智能功率模块的功率循环测试方法、装置与流程

文档序号:17182461发布日期:2019-03-22 21:01阅读:253来源:国知局
智能功率模块的功率循环测试方法、装置与流程

本申请涉及智能功率模块技术领域,特别涉及一种智能功率模块的功率循环测试方法和一种智能功率模块的功率循环测试装置。



背景技术:

功率循环加速老化实验是通过导通或高频通断给开关器件施加功率,产生热损耗,使开关器件的温度产生较大的周期性波动,形成热冲击,产生热电应力,从而加速老化进程。其目的是在较短的时间内了解智能功率模块的老化和失效机理的关系,发现开关器件封装的薄弱环节,有利于厂商从材料和结构层面进行改进和优化,同时,可以用于描述智能功率模块的寿命特性,根据不同的温度变化和失效时间进行寿命预测,并且还可以对开关器件潜在失效机理建立模型,从而实现可靠性评估。

相关技术中,应用于智能功率模块的功率循环加速老化方法为直流功率循环加速老化方法,即,给智能功率模块内被测开关器件提供恒定栅极信号,通过切换被测开关器件的开关状态,给被测开关器件周期性提供指定的加热电流和毫安级的测试小电流。然而,通过上述方式并无法准确地模拟出智能功率模块的实际工作状况。



技术实现要素:

本申请实施例通过提供一种智能功率模块的功率循环测试方法、装置,解决了现有技术中通过直流功率循环老化试验方法无法准确地模拟出智能功率模块的实际工作状况的问题,通过交流功率循环老化试验方法,能够准确有效地模拟出智能功率模块的实际工作状况。

为了实现上述目的,本申请实施例提供了一种智能功率模块的功率循环测试方法,所述智能功率模块包括恒流源和并联在所述恒流源两端的多个桥,被测开关器件所在桥与另一桥之间通过电感连接,所述被测开关器件所在桥的第一端与所述另一桥的第一端通过第一开关连接,所述功率循环测试方法包括:控制所述被测开关器件所在桥和所述另一桥中的开关器件处于交替开关状态,以使流经所述被测开关器件的电流为正弦电流信号;当所述被测开关器件的结温等于第一设定温度时,断开所述第一开关;对所述被测开关器件进行降温处理,当所述被测开关器件的结温等于第二设定温度时,闭合所述第一开关,并返回执行所述控制所述被测开关器件所在桥和所述另一桥中的开关器件处于交替开关状态步骤。

另外,根据本申请上述实施例的智能功率模块的功率循环测试方法还可以具有如下附加的技术特征:

根据本申请的一个实施例,所述对所述被测开关器件进行降温处理,当所述被测开关器件的结温等于第二设定温度时,闭合所述第一开关,包括:通过恒温冷板对所述被测开关器件进行降温处理,所述恒温冷板的温度维持在所述第二设定温度;当降温时间等于第一设定时间时,判断出所述被测开关器件的结温等于所述第二设定温度,闭合所述第一开关。

根据本申请的一个实施例,还包括:通过埋设在所述被测开关器件周围的热电偶,获取所述被测开关器件的结温。

根据本申请的一个实施例,还包括:获取所述被测开关器件导通时的集射极导通压降;若所述集射极导通压降与所述被测开关器件的初始集射极导通压降的比值等于或者大于设定比值阈值,则判断出所述被测开关器件所在的智能功率模块开始老化。

根据本申请的一个实施例,所述电感的一端与所述恒流源的一端通过第二开关连接,所述获取所述被测开关器件导通时的集射极导通压降,包括:在所述被测开关器件的结温等于所述第二设定温度,且闭合所述第一开关之前,控制所述被测开关器件导通,闭合所述第二开关,经第二设定时间后,断开所述第二开关,获取导通时间内所述被测开关器件的所述集射极导通压降。

