本发明涉及显示技术领域，特别是指一种显示面板亮度均一性测试装置及方法。
背景技术：
在显示技术领域中，显示面板的亮度均一性是衡量显示面板性能优劣的一项非常重要的指标。在显示面板的生产过程中，需要通过亮度均一性测试来确定显示面板的质量好坏。
但是，本发明的发明人在实现本发明的过程中，发现现有技术至少存在以下问题：
现有技术中通常利用常规测试设备在显示面板(panel)上人为移动单一测试镜头寻找要测试点，并通过记录不同点的数据，来比对并确定显示面板的亮度均一性。这样的测试亮度均一性的方法需要人工操作的步骤较多，并对测试人员的经验有一定要求，使用起来较为不便。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明实施例的目的之一在于，提出一种显示面板亮度均一性测试装置及方法，能够较为简便、快捷地完成显示面板亮度均一性测试。
基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提供了一种显示面板亮度均一性测试装置，包括采集单元、开关阵列、转换单元和处理单元；
所述采集单元，包括至少两个采集点，所述采集点通过光传输介质对应连接到所述开关阵列，用于通过所述至少两个采集点采集显示面板上至少两个位置的光学信号，并通过所述光传输介质将所述光学信号传递到所述开关阵列；
所述开关阵列，用于将所述显示面板上至少两个位置的光学信号依次传递到所述转换单元；
所述转换单元，用于将依次接收的所述光学信号依次转换为电学信号并发送给所述处理单元；
所述处理单元，用于根据所述电学信号确定所述显示面板的亮度均一性。
可选的，所述采集点的数量为多个，并以阵列排布的方式布置在所述采集单元中。
可选的，所述采集单元还包括第一联动机构，用于调节所述采集点在第一方向上的间距。
可选的，所述采集单元还包括第二联动机构，用于调节所述采集点在第二方向上的间距。
可选的，所述采集点的数量为9个。
可选的，所述测试装置还包括显示单元，用于显示所述显示面板的亮度均一性信息。
可选的，所述采集点设置有光纤传感镜头，所述光传输介质为光纤。
可选的，所述转换单元为光电传感器。
本发明实施例的第二个方面，提供了一种应用于如前任一项的测试装置的测试方法，包括：
采集单元采集显示面板上至少两个位置的光学信号并传递到开关阵列；
所述开关阵列将所述显示面板上至少两个位置的光学信号依次传递到所述转换单元；
所述转换单元将依次接收的所述光学信号依次转换为电学信号并发送给处理单元；
所述处理单元根据所述电学信号确定所述显示面板的亮度均一性。
可选的，所述测试装置还包括显示单元；所述测试方法还包括：
所述处理单元将所述显示面板的亮度均一性信息发送给所述显示单元；
所述显示单元显示所述显示面板的亮度均一性信息。
可选的，所述方法用于测试有机发光二极管显示面板的亮度均一性。
从上面所述可以看出，本发明实施例提供的显示面板亮度均一性测试装置及方法，通过使用光传输介质作为至少2个待测点对应的采集点所采集的光学信号的传导介质，并通过开关阵列控制每一个待测点对应的光学信号依次逐一传递给转换单元，并通过转换单元将其光学信号转换为电学信号，提供给处理单元处理并确定所述显示面板的亮度均一性，从而可以显示面板亮度均一性的便携、快速测试。
附图说明
图1为本发明提供的显示面板亮度均一性测试装置的一个实施例的结构示意图；
图2为本发明提供的显示面板亮度均一性测试装置实施例中采集单元的一种实施例的结构示意图；
图3为本发明提供的显示面板亮度均一性测试装置的另一个实施例的结构示意图；
图4为本发明提供的显示面板亮度均一性测试方法的一个实施例的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
本发明实施例的第一个方面，提出了一种显示面板亮度均一性测试装置，能够较为简便、快捷地完成显示面板亮度均一性测试。如图1所示，为本发明提供的显示面板亮度均一性测试装置的一个实施例的结构示意图。
所述显示面板亮度均一性测试装置，包括采集单元10、开关阵列20、转换单元30和处理单元40；
所述采集单元10，包括至少两个采集点11(参考图2)，所述采集点11通过光传输介质12对应连接到所述开关阵列20(参考图2)，用于通过所述至少两个采集点11采集显示面板上至少两个位置的光学信号，并通过所述光传输介质12将所述光学信号传递到所述开关阵列20；
所述开关阵列20，用于将所述显示面板上至少两个位置的光学信号依次传递到所述转换单元30；可选的，所述开关阵列20为光学开关阵列；
所述转换单元30，用于将依次接收的所述光学信号依次转换为电学信号并发送给所述处理单元40；可选的，所述转换单元30为光电传感器；
所述处理单元40，用于根据所述电学信号确定所述显示面板的亮度均一性。
