技术特征：
技术总结
本发明公开了一种兼容性测试装置及方法。所述兼容性测试装置包括：信号接口电路，用于与待测试的时序控制电路连接以及与所述待测试的时序控制电路对应的显示屏连接；测试电路，用于与所述待测试的时序控制电路连接，并用于模拟待与所述待测试的时序控制电路装配的机芯板，以及用于测试所述待测试的时序控制电路与所模拟的所述机芯板的兼容性。本发明能实现对时序控制电路与待与显示面板装配为一体的机芯板的兼容性的测试。
技术研发人员：肖光星
受保护的技术使用者：深圳市华星光电技术有限公司
技术研发日：2018.02.26
技术公布日：2018.08.17