为了实现上述目的,本申请实施例提供了一种智能功率模块的功率循环测试电路,包括:智能功率模块,所述智能功率模块包括恒流源和并联在所述恒流源两端的多个桥,被测开关器件所在桥与另一桥之间通过电感连接,所述被测开关器件所在桥的第一端与所述另一桥的第一端通过第一开关连接;控制器,用于控制所述被测开关器件所在桥和所述另一桥中的开关器件处于交替开关状态,以使流经所述被测开关器件的电流为正弦电流信号;当所述被测开关器件的结温等于第一设定温度时,断开所述第一开关;对所述被测开关器件进行降温处理,当所述被测开关器件的结温等于第二设定温度时,闭合所述第一开关,并返回执行所述控制所述被测开关器件所在桥和所述另一桥中的开关器件处于交替开关状态步骤。

另外,根据本申请上述实施例的智能功率模块的功率循环测试电路还可以具有如下附加的技术特征:

根据本申请的一个实施例,还包括:恒温冷板,所述恒温冷板的温度维持在所述第二设定温度,用于在所述控制器的控制下对所述被测开关器件进行降温处理;所述控制器具体用于:当降温时间等于第一设定时间时,判断出所述被测开关器件的结温等于所述第二设定温度,闭合所述第一开关。根据本申请的一个实施例,还包括:热电偶,所述热电偶埋设在所述被测开关器件周围,用于获取所述被测开关器件的结温,并输出至所述控制器。

根据本申请的一个实施例,所述控制器还用于:获取所述被测开关器件导通时的集射极导通压降;若所述集射极导通压降与所述被测开关器件的初始集射极导通压降的比值等于或者大于设定比值阈值,则判断出所述被测开关器件所在的智能功率模块开始老化。

根据本申请的一个实施例,所述电感的一端与所述恒流源的一端通过第二开关连接;所述控制器具体用于:在所述被测开关器件的结温等于所述第二设定温度,且闭合所述第一开关之前,控制所述被测开关器件导通,闭合所述第二开关,经第二设定时间后,断开所述第二开关,获取导通时间内所述被测开关器件的所述集射极导通压降。

为实现上述目的,本申请实施例提供了一种电器,包括上述的智能功率模块的功率循环测试电路。

为实现上述目的,本申请实施例提供了一种非临时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时,实现上述的智能功率模块的功率循环测试方法。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:

1、通过交流功率循环老化试验方法能够准确地模拟出智能功率的实际工作状况。

2、通过定期测量被测开关器件导通时的集射极导通压降,能够准确地判断出智能功率模块是否发生老化,并且判断方式简单高效。

3、能够确保在相同结温和集电极电流的条件下测量被测开关器件的集射极导通压降,充分考虑了结温和集电极电流对被测开关器件的集射极导通压降的影响,从而确保集射极导通压降作为智能功率模块老化判断的标准的准确性。

附图说明

图1是根据本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试方法的流程图;

图2是根据本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试电路的结构示意图;

图3是根据本申请一个实施例的正弦电流信号的每个周期内被测开关器件的结温的变化曲线图;

图4是根据本申请一个实施例的恒温冷板和热电偶的结构示意图;

图5是根据本申请一个实施例的判断智能功率模块是否开始老化的方法的流程图;

图6是根据本申请一个实施例的被测开关器件导通时的集射极导通压降的波形示意图。

具体实施方式

本申请通过给被测开关器件周期性提供正弦电流信号,并对被测开关器件的结温进行相应的控制,以实现智能功率模块的交流功率循环,从而能够准确有效地模拟出智能功率模块的实际工作状况。

为了更好的理解上述技术方案,下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

下面参考附图来描述根据本申请实施例提出的智能功率模块的功率循环测试方法、智能功率模块的功率循环测试装置、电子设备和非临时性计算机可读存储介质。

图1是根据本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试方法的流程图。

需要说明的是,如图2所示,本申请实施例的智能功率模块100可包括恒流源110和并联在恒流源110两端的多个桥120(图2中仅示出两个桥,即桥121和桥122),被测开关器件lu所在桥121与另一桥122之间通过电感l连接,被测开关器件lu所在桥121的第一端与另一桥122的第一端通过第一开关k1连接。其中,被测开关器件lu可为igbt(insulatedgatebipolartransistor,绝缘栅双极型晶体管)。