从上述实施例可以看出，本发明实施例提供的显示面板亮度均一性测试装置，通过使用光传输介质作为至少2个待测点对应的采集点所采集的光学信号的传导介质，并通过开关阵列控制每一个待测点对应的光学信号依次逐一传递给转换单元，并通过转换单元将其光学信号转换为电学信号，提供给处理单元处理并确定所述显示面板的亮度均一性，从而可以显示面板亮度均一性的便携、快速测试；并且，所述开关阵列控制光学信号的逐一传输，使得仅需一个所述转换单元即可实现光学信号到电学信号的转换(若采用光电传感器实现转换单元，则只需要一个光电传感器即可)，从而简化了装置结构并节省了成本。
可选的，所述采集点11的数量可以为多个，并以阵列排布的方式布置在所述采集单元10中，从而能够检测到显示面板的更多位置处的光学信号，以得出更加准确的亮度均一性结果。例如，可选的，如图2所示，所述采集点11的数量为9个，并以阵列排布的方式布置在所述采集单元10中，从而可以采集显示面板上9个位置处的光学信号，以得出更加准确的亮度均一性结果。需要说明的是，当采集点11的数量为多个时，并不要求采集点11一定以阵列排布的方式布置在采集单元10中，而可以采用其他排布方式实现，因此不应将保护范围局限于此。
可选的，所述采集单元10还包括第一联动机构，用于调节所述采集点11在第一方向上的间距；参见图2，第一按钮13与所述第一联动机构连接，用于控制所述第一联动机构。例如，当顺时针旋转所述第一按钮13时，所述第一联动机构控制所述采集点在x方向上的间距增大，当逆时针旋转所述第一按钮13时，所述第一联动机构控制所述采集点在x方向上的间距减小。所述第一联动机构的具体结构可根据其实现的功能根据机械领域的技术进行实现，在此不再赘述。
并且，可选的，所述采集单元10还包括第二联动机构，用于调节所述采集点11在第二方向上的间距；参见图2，第二按钮14与所述第二联动机构连接，用于控制所述第二联动机构。例如，当顺时针旋转所述第二按钮14时，所述第二联动机构控制所述采集点在y方向上的间距增大，当逆时针旋转所述第二按钮14时，所述第二联动机构控制所述采集点在y方向上的间距减小。所述第二联动机构的具体结构可根据其实现的功能根据机械领域的技术进行实现，在此不再赘述。
可以看出，通过利用所述第一联动机构和/或所述第二联动机构调节所述采集点11在两个方向上的间距，从而使得本发明实施例提供的显示面板亮度均一性测试装置能够适应不同尺寸的显示面板的亮度均一性测试。
可选的，所述采集点11设置有光纤传感镜头，用于采集显示面板在所述采集点11处发出的光线，所述光传输介质12为光纤，用于将采集到的光学信号发送到开关阵列，这样，实现了光学信号的有效传递。可选的，所述开关阵列20也通过光纤与所述转换单元30连接，从而实现开关阵列和转换单元之间的有效传递。
本发明实施例还提出了一种显示面板亮度均一性测试装置的另一个实施例，能够较为简便、快捷地完成显示面板亮度均一性测试。如图3所示，为本发明提供的显示面板亮度均一性测试装置的另一个实施例的结构示意图。
所述显示面板亮度均一性测试装置，包括采集单元10、开关阵列20、转换单元30、处理单元40、显示单元50和供电单元60；
所述采集单元10，包括至少两个采集点11(参考图2)，所述采集点11通过光传输介质12对应连接到所述开关阵列20(参考图2)，用于通过所述至少两个采集点11采集显示面板上至少两个位置的光学信号，并通过所述光传输介质12将所述光学信号传递到所述开关阵列20；
所述开关阵列20，用于将所述显示面板上至少两个位置的光学信号依次传递到所述转换单元30；可选的，所述开关阵列20为光学开关阵列；
所述转换单元30，用于将依次接收的所述光学信号依次转换为电学信号并发送给所述处理单元40；可选的，所述转换单元30为光电传感器；
所述处理单元40，用于根据所述电学信号确定所述显示面板的亮度均一性；可选的，所述处理单元40还可进一步包括计算模块41和信号处理模块42，所述信号处理模块42用于处理转换单元30转换得到的电学信号(例如放大、去噪等)，所述计算模块41用于根据处理后的电学信号计算各采集点11对应位置的显示面板的亮度信息，并确定所述显示面板的亮度均一性；需要说明的是，这里仅仅是示出了处理单元40的一种具体实施例，但并不代表处理单元40必须采用这种方式实现，可以知道，处理单元40的主要功能在于处理信号，因此可以采用一个处理器完成所有工作，而不需要额外分别设置两个完成不同处理功能的模块，因此，不应将保护范围限制在该实施例之上；
所述显示单元50，用于显示所述显示面板的亮度均一性信息或其他必要信息；
所述供电单元60，用于为所述测试装置中的各单元供电。
