧线与通光孔居于一系列具有不同半径的同心圆上；多个探测区间的前若干个探测区间以圆形通光孔1为中心，奇数环探测区间位于通光孔上侧，偶数环探测区间位于通光孔下侧，且相邻两个奇偶探测区间满足：奇数探测区间的外半径与偶数探测区间的内半径相同；后若干个探测区间以通光孔1为中心，均位于通光孔1及前若干个探测区间左侧。
多个探测区间的内半径、外半径及探测面积均呈指数函数递增分布，就是由第一个探测区间开始呈指数函数递增。
作为一种优选的实施方式，所述探测区间的个数为38个，其中前若干个探测区间为18个，后若干个探测区间为20个。
所述38个探测区间的内、外弧线与通光孔居于一系列具有不同半径的同心圆上；前18个探测区间以圆形通光孔1为中心，奇数探测区间位于通光孔上侧，偶数探测区间位于通光孔1下侧，且前18个探测区间相邻的奇偶环满足：奇数探测区间的外半径与相邻的偶数探测区间的内半径相同；后20个探测区间以圆形通光孔1为中心，均位于圆形通光孔1及前18个探测区间左侧。
具体的说，第17个探测区间4的外圆弧到通光孔1中心的距离为外半径，第18个探测区间5的内圆弧到通光孔1中心的距离为内半径，第17个探测区间4的外半径与第18个探测区间5的内半径相同，第1-16个探测区间的奇偶环以此类推。
后20个探测区间以通光孔为中心，均位于通光孔1及前18个探测区间5的左侧，后20个相邻探测区间之间有空白区，空白区间距3也就是相邻两个探测区间间距呈递增趋势，后20个探测区间为图中所示的第19个探测区间6到第38个探测区间9，其空白区间距3递增。
38个探测区间的扇形弧度不完全相同，且均小于180°。
具体的说，前18个探测区间的弧度不完全相同，第19个探测区间6-第28个探测区间7具有相同的弧度，第29个探测区间8-第38个探测区间9具有相同的弧度，第19个探测区间-第28个探测区间的弧度大于第29个探测区间-第38个探测区间的弧度。
前18个探测区间中的第6-16个探测区间的弧度相同、其余的探测区间的弧度各不相同。
这38个探测区间的内、外半径及探测面积都遵循指数函数递增趋势，每个探测区间的引线数不同。
使用时，由于探测弧度的减少及奇偶环无缝轮替，大大减小了探测面积；另外探测器可依次获取颗粒在不同衍射角的信息，较大颗粒信息可由前5个小角度探测区间获取，无缝衔接，由此不仅全面获取颗粒信息，而且提升了较大颗粒分辨率。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。