具体地,以图2中并联在恒流源110两端的多个桥为两个桥为例,其中,一个桥121可包括并联的被测开关器件lu和第一二极管d1,以及并联的第一开关器件hu和第二二极管d2;另一桥122可包括并联的第二开关器件lw和第三二极管d3,以及并联的第三开关器件hw和第四二极管d4。第一二极管d1和第二二极管d2的节点与第三二极管d3和第四二极管d4的节点通过电感l连接,第一开关器件hu的一端和第三开关管hw的一端通过第一开关k1连接。

其中,可通过控制器200输出第一控制信号(如,pwm控制信号1)至被测开关器件lu和第一开关器件hu的驱动端1,以分别控制被测开关器件lu和第一开关器件hu的开关状态,并输出第二控制信号(如,pwm控制信号2)至第二开关器件lw和第三开关器件hw的驱动端2,以分别控制第二开关器件lw和第三开关器件hw的开关状态。

需要说明的是,并联在恒流源110两端的多个桥120也可大于两个,其连接方式与上述实施例中的两个桥的连接方式类似,在此不再详述。

如图1所示,本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试方法可包括以下步骤:

s1,控制被测开关器件所在桥和另一桥中的开关器件处于交替开关状态,以使流经被测开关器件的电流为正弦电流信号。

具体而言,通过控制器输出相应的pwm控制信号,可控制各个桥上的开关器件处于交替开关状态(开关频率可为几千赫兹),从而可将恒流源输出的恒定的大电流转换成正弦电流信号,其中,该正弦电流信号的频率可为几十赫兹到几百赫兹之间。

举例而言,如图2所示,通过控制器输出第一控制信号以控制被测开关器件lu处于导通状态,并控制第一开关器件hu处于关断状态,同时,通过控制器输出第二控制信号以控制第二开关器件lw处于关断状态,并控制第三开关器件hw处于导通状态;或者,通过控制器输出第一控制信号以控制被测开关器件lu处于关断状态,并控制第一开关器件hu处于导通状态,同时,通过控制器输出第二控制信号以控制第二开关器件lw处于导通状态,并控制第三开关器件hw处于关断状态,从而,可将恒流源输出的恒定的大电流转换成正弦电流信号,其中,该正弦电流信号的波形图可如图3所示。

s2,当被测开关器件的结温等于第一设定温度时,断开第一开关。

如图3所示,在通过控制器控制被测开关器件所在桥和另一桥中的开关器件处于交替开关状态的过程中,被测开关器件的结温处于持续上升状态。当被测开关器件的结温上升到第一设定温度(例如,tjmax)时,控制第一开关断开,即关断恒流源的输出,使得开关器件的结温维持在第一预设温度。其中,第一设定温度可根据实际情况进行标定。

s3,对被测开关器件进行降温处理,当被测开关器件的结温等于第二设定温度时,闭合第一开关,并返回执行控制被测开关器件所在桥和另一桥中的开关器件处于交替开关状态步骤。

为了能够有效地对被测开关器件进行降温处理,本申请提出了一种对被测开关器件进行降温处理的方法,即,对被测开关器件进行降温处理,当被测开关器件的结温等于第二设定温度时,闭合第一开关,可包括:通过恒温冷板对被测开关器件进行降温处理,恒温冷板的温度维持在第二设定温度;当降温时间等于第一设定时间时,判断出被测开关器件的结温等于第二设定温度,闭合第一开关。