从上述实施例可以看出，本发明实施例提供的显示面板亮度均一性测试装置，通过使用光传输介质作为至少2个待测点对应的采集点所采集的光学信号的传导介质，并通过开关阵列控制每一个待测点对应的光学信号依次逐一传递给转换单元，并通过转换单元将其光学信号转换为电学信号，提供给处理单元处理并确定所述显示面板的亮度均一性，从而可以显示面板亮度均一性的便携、快速测试；并且，所述开关阵列控制光学信号的逐一传输，使得仅需一个所述转换单元即可实现光学信号到电学信号的转换(若采用光电传感器实现转换单元，则只需要一个光电传感器即可)，从而简化了装置结构并节省了成本。同时，所述显示面板亮度均一性测试装置的结构较为简单，便于制作且能做到便于携带。
可选的，所述采集点11的数量可以为多个，并以阵列排布的方式布置在所述采集单元10中，从而能够检测到显示面板的更多位置处的光学信号，以得出更加准确的亮度均一性结果。例如，可选的，如图2所示，所述采集点11的数量为9个，并以阵列排布的方式布置在所述采集单元10中，从而可以采集显示面板上9个位置处的光学信号，以得出更加准确的亮度均一性结果。需要说明的是，当采集点11的数量为多个时，并不要求采集点11一定以阵列排布的方式布置在采集单元10中，而可以采用其他排布方式实现，因此不应将保护范围局限于此。
可选的，所述采集单元10还包括第一联动机构，用于调节所述采集点11在第一方向上的间距；参见图2，第一按钮13与所述第一联动机构连接，用于控制所述第一联动机构。例如，当顺时针旋转所述第一按钮13时，所述第一联动机构控制所述采集点在x方向上的间距增大，当逆时针旋转所述第一按钮13时，所述第一联动机构控制所述采集点在x方向上的间距减小。所述第一联动机构的具体结构可根据其实现的功能根据机械领域的技术进行实现，在此不再赘述。
并且，可选的，所述采集单元10还包括第二联动机构，用于调节所述采集点11在第二方向上的间距；参见图2，第二按钮14与所述第二联动机构连接，用于控制所述第二联动机构。例如，当顺时针旋转所述第二按钮14时，所述第二联动机构控制所述采集点在y方向上的间距增大，当逆时针旋转所述第二按钮14时，所述第二联动机构控制所述采集点在y方向上的间距减小。所述第二联动机构的具体结构可根据其实现的功能根据机械领域的技术进行实现，在此不再赘述。
可以看出，通过利用所述第一联动机构和/或所述第二联动机构调节所述采集点11在两个方向上的间距，从而使得本发明实施例提供的显示面板亮度均一性测试装置能够适应不同尺寸的显示面板的亮度均一性测试。
可选的，所述采集点11设置有光纤传感镜头，用于采集显示面板在所述采集点11处发出的光线，所述光传输介质12为光纤，用于将采集到的光学信号发送到开关阵列，这样，实现了光学信号的有效传递。可选的，所述开关阵列20也通过光纤与所述转换单元30连接，从而实现开关阵列和转换单元之间的有效传递。
需要说明的是，本发明实施例中的显示面板可以为：电子纸、手机、平板电脑、电视机、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
本发明实施例的第二个方面，提出了一种显示面板亮度均一性测试方法，能够较为简便、快捷地完成显示面板亮度均一性测试。如图4所示，为本发明提供的显示面板亮度均一性测试方法的一个实施例的流程示意图。
一种应用于所述显示面板亮度均一性测试装置的任一实施例的测试方法，包括：
步骤71：所述采集单元10采集显示面板上至少两个位置的光学信号并传递到开关阵列20；
步骤72：所述开关阵列20将所述显示面板上至少两个位置的光学信号依次传递到所述转换单元30；
步骤73：所述转换单元30将依次接收的所述光学信号依次转换为电学信号并发送给处理单元40；
步骤74：所述处理单元40根据所述电学信号确定所述显示面板的亮度均一性。
从上述实施例可以看出，本发明实施例提供的显示面板亮度均一性测试方法，通过采集点采集待测点的光学信号，并使用光传输介质作为至少2个待测点对应的采集点所采集的光学信号的传导介质，再通过开关阵列控制每一个待测点对应的光学信号依次逐一传递给转换单元，并通过转换单元将其光学信号转换为电学信号，提供给处理单元处理并确定所述显示面板的亮度均一性，从而可以显示面板亮度均一性的便携、快速测试。
可选的，继续参照图4，所述测试装置还包括显示单元50；所述测试方法还包括：
步骤75：所述处理单元40将所述显示面板的亮度均一性信息发送给所述显示单元50；
步骤76：所述显示单元40显示所述显示面板的亮度均一性信息。
通过上述实施例，使得待测显示面板的亮度均一性信息可以通过显示单元50显示出来，以便检测人员及时发现待测显示面板的问题。
可选的，所述显示面板亮度均一性测试方法，可用于测试有机发光二极管显示面板(amoledpanel)的亮度均一性。
所属领域的普通技术人员应当理解：以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。