也就是说,可通过恒温冷板对被测开关器件进行降温处理,以将被测开关器件的结温降低至第二设定温度(例如,tref)。具体地,如图4所示,将智能功率模块中的被测开关器件与恒温冷板接触,并将恒温冷板的温度设置为一个低于被测开关器件的当前结温的温度,即将恒温冷板的温度维持在第二设定温度,以使被测开关器件与恒温冷板进行热交换,从而对被测开关器件进行降温处理,并根据降温时间判断是否将被测开关器件的结温降低至第二设定温度,如果降温时间等于第一设定时间,则可判断出被测开关器件的结温等于第二设定温度,此时,可控制第一开关闭合,并通过控制器再次控制被测开关器件所在桥和另一桥中的开关器件处于交替开关状态,以使流经被测开关器件的电流为正弦电流信号。

具体而言,目前应用于智能功率模块的功率循环加速老化试验的方法为直流功率循环加速老化试验方法,其特点是电流简单,较容易测量智能功率模块老失效的特征参量,容易控制。但是,在实际运行中,智能功率模块工作在高频开关状态,智能功率模块内的开关器件存在开关损耗,通过开关器件的电流是变化,而且还有反并联二极管的损耗,而在直流功率循环加速老化试验方法中,智能功率模块中的开关器件只有导通损耗,因此,通过直流功率循环加速老化试验方法无法准确有效地模拟出智能功率模块的实际工作状况。

因此,本申请实施例中,给被测开关器件周期性提供正弦电流信号,并对被测开关器件的结温进行相应的控制,以使被测开关器件的结温处于预设的范围内,以实现智能功率模块的交流功率循环,从而能够准确地模拟出智能功率的实际工作状况。

需要说明的是,为了确保在每个循环周期内,被测开关器件的最大结温能够维持在第一设定温度(例如,tjmax),并且被测开关器件的最小结温能够维持在第二设定温度(例如,tref),本申请的一个实施例提出了一种对被测开关器件进行恒结温差控制的方法。具体地,在控制被测开关器件所在桥和另一桥中的开关器件处于交替开关状态,以使流经被测开关器件的电流为正弦电流信号的过程中,可通过控制器根据上一周期获取到的被测开关器件的最大结温,动态地调整第一开关的关断时间,以使被测开关器件的最大结温能够维持在第一设定温度,并且在通过恒温冷板对被测开关器件进行降温处理的过程中,可根据实际情况设置恒温冷板对被测开关器件进行降温处理的持续时间,以确保被测开关器件的结温能够降低至第二设定温度,由此,能够确保被测开关器件在功率循环周期内,维持在恒结温差模式(即,被测开关器件的最大结温维持在第一设定温度,最小结温能够维持在第二设定温度)。

根据本申请的一个实施例,功率循环测试方法还可包括:通过埋设在被测开关器件周围的热电偶,获取被测开关器件的结温。

作为一种可能的实施方式,如图4所示,可采用埋设热电偶的方式测试被测开关器件的结温。具体地,在智能功率模块的交流功率循环的过程中,当通过控制器控制第一开关关断,以关断恒流源输出时,在关断的瞬间,通过热电偶测试此时被测开关器件的结温。

为了能够更加准确有效地判断出被测开关器件所在的智能功率模块是否开始老化,本申请的一个实施例中提出了一种判断智能功率模块是否开始老化的方法,如图5所示,该方法可包括以下步骤:

s501,获取被测开关器件导通时的集射极导通压降。

根据本申请的一个实施例,如图2所示,电感的一端与恒流源的一端通过第二开关连接,获取被测开关器件导通时的集射极导通压降,可包括:在被测开关器件的结温等于第二设定温度,且闭合第一开关之前,控制被测开关器件导通,闭合第二开关,经第二设定时间后,断开第二开关,获取导通时间内被测开关器件的集射极导通压降。

具体而言,如图6所示,假设被测开关器件进行了n次功率循环,在开始第n+1次功率循环之前,预留足够时间使被测开关器件被测开关器件与恒温冷板进行热交换并达到平衡,此时,被测开关器件逐渐下降至第二设定温度。在此过程中,可通过控制器输出恒压脉冲使被测开关器件导通,同时控制第二开关闭合,恒流源输出的电流流过被测开关器件,经过第二设定时间(例如,xms)后,通过控制器控制第二开关断开,并测量导通时间内被测开关器件的集射极导通压降vce。由于被测开关器件通过大电流的时间为ms级的,产生的热量有限,因此可以认为被测开关器件的结温维持在第二设定温度附近,并且通过被测开关器件的电流恒定,因此,可以确保在相同结温和集电极电流的条件下,测量被测开关器件的集射极导通压降vce。

s502,若集射极导通压降与被测开关器件的初始集射极导通压降的比值等于或者大于设定比值阈值,则判断出被测开关器件所在的智能功率模块开始老化。

具体而言,在实际应用中,被测开关器件导通时的集射极导通压降的测量相对于其他的衡量智能功率模块老化的老化失效的特征参量来说更加容易,但是,被测开关器件导通时的集射极导通压降受结温和集电极电流的影响较大。

因此,本发明上述实施例中,提出了一种在相同结温和集电极电流的条件下测量被测开关器件的集射极导通压降的方法,并将测量到的集射极导通压降与被测开关器件的初始集射极导通压降(即,在被测开关器件进行了1次功率循环时所测量到的集射极导通压降)进行对比,以判断被测开关器件所在的智能功率模块是否开始老化。如果集射极导通压降与被测开关器件的初始集射极导通压降的比值等于或者大于设定比值阈值(例如,1.05),则说明集射极导通压降与被测开关器件的初始集射极导通压降的偏差较大,被测开关器件所在的智能功率模块开始老化。

由此,在整个功率循环老化测试实验中,定期测量被测开关器件的集射极导通压降,并将测量值与功率循环初期的集射极导通压降进行比对,以判断智能功率模块是否开始老化,充分考虑了结温和集电极电流对被测开关器件的集射极导通压降的影响,从而能够准确地判断出智能功率模块是否开始老化,并且判断方式简单高效。

综上所述,根据本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试方法,控制所述被测开关器件所在桥和所述另一桥中的开关器件处于交替开关状态,以使流经所述被测开关器件的电流为正弦电流信号,以及在被测开关器件的结温等于第一设定温度时,断开所述第一开关,并对被测开关器件进行降温处理,以及在被测开关器件的结温等于第二设定温度时,闭合所述第一开关,并返回执行所述控制所述被测开关器件所在桥和所述另一桥中的开关器件处于交替开关状态步骤。由此,通过给被测开关器件周期性提供正弦电流信号,并对被测开关器件的结温进行相应的控制,以实现智能功率模块的交流功率循环,从而能够准确有效地模拟出智能功率模块的实际工作状况。下面结合图2来详细描述本发明实施例的智能功率模块的功率循环测试电路。

如图2所示,本发明实施例的智能功率模块的功率循环测试电路可包括智能功率模块100和控制器200。

其中,智能功率模块100可包括恒流源110和并联在恒流源110两端的多个桥120(图2中仅示出两个桥,即桥121和桥122),被测开关器件lu所在桥121与另一桥122之间通过电感l连接,被测开关器件lu所在桥121的第一端与另一桥122的第一端通过第一开关k1连接。其中,被测开关器件lu可为igbt(insulatedgatebipolartransistor,绝缘栅双极型晶体管)。

具体地,以图2中并联在恒流源110两端的多个桥为两个桥为例,其中,一个桥121可包括并联的被测开关器件lu和第一二极管d1,以及并联的第一开关器件hu和第二二极管d2;另一桥122可包括并联的第二开关器件lw和第三二极管d3,以及并联的第三开关器件hw和第四二极管d4。第一二极管d1和第二二极管d2的节点与第三二极管d3和第四二极管d4的节点通过电感l连接,第一开关器件hu的一端和第三开关管hw的一端通过第一开关k1连接。

控制器200用于控制被测开关器件lu所在桥121和另一桥122中的开关器件处于交替开关状态,以使流经被测开关器件的电流为正弦电流信号。具体地,控制器200输出第一控制信号(如,pwm控制信号1)至被测开关器件lu和第一开关器件hu的驱动端1,以分别控制被测开关器件lu和第一开关器件hu的开关状态,并输出第二控制信号(如,pwm控制信号2)至第二开关器件lw和第三开关器件hw的驱动端2,以分别控制第二开关器件lw和第三开关器件hw的开关状态。

进一步地,控制器200还用于,当被测开关器件lu的结温等于第一设定温度时,断开第一开关k1;对被测开关器件lu进行降温处理,当被测开关器件lu的结温等于第二设定温度时,闭合第一开关k1,并返回执行控制被测开关器件k1所在桥121和另一桥122中的开关器件处于交替开关状态步骤。

需要说明的是,并联在恒流源110两端的多个桥120也可大于两个,其连接方式与上述实施例中的两个桥的连接方式类似,在此不再详述。

根据本申请的一个实施例,智能功率模块的功率循环测试电还可包括恒温冷板(图2中未示出),恒温冷板的温度维持在第二设定温度,用于在控制器200的控制下对被测开关器件进行降温处理;控制器200具体用于:当降温时间等于第一设定时间时,判断出被测开关器件lu的结温等于第二设定温度,闭合第一开关k1。

根据本申请的一个实施例,智能功率模块的功率循环测试电还可包括热电偶(图2中未示出),热电偶埋设在被测开关器件lu周围,用于获取被测开关器件lu的结温,并输出至控制器200。

根据本申请的一个实施例,控制器200还用于:获取被测开关器件lu导通时的集射极导通压降;若集射极导通压降与被测开关器件lu的初始集射极导通压降的比值等于或者大于设定比值阈值,则判断出被测开关器件lu所在的智能功率模块100开始老化。

根据本申请的一个实施例,如图2所示,电感l的一端与恒流源110的一端通过第二开关k2连接;控制器200具体用于:在被测开关器件lu的结温等于第二设定温度,且闭合第一开关k1之前,控制被测开关器件lu导通,闭合第二开关k2,经第二设定时间后,断开第二开关k2,获取导通时间内被测开关器件lu的集射极导通压降。需要说明的是,本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试装置中未披露的细节,请参见本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试方法中所披露的细节,具体这里不再详述。

根据本申请实施例的智能功率模块的功率循环测试装置,通过控制模块控制被测开关器件所在桥和另一桥中的开关器件处于交替开关状态,以使流经被测开关器件的电流为正弦电流信号,以及在被测开关器件的结温等于第一设定温度时,断开第一开关,并对被测开关器件进行降温处理,以及在被测开关器件的结温等于第二预设温度时,闭合第一开关,并返回执行控制被测开关器件所在桥和另一桥中的开关器件处于交替开关状态步骤。由此,通过给被测开关器件周期性提供正弦电流信号,并对被测开关器件的结温进行相应的控制,以实现智能功率模块的交流功率循环,从而能够准确有效地模拟出智能功率模块的实际工作状况。

另外,本申请的实施例还提出了一种电器,包括前述的智能功率模块的功率循环测试电路。

在本申请的实施例中,上述电器可以为空调、洗衣机、冰箱、电磁炉等,并且其中的智能功率模块的功率循环测试电路可以实现前述部分中描述的智能功率模块的功率循环测试电路具有的功能。

根据本申请实施例的电器,通过上述的智能功率模块的功率循环测试电路,通过给被测开关器件周期性提供正弦电流信号,并对被测开关器件的结温进行相应的控制,以实现智能功率模块的交流功率循环,从而能够准确有效地模拟出智能功率模块的实际工作状况。

此外,本申请的实施例还提出了一种非临时性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时,实现上述的智能功率模块的功率循环测试方法。

根据本申请实施例的非临时性计算机可读存储介质,通过执行上述的智能功率模块的功率循环测试方法,通过给被测开关器件周期性提供正弦电流信号,并对被测开关器件的结温进行相应的控制,以实现智能功率模块的交流功率循环,从而能够准确有效地模拟出智能功率模块的实际工作状况。

本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

应当注意的是,在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本申请可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

尽管已描述了本申请的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

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